-
1
-
-
0037117858
-
-
Chappel, S.; Chen, S. G.; Zaban, A. Langmuir 2002, 18, 3336-3342
-
(2002)
Langmuir
, vol.18
, pp. 3336-3342
-
-
Chappel, S.1
Chen, S.G.2
Zaban, A.3
-
3
-
-
34548173027
-
-
Dattoli, E. N.; Wan, Q.; Guo, W.; Chen, Y.; Pan, X.; Lu, W. Nano Lett. 2007, 7, 2463-2469
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 2463-2469
-
-
Dattoli, E.N.1
Wan, Q.2
Guo, W.3
Chen, Y.4
Pan, X.5
Lu, W.6
-
4
-
-
34250316635
-
-
Saha, M.; Li, R.; Cai, M.; Sun, X. Electrochem. Solid-State Lett. 2007, 10, B130-B133
-
(2007)
Electrochem. Solid-State Lett.
, vol.10
-
-
Saha, M.1
Li, R.2
Cai, M.3
Sun, X.4
-
5
-
-
34547927556
-
-
Saha, M.; Li, R.; Sun, X. Electrochem. Commun. 2007, 9, 2229-2234
-
(2007)
Electrochem. Commun.
, vol.9
, pp. 2229-2234
-
-
Saha, M.1
Li, R.2
Sun, X.3
-
6
-
-
2542471850
-
-
Wei, B. Y.; Hsu, M. C.; Su, P. G.; Lin, H. M.; Wu, R. J.; Lai, H. J. Sens. Actuators, B 2004, 101, 81-89
-
(2004)
Sens. Actuators, B
, vol.101
, pp. 81-89
-
-
Wei, B.Y.1
Hsu, M.C.2
Su, P.G.3
Lin, H.M.4
Wu, R.J.5
Lai, H.J.6
-
7
-
-
30344437271
-
-
Liu, Y. L.; Yang, H. F.; Yang, Y.; Liu, Z. M.; Shen, G. L.; Yu, R. Q. Thin Solid Films 2006, 497, 355-360
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.497
, pp. 355-360
-
-
Liu, Y.L.1
Yang, H.F.2
Yang, Y.3
Liu, Z.M.4
Shen, G.L.5
Yu, R.Q.6
-
8
-
-
0034225991
-
-
Leite, E. R.; Weber, I. T.; Longo, E.; Varela, J. A. Adv. Mater. 2000, 12, 965-968
-
(2000)
Adv. Mater.
, vol.12
, pp. 965-968
-
-
Leite, E.R.1
Weber, I.T.2
Longo, E.3
Varela, J.A.4
-
10
-
-
36249027725
-
-
Kim, D. W.; Hwang, I. S.; Kwon, S. J.; Kang, H. Y.; Park, K. S.; Choi, Y. J.; Choi, K. J.; Park, J. G. Nano Lett. 2007, 7, 3041-3045
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 3041-3045
-
-
Kim, D.W.1
Hwang, I.S.2
Kwon, S.J.3
Kang, H.Y.4
Park, K.S.5
Choi, Y.J.6
Choi, K.J.7
Park, J.G.8
-
12
-
-
24944475669
-
-
Ying, Z.; Wan, Q.; Cao, H.; Song, Z. T.; Feng, S. L. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 113108
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 113108
-
-
Ying, Z.1
Wan, Q.2
Cao, H.3
Song, Z.T.4
Feng, S.L.5
-
13
-
-
33846532251
-
-
Park, M. S.; Wang, G. X.; Kang, Y. M.; Wexler, D.; Dou, S. X.; Liu, H. K. Angew. Chem., Int. Ed. 2007, 46, 750-753
-
(2007)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.46
, pp. 750-753
-
-
Park, M.S.1
Wang, G.X.2
Kang, Y.M.3
Wexler, D.4
Dou, S.X.5
Liu, H.K.6
-
14
-
-
33644907181
-
-
Wang, Y.; Zeng, H. C.; Lee, J. Y. Adv. Mater. 2006, 18, 645-649
-
(2006)
Adv. Mater.
, vol.18
, pp. 645-649
-
-
Wang, Y.1
Zeng, H.C.2
Lee, J.Y.3
-
15
-
-
0037559515
-
-
Hu, J. Q.; Bando, Y.; Liu, Q. L.; Golberg, D. Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 493-496
-
(2003)
Adv. Funct. Mater.
, vol.13
, pp. 493-496
-
-
Hu, J.Q.1
Bando, Y.2
Liu, Q.L.3
Golberg, D.4
-
16
-
-
61349180734
-
-
Fan, W. Q.; Song, S. Y.; Feng, J.; Lei, Y. Q.; Zheng, G. L.; Zhang, H. J. J. Phys. Chem.C 2008, 112, 19939-19944
-
(2008)
J. Phys. Chem.C
, vol.112
, pp. 19939-19944
-
-
Fan, W.Q.1
Song, S.Y.2
Feng, J.3
Lei, Y.Q.4
Zheng, G.L.5
Zhang, H.J.6
-
17
-
-
33744789387
-
-
Lu, J. G.; Chang, P. C. Mater. Sci. Eng., R 2006, 52, 49-91
-
(2006)
Mater. Sci. Eng., R
, vol.52
, pp. 49-91
-
-
Lu, J.G.1
Chang, P.C.2
-
19
-
-
69249233596
-
-
Ahn, J. H.; Kim, Y. J.; Wang, G. X. J. Alloy. Compd. 2009, 483, 422-424
-
(2009)
J. Alloy. Compd.
, vol.483
, pp. 422-424
-
-
Ahn, J.H.1
Kim, Y.J.2
Wang, G.X.3
-
22
-
-
77249167621
-
-
Zhao, N. H.; Yang, L. C.; Zhang, P.; Wang, G. J.; Wang, B.; Yao, B. D.; Wu, Y. P. Mater. Lett. 2010, 64, 972-975
-
(2010)
Mater. Lett.
