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Volumn 349, Issue 6249, 2015, Pages 711-716

Universal linear optics

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INTERFEROMETRY; LINEARITY; MEASUREMENT METHOD; OPTICAL PROPERTY; QUANTUM MECHANICS; TECHNOLOGICAL CHANGE;

EID: 84940182447     PISSN: 00368075     EISSN: 10959203     Source Type: Journal    
DOI: 10.1126/science.aab3642     Document Type: Article
Times cited : (1284)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.