An ultrafast angle-resolved photoemission apparatus for measuring complex materials

Review of Scientific Instruments

Volumn 83, Issue 12, 2012, Pages

  Smallwood, Christopher L ^a,b   Jozwiak, Christopher ^b   Zhang, Wentao ^b   Lanzara, Alessandra ^a,b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

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ANGLE RESOLVED PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; ANGLE-RESOLVED PHOTOEMISSION; ELECTRON ANALYZER; ENERGY RESOLUTIONS; MOMENTUM RESOLUTIONS; SYSTEM CAPABILITIES; TECHNICAL SPECIFICATIONS; TI: SAPPHIRE LASER;

PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

HIGH TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS;

EID: 84875480644     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4772070     Document Type: Article

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