, vol.64
, pp. 972-975
-
-
Zhao, N.H.1
Yang, L.C.2
Zhang, P.3
Wang, G.J.4
Wang, B.5
Yao, B.D.6
Wu, Y.P.7
-
24
-
-
0346434142
-
-
Wang, Y.; Jiang, X.; Xia, Y. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 16176-16177
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 16176-16177
-
-
Wang, Y.1
Jiang, X.2
Xia, Y.3
-
25
-
-
33750447659
-
-
Zhang, D. F.; Sun, L. D.; Xu, G.; Yan, C. H. Phys. Chem. Chem. Phys. 2006, 8, 4874-4880
-
(2006)
Phys. Chem. Chem. Phys.
, vol.8
, pp. 4874-4880
-
-
Zhang, D.F.1
Sun, L.D.2
Xu, G.3
Yan, C.H.4
-
27
-
-
42549164701
-
-
Qin, L. P.; Xu, J. Q.; Dong, X. W.; Pan, Q. Y.; Cheng, Z. X.; Xiang, Q.; Li, F. Nanotechnology 2008, 19, 185705
-
(2008)
Nanotechnology
, vol.19
, pp. 185705
-
-
Qin, L.P.1
Xu, J.Q.2
Dong, X.W.3
Pan, Q.Y.4
Cheng, Z.X.5
Xiang, Q.6
Li, F.7
-
28
-
-
2442444266
-
-
Cheng, B.; Russell, J. M.; Shi, W. S.; Zhang, L.; Samulski, E. T. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5972-5973
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 5972-5973
-
-
Cheng, B.1
Russell, J.M.2
Shi, W.S.3
Zhang, L.4
Samulski, E.T.5
-
31
-
-
62549090203
-
-
Liu, J. P.; Li, Y. Y.; Huang, X. T.; Ding, R. M.; Hu, Y. Y.; Jiang, J.; Liao, L. J. Mater. Chem. 2009, 19, 1859-1864
-
(2009)
J. Mater. Chem.
, vol.19
, pp. 1859-1864
-
-
Liu, J.P.1
Li, Y.Y.2
Huang, X.T.3
Ding, R.M.4
Hu, Y.Y.5
Jiang, J.6
Liao, L.7
-
32
-
-
4944221246
-
-
Ghosh, R.; Basak, D.; Fujihara, S. J. Appl. Phys. 2004, 96, 2689
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.96
, pp. 2689
-
-
Ghosh, R.1
Basak, D.2
Fujihara, S.3
-
33
-
-
33846131956
-
-
Schwenzer, B.; Gomm, J. R.; Morse, D. E. Langmuir 2006, 22, 9829-9831
-
(2006)
Langmuir
, vol.22
, pp. 9829-9831
-
-
Schwenzer, B.1
Gomm, J.R.2
Morse, D.E.3
-
34
-
-
0037467956
-
-
Lee, H. Y.; Ko, H. J.; Yao, T. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 523
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.82
, pp. 523
-
-
Lee, H.Y.1
Ko, H.J.2
Yao, T.3
-
35
-
-
0036571917
-
-
Shi, W. S.; Agyeman, O.; Xu, C. N. J. Appl. Phys. 2002, 91, 5640
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.91
, pp. 5640
-
-
Shi, W.S.1
Agyeman, O.2
Xu, C.N.3
-
36
-
-
33845382492
-
-
Zhou, X. T.; Heigl, F.; Murphy, M. W.; Regier, T.; Coulthard, I.; Blyth, R. I. R.; Sham, T. K. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 213109
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 213109
-
-
Zhou, X.T.1
Heigl, F.2
Murphy, M.W.3
Regier, T.4
Coulthard, I.5
Blyth, R.I.R.6
Sham, T.K.7
-
37
-
-
42149122580
-
-
Zhou, X. T.; Zhou, J. G.; Murphy, M. W.; Ko, J. Y. P.; Heigl, F.; Regier, T.; Blyth, R. I. R.; Sham, T. K. J. Chem. Phys. 2008, 128, 144703
-
(2008)
J. Chem. Phys.
, vol.128
, pp. 144703
-
-
Zhou, X.T.1
Zhou, J.G.2
Murphy, M.W.3
Ko, J.Y.P.4
Heigl, F.5
Regier, T.6
Blyth, R.I.R.7
Sham, T.K.8
-
38
-
-
33947404335
-
-
Regier, T.; Paulsen, J.; Wright, G.; Coulthard, I.; Tan, K. H.; Sham, T. K.; Blyth, R. I. R. AIP Conf. Proc. 2007, 879, 473-476
-
(2007)
AIP Conf. Proc.
, vol.879
, pp. 473-476
-
-
Regier, T.1
Paulsen, J.2
Wright, G.3
Coulthard, I.4
Tan, K.H.5
Sham, T.K.6
Blyth, R.I.R.7
-
39
-
-
78650302019
-
-
Liu, L. J.; Chen, J.; Sham, T. K. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 21353-21359
-
(2010)
J. Phys. Chem. C
, vol.114
, pp. 21353-21359
-
-
Liu, L.J.1
Chen, J.2
Sham, T.K.3
|