Mesoscale scanning electron and tunneling microscopy study of the surface morphology of thermally annealed copper foils for graphene growth

Chemistry of Materials

Volumn 25, Issue 9, 2013, Pages 1643-1648

  Sarajlic, Olesya I ^a   Mani, Ramesh G ^a  

^a GEORGIA STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

average roughness; chemical vapor deposition; graphene; surface height variations

Indexed keywords

ANNEALED COPPER; CHEMICAL VAPOR DEPOSITIONS (CVD); GRAPHENE FILMS; GRAPHENE GROWTH; MICROMETER LENGTHS; SCANNING ELECTRONS; SURFACE HEIGHT VARIATIONS; THERMAL-ANNEALING;

ANNEALING; CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; COPPER; GRAIN SIZE AND SHAPE; OPTICAL MICROSCOPY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACE MORPHOLOGY; SURFACE ROUGHNESS; VAPORS;

GRAPHENE;

EID: 84877743213     PISSN: 08974756     EISSN: 15205002     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm400032h     Document Type: Article

References (31)

1. Li, X. S.; Cai, W. W.; An, J. H.; Kim, S.; Nah, J.; Yang, D. X.; Piner, R. D.; Velamakanni, A.; Jung, I.; Tutuc, E. Science 2009, 324, 1312-1314
2. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183-191
3. Geim, A. K. Science 2009, 324 (5934) 1530-1534
4. Li, X.; Cai, W.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2009, 9, 4268-4272
5. De Heer, W. A.; Berger, C.; Wu, X.; Sprinkle, M.; Hu, Y.; Ruan, M.; Stroscio, J. A.; First, P. N.; Haddon, R.; Piot, B. J. Phys. D: Appl. Phys. 2010, 43, 374007
6. Guermoune, A.; Chari, T.; Popescu, F.; Sabri, S. S.; Guillemette, J.; Skulason, H. S.; Szkopek, T.; Siaj, M. Carbon 2011, 49, 4204-4210
7. Li, X.; Magnuson, C. W.; Venugopal, A.; Tromp, R. M.; Hannon, J. B.; Vogel, E. M.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 2816-2819
8. Luo, Z.; Lu, Y.; Singer, D. W.; Berck, M. E.; Somers, L. A.; Goldsmith, B. R.; Johnson, A. T. C. Chem. Mater. 2011, 23, 1441-1447
9. Chen, S.; Brown, L.; Levendorf, M.; Cai, W.; Ju, S. Y.; Edgeworth, J.; Li, X.; Magnuson, C. W.; Velamakanni, A.; Piner, R. D. ACS Nano 2011, 5, 1321-1327
10. Cho, J.; Gao, L.; Tian, J.; Cao, H.; Wu, W.; Yu, O.; Yitamben, E. N.; Fisher, B.; Guest, J. R.; Chen, Y. P. ACS Nano 2011, 5, 3607-3613
11. Chen, S.; Cai, W.; Piner, R. D.; Suk, J. W.; Wu, Y.; Ren, Y.; Kang, J.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2011, 11, 3519-3525
12. Chen, Y. P.; Yu, Q. K. Nat. Nanotechnol. 2010, 5, 559-560
13. Li, X. S.; Cai, W. W.; Jung, I. H.; An, J. H.; Yang, D. X.; Velamakanni, A.; Piner, R.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. ECS Trans. 2009, 19, 41-52
14. Giorgi, R.; Lisi, N.; Dikonimos, T.; Falconieri, M.; Gagliardi, S.; Salernitano, E.; Morales, P.; Pilloni, L. EAI 2011, 68-74
15. Robinson, Z. R.; Tyagi, P.; Murray, T. M.; Ventrice, C. A., Jr.; Chen, C.; Munson, A.; Magnuson, C. W.; Ruoff, R. F. J. Vac. Sci. Technol. A 2012, 30 (1) 011401/1-011401/7
16. Yazyev, O. V.; Louie, S. G. Nat. Mater. 2010, 9, 806-809
17. Huang, P. Y.; Ruiz-Vargas, C. S.; van der Zande, A. M.; Whitney, W. S.; Garg, S.; Alden, J. S.; Hustedt, C. J.; Zhu, Y.; Park, J.; McEuen, P. L. Nature 2011, 469, 389-392
18. Kim, K.; Lee, Z.; Regan, W.; Kisielowski, C.; Crommie, M. F.; Zettl, A. ACS Nano 2011, 5 (3) 2142-2146
19. Yu, Q.; Jauregui, L. A.; Wu, W.; Colby, R.; Tian, J.; Su, Z.; Cao, H.; Liu, Z.; Pandey, D.; Wei, D. Nat. Mater. 2011, 10, 443-449
20. Bae, S.; Kim, H.; Lee, Y.; Xu, X.; Park, J. S.; Zheng, Y.; Balakrishnan, J.; Lei, T.; Kim, H. R.; Song, Y. I. Nat. Nanotechnol. 2010, 5, 574-578
21. Cao, H.; Yu, O.; Jauregui, L. A.; Tian, J.; Wu, W.; Liu, Z.; Jalilian, R.; Benjamin, D. K.; Jiang, Z.; Bao, J. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 122106
22. Chen, H.; Zhu, W.; Zhang, Z. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 186101
23. Yazyev, O. V.; Pasquarello, A. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 156102/1-156102/4
24. Mattevi, C.; Kim, H.; Chhowalla, M. J. Mater. Chem. 2010, 21, 3324-3334
25. Li, X.; Magnuson, C. W.; Venugopal, A.; An, J.; Suk, J. W.; Han, B.; Borysiak, M.; Cai, W.; Velamakanni, A.; Zhu, Y. Nano Lett. 2010, 10, 4328-4334
26. Zhang, B.; Lee, W. H.; Piner, R.; Kholmanov, I.; Wu, Y.; Li, H.; Ji, H.; Ruoff, R. S.. ACS Nano 2012, 0, 6 (3), 2471-2476.
27. Han, Z.; Kimouche, A.; Allain, A.; Arjmandi-Tash, H.; Reserbat-Plantey, A.; Pairis, S.; Reita, V.; Bendiab, N.; Coraux, J.; Bouchiat, V. arXiv:1205.1337, 2012.
28. Zhao, L.; Rim, K. T.; Zhou, H.; He, R.; Heinz, T. F.; Pinczuk, A.; Flynn, G. W.; Pasupathy, A. N. arXiv:1008.3542v1, 2010.
29. Bojan, M.; Schiopu, P.; Garoi, I.; Iordache, J.; Apostol, D. U.P.B. Sci. Bull. 2012, Series A, Vol. 74, Issue 2.
30. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S. Phys. Rev. Lett. 2006, 97 (18) 187401/1-187401/4
31. Ni, Z.; Wang, Y.; Yu, T.; Shen Nano Res. 2008, 1, 273-291