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Volumn 3, Issue 3, 2016, Pages 248-255

Structural engineering of gold thin films with channel cracks for ultrasensitive strain sensing

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EID: 84967000222     PISSN: None     EISSN: 20516355     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/c6mh00027d     Document Type: Article
Times cited : (271)

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    • D. Kim Science 2011 333 1703
    • (2011) Science , vol.333 , pp. 1703
    • Kim, D.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.