Doping of organic semiconductors: Impact of dopant strength and electronic coupling

Angewandte Chemie - International Edition

Volumn 52, Issue 30, 2013, Pages 7751-7755

  Méndez, Henry ^a,e   Heimel, Georg ^a   Opitz, Andreas ^a   Sauer, Katrein ^a   Barkowski, Patrick ^a   Oehzelt, Martin ^a,b   Soeda, Junshi ^c   Okamoto, Toshihiro ^c   Takeya, Jun ^c   Arlin, Jean Baptiste ^d   Balandier, Jean Yves ^d   Geerts, Yves ^d   Koch, Norbert ^a,b   Salzmann, Ingo ^a  

^a HUMBOLDT UNIVERSITY   (Germany)

^b HAHN MEITNER INSTITUT   (Germany)

^c OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

^d UNIVERSITÉ LIBRE DE BRUXELLES   (Belgium)

^e PONTIFICIA UNIVERSIDAD JAVERIANA   (Colombia)

Author keywords

doping; electronic structure; semiconductors; UV Vis spectroscopy

Indexed keywords

CHEMICAL DESIGNS; ELECTRONIC COUPLING; INTERMOLECULAR COMPLEXES; MODEL-BASED OPC; MOLECULAR DOPING; P-DOPING; THE STANDARD MODEL; UV/ VIS SPECTROSCOPY;

DOPING (ADDITIVES); ELECTRONIC STRUCTURE; IMPACT STRENGTH; SEMICONDUCTOR MATERIALS; ULTRAVIOLET VISIBLE SPECTROSCOPY;

SEMICONDUCTOR DOPING;

EID: 84880378564     PISSN: 14337851     EISSN: 15213773     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/anie.201302396     Document Type: Article

References (34)

1. H. Shirakawa, E. J. Louis, A. G. Macdiarmid, C. K. Chiang, A. J. Heeger, J. Chem. Soc. Chem. Commun. 1977, 578-580.
2. Y. Yamamoto, K. Yoshino, Y. Inuishi, J. Phys. Soc. Jpn. 1979, 47, 1887-1891.
3. G. Parthasarathy, C. Shen, A. Kahn, S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 2001, 89, 4986-4992.
4. S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, K. Leo, Nature 2009, 459, 234-238.
5. B. Lüssem, M. Riede, K. Leo, Phys. Status Solidi A 2013, 210, 9-43.
6. P. Pingel, R. Schwarzl, D. Neher, Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 143303.
7. K. Walzer, B. Maennig, M. Pfeiffer, K. Leo, Chem. Rev. 2007, 107, 1233-1271.
8. "Controlled doping of molecular organic layers: Physics and device prospects" in, M. Pfeiffer, T. Fritz, J. Blochwitz, A. Nollau, B. Plönnigs, A. Beyer, K. Leo, Advances in Solid State Physics, Vol. 39, Springer, Berlin, 1999, 77-90.
9. W. Y. Gao, A. Kahn, J. Phys. Condens. Matter 2003, 15, S 2757 -S 2770.
10. W. Y. Gao, A. Kahn, J. Appl. Phys. 2003, 94, 359-366.
11. W. Y. Gao, A. Kahn, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 4040-4042.
12. K. Harada, M. Riede, K. Leo, O. R. Hild, C. M. Elliott, Phys. Rev. B 2008, 77, 195212.
13. Y. B. Qi, T. Sajoto, S. Barlow, E. G. Kim, J. L. Brédas, S. R. Marder, A. Kahn, J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 12530.
14. R. Meerheim, S. Olthof, M. Hermenau, S. Scholz, A. Petrich, N. Tessler, O. Solomeshch, B. Lüssem, M. Riede, K. Leo, J. Appl. Phys. 2011, 109, 103102.
15. I. Salzmann, G. Heimel, S. Duhm, M. Oehzelt, P. Pingel, B. M. George, A. Schnegg, K. Lips, R. P. Blum, A. Vollmer, N. Koch, Phys. Rev. Lett. 2012, 108, 035502-035507.
16. G. Heimel, I. Salzmann, N. Koch, AIP Conf. Proc. 2012, 1456, 148-156.
17. E. E. Aziz, A. Vollmer, S. Eisebitt, W. Eberhardt, P. Pingel, D. Neher, N. Koch, Adv. Mater. 2007, 19, 3257-3260.
18. P. Pingel, L. Y. Zhu, K. S. Park, J. O. Vogel, S. Janietz, E. G. Kim, J. P. Rabe, J. L. Brédas, N. Koch, J. Phys. Chem. Lett. 2010, 1, 2037-2041.
19. V. Coropceanu, J. Cornil, D. A. da Silva Filho, Y. Olivier, R. Silbey, J. L. Brédas, Chem. Rev. 2007, 107, 926-952.
20. H. Ebata, T. Izawa, E. Miyazaki, K. Takimiya, M. Ikeda, H. Kuwabara, T. Yui, J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 15732.
21. T. Uemura, Y. Hirose, M. Uno, K. Takimiya, J. Takeya, Appl. Phys. Express 2009, 2, 111501.
22. T. Izawa, E. Miyazaki, K. Takimiya, Adv. Mater. 2008, 20, 3388.
23. K. Kanai, K. Akaike, K. Koyasu, K. Sakai, T. Nishi, Y. Kamizuru, T. Nishi, Y. Ouchi, K. Seki, Appl. Phys. A 2009, 95, 309-313.
24. H. Kleemann, C. Schuenemann, A. A. Zakhidov, M. Riede, B. Lüssem, K. Leo, Org. Electron. 2012, 13, 58-65.
25. C. Weichsel, L. Burtone, S. Reineke, S. I. Hintschich, M. C. Gather, K. Leo, B. Lüssem, Phys. Rev. B 2012, 86, 075204.
26. M. L. Tietze, L. Burtone, M. Riede, B. Lüssem, K. Leo, Phys. Rev. B 2012, 86, 035320.
27. S. D. Ha, A. Kahn, Phys. Rev. B 2009, 80, 195410.
28. K. Harada, M. Sumino, C. Adachi, S. Tanaka, K. Miyazaki, Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 253304.
29. S. Olthof, S. Mehraeen, S. K. Mohapatra, S. Barlow, V. Coropceanu, J. L. Brédas, S. R. Marder, A. Kahn, Phys. Rev. Lett. 2012, 109, 176601.
30. L. R. Melby, R. J. Harder, W. R. Hertler, W. Mahler, R. E. Benson, W. E. Mochel, J. Am. Chem. Soc. 1962, 84, 3374-3387.
31. I. Zanon, C. Pecile, J. Phys. Chem. 1983, 87, 3657-3664.
32. T. Shimizu, T. Yamamoto, Inorg. Chim. Acta 1999, 296, 278-280.
33. D. T. Duong, C. Wang, E. Antono, M. F. Toney, A. Salleo, Org. Electron. 2013, 14, 1330-1336.
34. T. J. Emge, M. Maxfield, D. O. Cowan, T. J. Kistenmacher, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1981, 65, 161-178.