Morphology and size of ion induced carbon nanofibers: Effect of ion incidence angle, sputtering rate, and temperature

Japanese Journal of Applied Physics

Volumn 50, Issue 1 PART 2, 2011, Pages

  Yusop, Mohd Zamri ^a,b   Yamaguchi, Kohei ^a   Suzuki, Takahito ^a   Ghosh, Pradip ^a   Hayashi, Akari ^a   Hayashi, Yasuhiko ^a   Tanemura, Masaki ^a  

^a NAGOYA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

^b UNIVERSITI TEKNOLOGI MALAYSIA   (Malaysia)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FABRICATION TEMPERATURE; GRAPHITE SURFACES; HIGH TEMPERATURE; INCIDENCE ANGLES; ION INCIDENCE ANGLE; ION IRRADIATION; MORPHOLOGY AND SIZE; NORMAL INCIDENCE; NUMBER DENSITY; ROD-LIKE STRUCTURES; ROOM TEMPERATURE; SPUTTERED SURFACES; SPUTTERING RATE;

CARBON FIBERS; CARBON NANOFIBERS; IRRADIATION;

IONS;

EID: 79955135046     PISSN: 00214922     EISSN: 13474065     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JJAP.50.01AF10     Document Type: Conference Paper

References (25)

1. S. Iijima: Nature 354 (1991) 56.
2. J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park, and J. M. Kim: Appl. Phys. Lett. 75 (1999) 3129.
3. A. Thess, P. Nikolaev, H. J. Dai, P. Petit, J. Robert, C. H. Xu, Y. H. Lee, S. G. Kim, A. G. Rinzler, D. T. Cocert, G. E. Scuseria, D. T. Tomanek, J. E. Fisher, and R. E. Smalley: Science 273 (1996) 483.
4. Z. W. Pan, S. S. Xie, B. H. Chang, C. Y. Wang, L. Lu, W. Liu, W. Y. Zhou, and W. Z. Li: Nature 394 (1998) 631.
5. Z. F. Ren, Z. P. Huang, J. W. Xu, J. H. Wang, P. Bush, M. P. Siegal, and P. N. Provencio: Science 282 (1998) 1105.
6. M. Tanemura, K. Iwata, K. Takahashi, Y. Fujimoto, F. Okuyama, H. Sugie, and V. Filip: J. Appl. Phys. 90 (2001) 1529.
7. S. Hofmann, C. Ducati, J. Robertson, and B. Kleinsorge: Appl. Phys. Lett. 83 (2003) 135.
8. R. C. Smith, J. D. Carey, C. H. P. Poa, D. C. Cox, and S. R. P. Silva: J. Appl. Phys. 95 (2004) 3153.
9. Ion Bombardment Modification of Surfaces, ed. O. Auciello and R. Kelly (Elsevier, Amsterdam, 1984).
10. Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis, ed. A. W. Czanderna, T. E. Madey, and C. J. Powell (Plenum Press, New York, 1998) Chap. 3.
11. M. Tanemura, J. Tanaka, K. Itoh, Y. Fujimoto, Y. Agawa, L. Miao, and S. Tanemura: Appl. Phys. Lett. 86 (2005) 113107.
12. M. Tanemura, J. Tanaka, K. Itoh, T. Okita, L. Miao, S. Tanemura, S. P. Lau, L. Huang, Y. Agawa, and M. Kitazawa: Appl. Phys. Lett. 87 (2005) 193102.
13. M. Tanemura, H. Hatano, M. Kitazawa, J. Tanaka, T. Okita, S. P. Lau, H. Y. Yang, S. F. Yu, L. Huang, L. Miao, and S. Tanemura: Surf. Sci. 600 (2006) 3663.
14. K. Yamaguchi, M. Kitazawa, Z. P. Wang, Y. Sugita, J. Tanaka, M. Tanemura, and Y. Hayashi: Diamond Relat. Mater. 17 (2008) 525.
15. M. Tanemura, T. Okita, H. Yamauchi, S. Tanemura, and R. Morishima: Appl. Phys. Lett. 84 (2004) 3831.
16. T. T. Tan, H. S. Sim, S. P. Lau, H. Y. Yang, M. Tanemura, and J. Tanaka: Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 103105.
17. H. S. Sim, S. P. Lau, H. Y. Yang, L. K. Ang, M. Tanemura, and K. Yamaguch: Appl. Phys. Lett. 90 (2007) 143103.
18. M. Tanemura, M. Kitazawa, J. Tanaka, T. Okita, R. Ohta, L. Miao, and S. Tanemura: Jpn. J. Appl. Phys. 45 (2006) 2004
19. M. Tanemura, T. Okita, J. Tanaka, M. Kitazawa, K. Itoh, L. Miao, S. Tanemura, S. P. Lau, H. Yang, and L. Huang: IEEE Trans. Nanotechnol. 5 (2006) 587.
20. M. Tanemura, T. Okita, J. Tanaka, H. Yamauchi, L. Miao, S. Tanemura, and R. Morishima: Eur. Phys. J. D 34 (2005) 283.
21. S. Habenicht: Phys. Rev. B 63 (2001) 125419.
22. G. Carter and V. Vishnyakov: Phys. Rev. B 54 (1996) 17647.
23. T. K. Chini, F. Okuyama, M. Tanemura, and K. Nordlund: Phys. Rev. B 67 (2003) 205403.
24. D. Nicolaescu, V. Filip, and F. Okuyama: J. Vac. Sci. Technol. A 15 (1997) 2369.
25. Y. Neo, H. Mimura, and T. Matsumoto: Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 073511.