Large magnetoresistance and electrostatic control of magnetism in ordered mesoporous La1-xCaxMnO3 thin films

Chemistry of Materials

Volumn 26, Issue 19, 2014, Pages 5745-5751

  Reitz, Christian ^a   Leufke, Philipp M ^a   Schneider, Reinhard ^b   Hahn, Horst ^a,c   Brezesinski, Torsten ^a  

^a KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

^c HELMHOLTZ INSTITUTE ULM HIU   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CALCIUM; ELECTRON TRANSPORT PROPERTIES; ELECTROSTATICS; ETHYLENE; MAGNETISM; MAGNETORESISTANCE; MANGANESE; OXIDE FILMS; OXIDES; POLYETHYLENE OXIDES; POLYMER FILMS; SEMICONDUCTOR DOPING; SOLVENTS; THIN FILMS;

COMPLEX PERCOLATION; ELECTROSTATIC CHARGES; ELECTROSTATIC CONTROL; FERROMAGNETIC METALLIC; MESOSTRUCTURED MATERIALS; PORE-SOLID ARCHITECTURE; REVERSIBLE MAGNETIZATION; SOLUTION-PROCESSED;

MANGANESE OXIDE;

EID: 84926465596     PISSN: 08974756     EISSN: 15205002     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm5028282     Document Type: Article

References (47)

