Ultrafast electronic spectroscopy for chemical analysis near liquid water interfaces: Concepts and applications

Applied Physics A: Materials Science and Processing

Volumn 96, Issue 1, 2009, Pages 117-135

  Link, O ^a   Lugovoy, E ^b   Siefermann, K ^a   Liu, Y ^a   Faubel, M ^c   Abel, B ^a,b  

^a UNIVERSITY OF GÖTTINGEN   (Germany)

^b UNIVERSITY OF LEIPZIG   (Germany)

^c MAX PLANCK INSTITUTE FOR DYNAMICS AND SELF ORGANIZATION   (Germany)

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ELECTRON SPECTROSCOPY FOR CHEMICAL ANALYSIS; ELECTRONIC SPECTROSCOPY; FEMTOSECOND PULSE; IN-VACUUM; LIQUID INTERFACE; LIQUID PHASE; LIQUID WATER; MICRO BEAMS; MICRO-JET; PHOTO-ELECTRON EMISSION; SOFT X-RAY; TECHNICAL DETAILS; ULTRA-FAST; VOLATILE LIQUIDS;

CHEMICALS; ELECTROMAGNETIC PULSE; EMISSION SPECTROSCOPY; LIQUIDS; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; PHOTOIONIZATION; PHOTONS; VACUUM; VAPOR PRESSURE; WATER ANALYSIS; WIRELESS TELECOMMUNICATION SYSTEMS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

PHASE INTERFACES;

EID: 67349157832     PISSN: 09478396     EISSN: 14320630     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s00339-009-5179-1     Document Type: Article

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