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Volumn 70, Issue 12, 2014, Pages 3299-3309

Improved crystal orientation and physical properties from single-shot XFEL stills

Author keywords

single shot exposures; X ray free electron lasers

Indexed keywords

ALGORITHM; CHEMICAL MODEL; COMPUTER SIMULATION; LASER; PROCEDURES; STATISTICAL MODEL; X RAY CRYSTALLOGRAPHY;

EID: 84916896473     PISSN: 09074449     EISSN: 13990047     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S1399004714024134     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.