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Volumn 46, Issue 16, 2013, Pages

AMO science at the FLASH and European XFEL free-electron laser facilities

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EXTREME ULTRAVIOLET; FEMTOSECOND TIME SCALE; IMAGING EXPERIMENTS; INNER-SHELL ELECTRONS; NONLINEAR PROCESS; PHOTON INTENSITIES; SHORT PULSE DURATION; SHORT-WAVELENGTH;

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.