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Volumn 71, Issue 26, 1997, Pages 3844-3846

H-complexed oxygen vacancy in SiO2: Energy level of a negatively charged state

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EID: 0000661685     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.120521     Document Type: Article
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References (22)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.