1. Jonker, G. H.; Van Santen, J. H. Physica 1950, 16, 337-349.
2. Van Santen, J. H.; Jonker, G. H. Physica 1950, 16, 599-600.
3. Gonçalves, J. N.; Amaral, V. S.; Correia, J. G.; Lopes, A. M. L.; Araújo, J. P.; Tavares, P. B. J. Phys.: Condens. Matter 2014, 26, 215401.
4. Park, J.-H.; Vescovo, E.; Kim, H.; Kwon, C. Nature 1998, 392, 794-796.
5. Schiffer, P.; Ramirez, A. P.; Bao, W.; Cheong, S.-W. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 3336-3339.
6. Siwach, P. K.; Singh, H. K.; Srivastava, O. N. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 273201.
7. Lopes, A. M. L.; Correia, J. G.; Amaral, V. S.; Araújo, J. P. Phys. Status Solidi 2014, 251, 565-568.
8. Zener, C. Phys. Rev. 1951, 82, 403-405.
9. Jin, S.; Tiefel, T. H.; McCormack, M.; Fastnacht, R. A.; Ramesh, R.; Chen, L. H. Science 1994, 264, 413-5.
10. Von Helmolt, R.; Wecker, J.; Holzapfel, B.; Schultz, L.; Samwer, K. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 2331-2333.
11. Mahesh, R.; Mahendiran, R.; Raychaudhuri, A. K.; Rao, C. N. R. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 2291.
12. Hwang, H.; Cheong, S.-W.; Ong, N.; Batlogg, B. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 2041-2044.
13. Murata, T.; Terai, T.; Fukuda, T.; Kakeshita, T.; Kishio, K. Mater. Trans. 2003, 44, 2589-2593.
14. Mathur, N. D.; Burnell, G.; Isaac, S. P.; Jackson, T. J.; Teo, B.-S.; MacManus-Driscoll, J. L.; Cohen, L. F.; Evetts, J. E.; Blamire, M. G. Nature 1997, 387, 266-268.
15. Siwach, P. K.; Srivastava, P.; Singh, J.; Singh, H. K.; Srivastava, O. N. J. Alloys Compd. 2009, 481, 17-21.
16. Mishra, A. K.; Darbandi, A. J.; Leufke, P. M.; Kruk, R.; Hahn, H. J. Appl. Phys. 2013, 113, 033913.
17. Weissmüller, J.; Viswanath, R. N.; Kramer, D.; Zimmer, P.; Würschum, R.; Gleiter, H. Science 2003, 300, 312-315.
18. Leufke, P. M.; Mishra, A. K.; Beck, A.; Wang, D.; Kübel, C.; Kruk, R.; Hahn, H. Thin Solid Films 2012, 520, 5521-5527.
19. Sun, J. Z.; Abraham, D. W.; Rao, R. A.; Eom, C. B. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 3017.
20. Razavi, F. S.; Gross, G.; Habermeier, H.-U.; Lebedev, O.; Amelinckx, S.; Van Tendeloo, G.; Vigliante, A. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 155.
21. Smarsly, B.; Antonietti, M. Eur. J. Inorg. Chem. 2006, 2006, 1111-1119.
22. Sanchez, C.; Boissière, C.; Grosso, D.; Laberty, C.; Nicole, L. Chem. Mater. 2008, 20, 682-737.
23. Deng, Y.; Wei, J.; Sun, Z.; Zhao, D. Chem. Soc. Rev. 2013, 42, 4054-4070.
24. Gu, D.; Schüth, F. Chem. Soc. Rev. 2013, 43, 313-344.
25. Ren, Y.; Ma, Z.; Bruce, P. G. Chem. Soc. Rev. 2012, 41, 4909-4927.
26. Rawolle, M.; Niedermeier, M. A.; Kaune, G.; Perlich, J.; Lellig, P.; Memesa, M.; Cheng, Y.-J.; Gutmann, J. S.; Müller-Buschbaum, P. Chem. Soc. Rev. 2012, 41, 5131-5142.
27. Ba, J.; Polleux, J.; Antonietti, M.; Niederberger, M. Adv. Mater. 2005, 17, 2509-2512.
28. Haetge, J.; Djerdj, I.; Brezesinski, T. Chem. Commun. 2012, 48, 6726-6728.
29. Kruk, M.; Jaroniec, M.; Ko, C. H.; Ryoo, R. Chem. Mater. 2000, 12, 1961-1968.
30. Brinker, C. J.; Lu, Y.; Sellinger, A.; Fan, H. Adv. Mater. 1999, 11, 579-585.
31. Lu, Y.; Ganguli, R.; Drewien, C. A.; Anderson, M. T.; Brinker, C. J.; Gong, W.; Guo, Y.; Soyez, H.; Dunn, B.; Huang, M. H.; Zink, J. I. Nature 1997, 389, 364-368.
32. Groenewolt, M.; Brezesinski, T.; Schlaad, H.; Antonietti, M.; Groh, P. W.; Ivan, B. Adv. Mater. 2005, 17, 1158-1162.
33. Weidmann, C.; Brezesinski, K.; Suchomski, C.; Tropp, K.; Grosser, N.; Haetge, J.; Smarsly, B. M.; Brezesinski, T. Chem. Mater. 2012, 24, 486-494.
34. Suchomski, C.; Reitz, C.; Pajic, D.; Jaglicic, Z.; Djerdj, I.; Brezesinski, T. Chem. Mater. 2014, 26, 2337-2343.
35. Uhlemann, S.; Haider, M. Ultramicroscopy 1998, 72, 109-119.
36. Hibble, S. J.; Cooper, S. P.; Hannon, A. C.; Fawcett, I. D.; Greenblatt, M. J. Phys.: Condens. Matter 1999, 11, 9221-9238.
37. Beyreuther, E.; Grafström, S.; Eng, L.; Thiele, C.; Dörr, K. Phys. Rev. B 2006, 73, 155425.
38. Broussard, P. R.; Qadri, S. B.; Browning, V. M.; Cestone, V. C. Appl. Surf. Sci. 1997, 115, 80-86.
39. Sunding, M. F.; Hadidi, K.; Diplas, S.; Løvvik, O. M.; Norby, T. E.; Gunnæs, A. E. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2011, 184, 399-409.
40. Dey, P.; Nath, T. K.; Manna, P. K.; Yusuf, S. M. J. Appl. Phys. 2008, 104, 103907.
41. Zhao, Y. G.; Cai, W.; Wu, X. S.; Zhang, X. P.; Wang, K.; Gao, S. N.; Lu, L.; Zhu, J. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2004, 81, 607-610.
42. Dey, P.; Nath, T. Phys. Rev. B 2006, 73, 214425.
43. Balcells, L.; Fontcuberta, J.; Martínez, B.; Obradors, X. Phys. Rev. B 1998, 58, 14697-14700.
44. Li, P. G.; Lei, M.; Yang, H.; Tang, H. L.; Guo, Y. F.; Tang, W. H. J. Alloys Compd. 2008, 460, 60-63.
45. Lee, Y.; Clement, C.; Hellerstedt, J.; Kinney, J.; Kinnischtzke, L.; Leng, X.; Snyder, S. D.; Goldman, A. M. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 136809.
46. Leng, X.; Garcia-Barriocanal, J.; Kinney, J.; Yang, B.; Lee, Y.; Goldman, A. M. J. Phys.: Conf. Ser. 2013, 449, 012009.
47. Fujishiro, H.; Fukase, T.; Ikebe, M. J. Phys. Soc. Jpn. 2001, 70, 628-631.