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Volumn 105, Issue 2, 2014, Pages

Kinetic model for electric-field induced point defect redistribution near semiconductor surfaces

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ELECTRIC FIELDS; OXIDE MINERALS; POINT DEFECTS; SEMICONDUCTOR DEVICES; TITANIUM DIOXIDE;

EID: 84904732187     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4890472     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.