Fabrication of graphene with CuO Islands by chemical vapor deposition

Langmuir

Volumn 28, Issue 7, 2012, Pages 3489-3493

  Qi, Yun ^a   Eskelsen, Jeremy R ^a   Mazur, Ursula ^a   Hipps, K W ^a  

^a WASHINGTON STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COOLING CONDITIONS; CU FOIL; HYDROGEN COOLING; NANO-STRUCTURED; OXIDE ISLANDS; X RAY PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; FILM GROWTH; HYDROGEN; METAL CLADDING; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; VAPORS;

GRAPHENE;

EID: 84859788945     PISSN: 07437463     EISSN: 15205827     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la2048163     Document Type: Article

References (25)

1. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306, 666-669.
2. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva1, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197-200.
3. Berger, C.; Song, Z.; Li, X.; Wu, X.; Brown, N.; Naud, C.; Mayou, D.; Li, T.; Hass, J.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. Science 2007, 312, 1191-1196.
4. Qi, Y.; Rhim, S. H.; Sun, G. F.; Weinert, M.; Li, L. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 085502-1-4.
5. Obraztsov, A. N.; Obraztsova, E. A.; Tyurnina, A. V.; Zolotukhin, A. A. Carbon 2007, 45, 2017-2021.
6. Li, X.; Cai, W.; An, J.; Kim, S.; Nah, J.; Yang, D.; Piner, R.; Velamakanni, A.; Jung, I.; Tutuc, E.; Banerjee, S. K.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. Science 2009, 324, 1312-1314.
7. Reina, A.; Jia, X.; Ho, J.; Nezich, D.; Son, H.; Bulovic, V.; Dresselhaus, M. S.; Kong, J. Nano Lett. 2009, 9, 30-35.
8. Coraux, J.; N'Diaye, A. T.; Busse, C.; Michely, T. Nano Lett. 2008, 8, 565-570.
9. Gao, L.; Guest, J. R.; Guisinger, N. P. Nano Lett. 2010, 10, 3512-3516.
10. Li, X.; Cai, W.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2009, 9, 4268-4272.
11. Reina, A.; Jia, X. T.; Ho, J.; Nezich, D.; Son, H. B.; Bulovic, V.; Dresselhaus, M. S.; Kong, J. Nano Lett. 2009, 9, 30-35.
12. Barton, R. A.; Parpia, J.; Craighead, H. G. J. Vac. Sci. Technol., B 2011, 29, 050801-1-10.
13. Zhang, Y.; Jia, J.; Han, T.; Tang, Z.; Shen, Q.; Guo, Y.; Qiu, Z. Q.; Xue, Q.-K. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 096802-1-4.
14. Qi, Y.; Ma, X.; Jiang, P.; Ji, S.; Fu, Y.; Jia, J.; Xue, Q.; Zhang, S. B. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 013109-1-3.
15. Savu, R.; Parra, R.; Joanni, E.; Janc?ar, B.; Eliziario, S. A.; Camargo, R.; Bueno, P. R.; Varela, J. A.; Longo, E.; Zaghete, M. A. J. Cryst. Growth 2009, 311, 4102-4108.
16. Wang, B.; Wu, X.; Shu, C.; Guo, Y.; Wang, C. J. Mater. Chem. 2010, 20, 10661-10664.
17. Baby, T. T.; Sundara, R. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 8527-8533.
18. Rasool, H. I.; Song, E. B.; Allen, M. J.; Wassei, J. K.; Kaner, R. B.; Wang, K. L.; Weiller, B. H.; Gimzewski, J. K. Nano Lett. 2011, 11, 251-256.
19. SPIP Software, Version 4.1; Image Metrology A/S: Hørsholm, Denmark.
20. Evans, U. R. The Corrosion and Oxidation of Metals: Scientific Principles and Practical Applications; Edward Arnold Ltd.: London, 1961. Ghosh, A. I. Interstrand Resistance Studies of Oxidized Superconducting Wires; SSC Technical Note No. 103; SSCL-N-808; Brookhaven National Lab: Upton, NY.
21. Chen, S.; Brown, L.; Levendorf, M.; Cai, W.; Ju, S.; Edgeworth, J.; Li, X.; Magnuson, C. W.; Velamakanni, A.; Piner, R. D.; Kang, J.; Park, J.; Ruoff, R. S. ACS Nano 2011, 5, 1321-1327.
22. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401-1-4.
23. Land, T. A.; Michely, T.; Behm, R. J.; Hemminger, J. C.; Comsa, G. J. Chem. Phys. 1992, 97, 6774-6783.
24. Ruiz-Vargas, C. S.; Zhuang, H. L.; Huang, P. Y.; van der Zande, A. M.; Garg, S.; McEuen, P. L.; Muller, D. A.; Hennig, R. G.; Park, J. Nano Lett. 2011, 11, 2259-2263.
25. Lu, X.; Hipps, K. W.; Wang, X. D.; Mazur, U. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 7197-7202.