Formation and grain analysis of spin-cast magnetic nanoparticle monolayers

Langmuir

Volumn 27, Issue 8, 2011, Pages 5040-5046

  Johnston Peck, Aaron C ^a   Wang, Junwei ^a   Tracy, Joseph B ^a  

^a North Carolina State University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CLOSE PACKING; GRAIN ORIENTATION; GRAIN STRUCTURES; HIGH RESOLUTION; INTERSTITIALS; LARGE-GRAIN; LIGAND-STABILIZED; MAGNETIC NANOPARTICLES; MINIMAL DEFECT; PACKED ARRAYS; POLYDISPERSE SIZE DISTRIBUTIONS; STANDARD DEVIATION; TEM; TRANSLATIONAL CORRELATION LENGTHS; ULTRA-VIOLET LIGHT;

COMPUTER AIDED ANALYSIS; DEFECTS; EDGE DISLOCATIONS; GRAIN BOUNDARIES; GRAIN SIZE AND SHAPE; HEXANE; MONOLAYERS; NANOMAGNETICS; NANOPARTICLES; OZONE; POLYDISPERSITY; SILICON NITRIDE; SILICON WAFERS; SIZE DETERMINATION; SIZE DISTRIBUTION; SUBSTRATES; ULTRAVIOLET RADIATION;

HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 79953881764     PISSN: 07437463     EISSN: 15205827     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la200005q     Document Type: Article

References (67)

1. Anikeeva, P. O.; Halpert, J. E.; Bawendi, M. G.; Bulović, V. Nano Lett. 2007, 7, 2196-2200
2. Coe-Sullivan, S.; Steckel, J. S.; Woo, W. K.; Bawendi, M. G.; Bulović, V. Adv. Funct. Mater. 2005, 15, 1117-1124
3. Caruge, J. M.; Halpert, J. E.; Wood, V.; Bulović, V.; Bawendi, M. G. Nat. Photon. 2008, 2, 247-250
4. Lin, S. C.; Lee, Y. L.; Chang, C. H.; Shen, Y. J.; Yang, Y. M. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 143517
5. Sun, S. H.; Murray, C. B.; Weller, D.; Folks, L.; Moser, A. Science 2000, 287, 1989-1992
6. Li, C. Z.; Liu, Y. L.; Luong, J. H. T. Anal. Chem. 2005, 77, 478-485
7. Choi, G. S.; Cho, Y. S.; Son, K. H.; Kim, D. J. Microelectron. Eng. 2003, 66, 77-82
8. Paillet, M.; Jourdain, V.; Poncharal, P.; Sauvajol, J. L.; Zahab, A.; Meyer, J. C.; Roth, S.; Cordente, N.; Amiens, C.; Chaudret, B. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 17112-17118
9. Grunwaldt, J. D.; Kiener, C.; Wögerbauer, C.; Baiker, A. J. Catal. 1999, 181, 223-232
10. Ling, X. Y.; Phang, I. Y.; Vancso, G. J.; Huskens, J.; Reinhoudt, D. N. Langmuir 2009, 25, 3260-3263
11. Robertson, W. M.; Rudy, J. F. J. Acoust. Soc. Am. 1998, 104, 694-699
12. Miyazaki, H. T.; Miyazaki, H.; Ohtaka, K.; Sato, T. J. Appl. Phys. 2000, 87, 7152-7158
13. Polavarapu, L.; Xu, Q. H. Nanotechnology 2009, 20, 185606
14. Greshnykh, D.; Frömsdorf, A.; Weller, H.; Klinke, C. Nano Lett. 2009, 9, 473-478
15. Klecha, E.; Ingert, D.; Walls, M.; Pileni, M. P. Langmuir 2009, 25, 2824
16. Lisiecki, I.; Turner, S.; