Structural insights into the formation and evolution of amorphous phase-change materials

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 250, Issue 5, 2013, Pages 968-975

  Skelton, J M ^a   Loke, D ^b   Lee, T H ^a   Elliott, S R ^a  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

^b NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE   (Singapore)

Author keywords

ab initio molecular dynamics; Amorphization; Ge Sb Te; Phase change materials

Indexed keywords

AMORPHIZATION; MELTING; MOLECULAR DYNAMICS; PHASE CHANGE MEMORY; QUENCHING; TEMPERATURE;

AB INITIO MOLECULAR DYNAMICS; AB INITIO MOLECULAR DYNAMICS SIMULATION; AMORPHIZATION PROCESS; AMORPHOUS PHASE-CHANGE MATERIAL; FORMATION AND EVOLUTIONS; GE-SB-TE; LOW TEMPERATURE ANNEALING; PHASE CHANGE RANDOM ACCESS MEMORY DEVICES;

PHASE CHANGE MATERIALS;

EID: 84877896743     PISSN: 03701972     EISSN: 15213951     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.201248563     Document Type: Article

References (28)

1. H. S. P. Wong, S. Raoux, S. Kim, J. L. Liang, J. P. Reifenberg, B. Rajendran, M. Asheghi, and K. E. Goodson, Proc. IEEE 98, 2201 (2010).
2. G. W. Burr, M. J. Breitwisch, M. Franceschini, D. Garetto, K. Gopalakrishnan, B. Jackson, B. Kurdi, C. Lam, L. A. Lastras, A. Padilla, B. Rajendran, S. Raoux, and R. S. Shenoy, J. Vac. Sci. Technol. B 28, 223 (2010).
3. S. R. Ovshinsky, Phys. Rev. Lett. 21, 1450 (1968).
4. D. Loke, T. H. Lee, W. J. Wang, L. P. Shi, R. Zhao, Y. C. Yeo, T. C. Chong, and S. R. Elliott, Science 336, 1566 (2012).
5. F. Xiong, A. D. Liao, D. Estrada, and E. Pop, Science 332, 568 (2012).
6. S. Lai, in: 2003 IEDM Technical Digest (IEEE, 2003)
7. M. Wuttig, Nature Mater. 4, 265 (2005).
8. J. H. Oh, J. H. Park, Y. S. Lim, H. S. Lim, Y. T. Oh, J. S. Kim, J. M. Shin, Y. J. Song, K. C. Ryoo, D. W. Lim, S. S. Park, J. I. Kim, J. H. Kim, J. Yu, F. Yeung, C. W. Jeong, J. H. Kong, D. H. Kang, G. H. Koh, G. T. Jeong, H. S. Jeong, and K. Kinam, in: 2006 International Electron Devices Meeting (IEEE, 2006), p. 4.
9. L. Goux, D. T. Castro, G. A. M. Hurkx, J. G. Lisoni, R. Delhougne, D. J. Gravesteijn, K. Attenborough, and D. J. Wouters, IEEE Trans. Electron Devices 56, 354 (2009).
10. A. Pirovano, A. L. Lacaita, F. Pellizzer, S. A. Kostylev, A. Benvenuti, and R. Bez, IEEE Trans. Electron Devices 51, 714 (2004).
11. B. Gleixner, A. Pirovano, J. Sarkar, F. Ottogalli, E. Tortorelli, M. Tosi, and R. Bez, in: 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings (IEEE, 2007), p. 5.
12. T. Nirschl, J. B. Philipp, T. D. Flapp, G. W. Burr, B. Rajendran, M. H. Leeo, A. Schrott, M. Yang, M. Breitwisch, C. F. Chen, E. Joseph, M. Lamorey, R. Cheek, S. H. Chen, S. Zaidi, S. Raoux, Y. C. Chen, Y. Zhu, R. Bergmann, H. L. Lung, and C. Lam, in: 2007 IEEE International Electron Devices Meeting (IEEE, 2007), p. 461.
13. S. Raoux, J. L. Jordan-Sweet, and A. J. Kellock, J. Appl. Phys. 103, 114310 (2008).
14. D. Q. Huang, X. S. Miao, Z. Li, J. J. Sheng, J. J. Sun, J. H. Peng, J. H. Wang, Y. Chen, and X. M. Long, Appl. Phys. Lett. 98, 242106 (2011).
15. W. J. Wang, L. P. Shi, R. Zhao, K. G. Lim, H. K. Lee, T. C. Chong, and Y. H. Wu, Appl. Phys. Lett. 93, 043121 (2008).
16. A. V. Kolobov, P. Fons, A. I. Frenkel, A. L. Ankudinov, J. Tominaga, and T. Uruga, Nature Mater. 3, 703 (2004).
17. Z. Sun, J. Zhou, and R. Ahuja, Phys. Rev. Lett. 98, 055505 (2007).
18. S. Kohara, K. Kato, S. Kimura, H. Tanaka, T. Usuki, K. Suzuya, Y. Moritomo, T. Matsunaga, N. Yamada, Y. Tanaka, H. Suematsu, and M. Takata, Appl. Phys. Lett. 89, 201910 (2006).
19. J. Hegedus and S. R. Elliott, Nature Mater. 7, 399 (2008).
20. T. H. Lee and S. R. Elliott, Phys. Rev. Lett. 107, 145702 (2011).
21. T. H. Lee and S. R. Elliott, Phys. Rev. B 84, 094124 (2011).
22. G. Kresse and J. Hafner, Phys. Rev. B 47, 558 (1993).
23. J. P. Perdew, K. Burke, and M. Ernzerhof, Phys. Rev. Lett. 77, 3865 (1996).
24. P. E. Blochl, Phys. Rev. B 50, 17953 (1994).
25. J. Akola and R. O. Jones, Phys. Rev. B 76, 235201 (2007).
26. J. D. Honeycutt and H. C. Andersen, Chem. Phys. Lett. 108, 534 (1984).
27. J. Wedekind, D. Reguera, and R. Strey, J. Chem. Phys. 125, 214505 (2006).
28. J. Orava, A. L. Greer, B. Gholipour, D. W. Hewak, and C. E. Smith, Nature Mater. 11, 279 (2012).