-
1
-
-
0033279704
-
-
R. A. Roy, C. Cabral, Jr., and C. Lavoie, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 564, 35 (1999).
-
(1999)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.564
, pp. 35
-
-
Roy, R.A.1
Cabral Jr., C.2
Lavoie, C.3
-
2
-
-
0028436587
-
-
G. E. Georgiou, H. Abiko, F. A. Baiocchi, N. T. Ha. and S. Nakahara. J. Electrochem. Soc., 141, 1351 (1994).
-
(1994)
J. Electrochem. Soc.
, vol.141
, pp. 1351
-
-
Georgiou, G.E.1
Abiko, H.2
Baiocchi, F.A.3
Ha, N.T.4
Nakahara, S.5
-
3
-
-
36449000435
-
-
T. P. Nolan, R. Sinclair, and R. Beyers, J. Appl Phys., 71, 720 (1992).
-
(1992)
J. Appl Phys.
, vol.71
, pp. 720
-
-
Nolan, T.P.1
Sinclair, R.2
Beyers, R.3
-
4
-
-
0023314384
-
-
K. Muex, R. F. deKeersmaecker, M. van Rossum, W. F. vun der Weg, and G. Krooshot, Le Videles Couches Minces, 42, 141 (1987).
-
(1987)
Le Videles Couches Minces
, vol.42
, pp. 141
-
-
Muex, K.1
Dekeersmaecker, R.F.2
Van Rossum, M.3
Vun der Weg, W.F.4
Krooshot, G.5
-
5
-
-
0001343320
-
-
H. Kuwano, J. R. Phillips, and J. W. Mayer, Appl. Phys. Lett., 56, 440 (1990).
-
(1990)
Appl. Phys. Lett.
, vol.56
, pp. 440
-
-
Kuwano, H.1
Phillips, J.R.2
Mayer, J.W.3
-
6
-
-
36448998909
-
-
R. W. Mann. G. L. Miles, T. A. Knotts, D. W. Rakowski, L. A. Clevenger, J. M. E. Harper, F. M. d'Heurle, and C. Cabral, Jr., Appl., Phys. Lett., 67, 3729 (1995).
-
(1995)
Appl., Phys. Lett.
, vol.67
, pp. 3729
-
-
Mann, R.W.1
Miles, G.L.2
Knotts, T.A.3
Rakowski, D.W.4
Clevenger, L.A.5
Harper, J.M.E.6
D'Heurle, F.M.7
Cabral Jr., C.8
-
7
-
-
0001479382
-
-
C. Cabral, Jr., L. A. Clevenger, J. M. E. Harper, F. M. d'Heurle, R. A. Roy, C. Lavoie, and K. L. Saenger, Appl. Phys. Lett., 71, 3531 (1997).
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.71
, pp. 3531
-
-
Cabral Jr., C.1
Clevenger, L.A.2
Harper, J.M.E.3
D'Heurle, F.M.4
Roy, R.A.5
Lavoie, C.6
Saenger, K.L.7
-
8
-
-
0000065299
-
-
A. Mouroux, S.-L. Zhang, W. Kaplan, S. Nygren, M. Östling, and C. S. Petersson, Appl. Phys. Lett., 69, 975 (1996).
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.69
, pp. 975
-
-
Mouroux, A.1
Zhang, S.-L.2
Kaplan, W.3
Nygren, S.4
Östling, M.5
Petersson, C.S.6
-
9
-
-
0001764970
-
-
S. Y. Chen, Z. X. Shen, K. Li, A. K. See, and L. H. Chan, Appl. Phys. Lett., 77, 4395 (2000).
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.77
, pp. 4395
-
-
Chen, S.Y.1
Shen, Z.X.2
Li, K.3
See, A.K.4
Chan, L.H.5
-
10
-
-
1542421608
-
-
Standard JCPD diffraction pattern 38-0483 [hexagonal TaSi], JCPDS International Center for Diffraction Data, PDF-2 Database, Newton Square, PA
-
Standard JCPD diffraction pattern 38-0483 [hexagonal TaSi], JCPDS International Center for Diffraction Data, PDF-2 Database, Newton Square, PA.
-
-
-
-
11
-
-
0001065810
-
-
L. H. Allen, G. Ramanath, S. L. Lai, Z. Ma, S. Lee, D. D. J. Allman, and K. P. Fuchs, Appl. Phys. Lett., 64, 417 (1994).
-
(1994)
Appl. Phys. Lett.
, vol.64
, pp. 417
-
-
Allen, L.H.1
Ramanath, G.2
Lai, S.L.3
Ma, Z.4
Lee, S.5
Allman, D.D.J.6
Fuchs, K.P.7
-
12
-
-
36449002216
-
-
L. A. Clevenger, J. M. E. Harper, C. Cabral, Jr., C. Nobili, G. Ottaviani, and R. Mann, J. Appl. Phys., 72, 4978 (1993).
-
(1993)
J. Appl. Phys.
, vol.72
, pp. 4978
-
-
Clevenger, L.A.1
Harper, J.M.E.2
Cabral Jr., C.3
Nobili, C.4
Ottaviani, G.5
Mann, R.6
-
13
-
-
0342399753
-
-
A. Mouroux, S.-L. Zhang, und C. S. Petersson, Phys. Rev. B, 56, 10614 (1997).
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.56
, pp. 10614
-
-
Mouroux, A.1
Zhang, S.-L.2
Petersson, C.S.3
-
14
-
-
0001004514
-
-
A. Mouroux, T. Epicier, S.-L. Zhang, and P. Pinard, Phys. Rev. B, 60, 9165 (1999).
-
(1999)
Phys. Rev. B
, vol.60
, pp. 9165
-
-
Mouroux, A.1
Epicier, T.2
Zhang, S.-L.3
Pinard, P.4
-
15
-
-
0000533251
-
-
F. Bonoli, M. Iannuzzi, L. Migilo, and V. Meregalli, Appl. Phys. Lett., 73, 1964 (1998).
-
(1998)
Appl. Phys. Lett.
, vol.73
, pp. 1964
-
-
Bonoli, F.1
Iannuzzi, M.2
Migilo, L.3
Meregalli, V.4
|