메뉴 건너뛰기




Volumn 8, Issue , 2011, Pages 94-99

Modelling silicon characterisation

Author keywords

Characterisation; Modelling

Indexed keywords

CHARACTERIZATION; CRYSTALLINE MATERIALS; ELECTRONIC PROPERTIES; MODELS; SILICON;

EID: 80052098144     PISSN: 18766102     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1016/j.egypro.2011.06.108     Document Type: Conference Paper
Times cited : (26)

References (8)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.