Surface-enhanced Raman spectroscopic studies of metal-semiconductor interfaces in organic field-effect transistors

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 116, Issue 23, 2012, Pages 12779-12785

  Adil, Danish ^a   Guha, Suchi ^a  

^a UNIVERSITY OF MISSOURI   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AU FILM; CHARGE INJECTION PROCESS; DENSITY FUNCTIONALS; DEVICE PERFORMANCE; METAL SEMICONDUCTOR INTERFACE; NANO SCALE; PENTACENE FILM; PENTACENES; PHYSICAL PHENOMENA; RAMAN INTENSITIES; RAMAN MAPS; STRUCTURAL CHANGE; SURFACE ENHANCED RAMAN SCATTERING (SERS); SURFACE-ENHANCED RAMAN; THEORETICAL CALCULATIONS; VISUALIZATION TOOLS;

DISSIMILAR MATERIALS; GOLD; ORGANIC FIELD EFFECT TRANSISTORS; RAMAN SCATTERING; RAMAN SPECTROSCOPY; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; VISUALIZATION;

INTERFACES (MATERIALS);

EID: 84862296472     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp3031804     Document Type: Article

References (30)

1. Zaumseil, J.; Sirringhaus, H. Chem. Rev. 2007, 107, 1296
2. Salvan, G.; Sakurai, Y.; Kobitski, A. Y.; Scholz, R.; Astilean, S.; Kampen, T. U.; Zahn, D. R. T.; Ishii, H.; Seki, K. Appl. Surf. Sci. 2002, 190, 371
3. Davis, R. J.; Pemberton, J. E. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 4364
4. Davis, R. J.; Pemberton, J. E. J. Am. Chem. Soc. 2009, 113, 10009
5. J. Phys. Chem. A 2009, 113, 4397.
6. Salvan, G.; Zahn, D. R. T.; Paez, B. J. Lumin. 2004, 110, 296
7. Ward, D. R.; Grady, N. K.; Levin, C. S.; Halas, N. J.; Wu, Y.; Nordlander, P.; Natelson, D. Nano Lett. 2007, 7, 1396
8. Moskovits, M. Rev. Mod. Phys. 1985, 57, 783
9. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. J. Phys.: Condens. Matter. 2002, 14, R597
10. Li, Z. Q.; Wang, G. M.; Sai, N.; Moses, D.; Martin, M. C.; Di Ventra, M.; Heeger, A. J.; Basov, D. Nano Lett. 2006, 6, 224
11. Deng, Y. Y.; Sirringhaus, H. Phys. Rev. B 2005, 72, 045207
12. Ukah, N. B.; Granstrom, J.; Sanganna Gari, R. R.; King, G. M.; Guha, S. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 243302
13. Jang, Y.; Kim, D. H.; Park, Y. D.; Cho, J. H.; Hwang, M.; Cho, K. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 072101
14. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Mennucci, B.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Caricato, M.; Li, X.; Hratchian, H. P.; Izmaylov, A. F.; Bloino, J.; Zheng, G.; Sonnenberg, J. L.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Montgomery, J. A., Jr.; Peralta, P. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Rega, N.; Millam, N. J.; Klene, M.; Knox, J. E.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Zakrzewski, V. G.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, Ö.; Ortiz, J. V.; Cioslowski, J.; Fox, D. J. Gaussian 09; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, USA, 2009.
15. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648
16. Volz, C.; Arif, M.; Guha, S. J. Chem. Phys. 2007, 126, 064905
17. Cheng, H. L.; Mai, Y.-S.; Chou, W. Y.; Chang, L. R.; Liang, X. W. Adv. Funct. Mater. 2007, 17, 3639
18. Kneipp, K.; Wang, W. Y.; Kneipp, H.; Perlman, L. T.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1667
19. Nam, S.; Jang, J.; Park, J.-J.; Kim, S. W.; Park, C. E.; Kim, J. M. ACS Appl. Mater. Interfaces 2012, 4, 6
20. Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G. Adv. Phys. 1981, 30, 1309
21. Dresselhaus, M. S.; Pimenta, M. A.; Eklund, P. C.; Dresselhaus, G. Raman Scattering in Materials Science; Weber, W. H.; Merlin, R., Eds.; Springer Series in Materials Science 42; Springer: New York, 2000; p 314.
22. Vidano, R. P.; Fishbach, D. B.; Willis, L. J.; Loehr, T. M. Solid State Commun. 1981, 39, 341
23. Gierz, I.; Suzuki, T.; Weitz, R. T.; Lee, D. S.; Krauss, B.; Riedl, C.; Starke, U.; Höchst, H.; Smet, J. H.; Ast, C. R.; Kern, K. Phys. Rev. B 2010, 81, 235408
24. Sirringhaus, H. Adv. Mater. 2009, 21, 1
25. Zilker, S. J.; Detcheverry, C.; Cantatore, E.; de Leeuw, D. M. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1124
26. Chua, L. L; Zaumseil, J.; Chang, J. F.; Ou, E. C. W.; Ho, P. K. H.; Sirringhaus, H.; Friend, R. H. Nature 2005, 434, 194
27. Kim, C. S.; Lee, S.; Gomez, E. D.; Anthony, J. E.; Loo, Y.-L. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 103302
28. Vollmer, A.; Weiss, H.; Rentenberger, S.; Salzmann, I.; Rabe, J. P.; Koch, N. Surf. Sci. 2006, 600, 4004
29. Cheng, H. L.; Chou, W. Y.; Kuo, C. W.; Wang, Y. W.; Mai, Y. S.; Tang, F. C.; Chu, S. W. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 285
30. Adil, D.; Kanimozhi, C.; Ukah, N. B.; Paudel, K.; Patil, S.; Guha, S. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 1463