Vacuum ultraviolet and soft X-ray photoelectron spectroscopy of liquid beams using a hemispherical photoelectron spectrometer with a multistage differential pumping system

Journal of the Chinese Chemical Society

Volumn 60, Issue 12, 2013, Pages 1403-1410

  Nishizawa, Kiyoshi ^a   Ohshimo, Keijiro ^a   Suzuki, Toshinori ^a,b  

^a RIKEN   (Japan)

^b KYOTO UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

Liquid; Photoelectron; Spectroscopy

Indexed keywords

EID: 84897128329     PISSN: 00094536     EISSN: 21926549     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/jccs.201300513     Document Type: Article

References (51)

1. Siegbahn, K. Science 1982, 217, 111.
2. Siegbahn, H. J. Phys. Chem. 1985, 89, 897.
3. Winter, B.; Faubel, M. Chem. Rev. 2006, 106, 1176.
4. Suzuki, T. Int. Rev. Phys. Chem. 2012, 31, 265.
5. Siegbahn, H.; Asplund, L.; Kelfve, P.; Hamrin, K.; Karlsson, L.; Siegbahn, K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1974, 5, 1059.
6. Siegbahn, H.; Asplund, L.; Kelfve, P.; Siegbahn, K.; J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1975, 7, 411.
7. Fellner-Feldegg, H.; Siegbahn, H.; Asplund, L.; Kelfve, P.; Siegbahn, K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1975, 7, 421.
8. Siegbahn, H.; Svensson, S.; Lundholm, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1981, 24, 205.
9. Lundholm, M.; Siegbahn, H.; Holmberg, S.; Arbman, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.1986, 40, 163.
10. Holmberg, S.; Yuan, Z. C.; Moberg, R.; Siegbahn, H. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1988, 47, 27.
11. Faubel, M.; Steiner, B.; Toennies, J. P. J. Chem. Phys. 1997, 106, 9013.
12. Faubel, M.; Schlemmer, S.; Toennies, J. P. Z. Phys. D 10 1988, 269.
13. Faubel,M. In Photoelectron Spectroscopy at Liquid Surface; Ng, C.-Y., Ed.; World Scientific: Singapore, 2000; Photoionization and photodetachment.
14. Winter, B. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 2009, 601, 139.
15. Aziz, E. F.; Ottosson, N.; Faubel, M.; Hertel, I. V.;Winter, B. Nature 2008, 455, 89.
16. Jungwirth, P.; Winter, B. Annu. Rev. Phys. Chem. 2008, 59, 343.
17. Winter, B.; Hergenhahn, U.; Faubel, M.; Björneholm, O.; Hertel, I. V. J. Chem. Phys. 2007, 127, 094501.
18. Weber, R.;Winter, B.; Schmidt, P. M.;Widdra,W.; Hertel, I. V.; Dittmar, M.; Faubel, M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 4729.
19. Winter, B.; Weber, R.; Widdra, W.; Dittmar, M.; Faubel, M.; Hertel, I. V. J. Phys. Chem. A 2004, 108, 2625.
20. Tang, Y.; Shen, H.; Sekiguchi, K.; Kurahashi, N.; Mizuno, T.; Suzuki, Y.; Suzuki, T. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 3653.
21. Shen, H.; Kurahashi, N.; Horio, T.; Sekiguchi, K.; Suzuki, T. Chem. Lett. 2010, 39, 668.
22. Tang, Y.; Suzuki, Y.; Shen, H.; Sekiguchi, K.; Kurahashi, N.; Nishizawa, K.; Zuo, P.; Suzuki, T. Chem. Phys. Lett. 2010, 494, 111.
23. Suzuki, Y.-I.; Shen, H.; Tang, Y.; Kurahashi, N.; Sekiguchi, K.; Mizuno, T.; Suzuki, T. Chem. Sci. 2011, 2, 1094.
24. Nishizawa, K.; Kurahashi, N.; Sekiguchi, K.; Mizuno, T.; Ogi, Y.; Horio, T.; Oura, M.; Kosugi, N.; Suzuki, T. Phys. Chem. Chem. Phys. 2011, 13, 413.
