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Volumn 16, Issue 18, 2014, Pages 8243-8246

How DNA is damaged by external electric fields: Selective mutation vs. random degradation

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DNA;

EID: 84898409265     PISSN: 14639076     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/c3cp54518k     Document Type: Article
Times cited : (39)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.