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Volumn 16, Issue 4, 1998, Pages 2342-2349

In situ determination of in-plane strain anisotropy in ZnSe(001 )/GaAs layers using reflectance difference spectroscopy

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EID: 0000604557     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.590172     Document Type: Article
Times cited : (11)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.