25. Liu, S.-Y.; Alnama, K.; Matsumoto, J.; Nishizawa, K.; Kohguchi, H.; Lee, Y.-P.; Suzuki, T. J. Phys. Chem. A 2011, 115, 2953.
26. Oku, M.; Hou, Y.; Xing, X.; Reed, B.; Xu, H.; Chang, C.; Ng, C. Y.; Nishizawa, K.; Ohshimo, K.; Suzuki, T. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 2293.
27. Mafuné, F.; Takeda, Y.; Nagata, T.; Kondow, T. Chem. Phys. Lett. 1992, 199, 615.
28. Faubel, M.; Steiner, B. Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1992, 96, 1167.
29. Wilson, K. R.; Rude, B. S.; Smith, J.; Cappa, C.; Co, D. T.; Schaller, R. D.; Larsson, M.; Catalano, T.; Saykally, R. J. Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 725.
30. Holstein, W. L.; Hayes, L. J.; Robinson, E. M. C.; Laurence, G. S.; Buntine, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 3035.
31. Link, O.; Lugovoy, E.; Siefermann, K.; Liu, Y.; Faubel, M.; Abel, B. Appl. Phys. A 2009, 96, 117.
32. Leib, S. J.; Goldstein,M. E. J. Fluid Mech. 1986, 168, 479.
33. Debler, W.; Yu, D. Proc. R. Soc. Lond. A 1988, 415, 107.
34. Itikawa, Y.;Mason, N. J. Phys. Chem. Ref. Data 2005, 34, 1.
35. Muñoz, A.; Oller, J. C.; Blanco, F.; Gorfinkiel, J. D.; Limão- Vieira, P.; García, G. Phys. Rev. A 2007, 76, 052707.
36. Öhrwall, G.; Baltzer, P.; Bozek, J. Phys. Rev. A 1999, 59, 1903.
37. Park, S. T.;Kim, S.K.; Kim, M. S. J. Chem. Phys. 2001, 115, 2492.
38. Park, S. T.;Kim, S.K.; Kim, M. S. J. Chem. Phys. 2001, 114, 5568.
39. Velchev, I.; Hogervorst, W.; Ubachs, W. J. Phys. B 1999, 32, L511.
40. Fischer, I.; Strobel, A.; Staecker, J.; Niedner-Schatteburg, G.; Müller-Dethlefs, K.; Bondybey, V. E. J. Chem. Phys. 1992, 96, 7171.
41. Griffin, D. C.; Pindzola, M. S.; Gorczyca, T.W.; Badnell, N. R. Phys. Rev. A 1995, 51, 2265.
42. Casassa,M. P.; Stephenson, J. C.; King, D. S. J. Chem. Phys. 1988, 89, 1966.
43. Carnovale, F.; Peel, J. B.; Rothwell, R. G. J. Chem. Phys. 1986, 84, 6526.
44. Ohashi, H.; Senba, Y.; Kishimoto, H.; Miura, T.; Ishiguro, E.; Takeuchi, T.; Oura, M.; Shirasawa, K.; Tanaka, T.; Takeuchi, M.; Takeshita, K.; Goto, S.; Takahashi, S.; Aoyagi, H.; Sano, M.; Furukawa, Y.; Ohata, T.; Matsushita, T.; Ishizawa, Y.; Taniguchi, S.; Asano, Y.; Harada, Y.; Tokushima, T.; Horiba, K.; Kitamura, H.; Ishikawa, T.; Shin, S. AIP Proc. 2007, 879, 523.
45. Senba, Y.; Ohashi, H.; Kishimoto, H.; Miura, T.; Goto, S.; Shin, S.; Shintake, T.; Ishikawa, T. AIP Proc. 2007, 879, 718.
46. Oura,M.; Nakamura, T.; Takeuchi, T.; Senba, Y.; Ohashi, H.; Shirasawa, K.; Tanaka, T.; Takeuchi, M.; Furukawa, Y.; Hirono, T.; Ohata, T.; Kitamura, H.; Shin, S. J. Synchrotron Rad. 2007, 14, 483.
47. Sankari, R.; Ehara, M.; Nakatsuji, H.; Senba, Y.; Hosokawa, K.; Yoshisa, H.; De Fanis, A.; Tamenori, Y.; Aksela, S.; Ueda, K. Chem. Phys. Lett. 2003, 380, 647.
48. Ottosson, N.; Faubel, M.; Bradforth, S. E.; Jungwirth, P.; Winter, B. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 2010, 177, 60.
49. Yeh, J. J.; Lindau, I. Atom. Data Nucl. Data Tables 1985, 32, 1.
50. nd ed.; Saunders College Publishing: Philadelphia, 1995.
51. Nolting, D.; Aziz, E. F.; Ottosson, N.; Faubel, M. I.; Hertel, V.; Winter, B. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 14068.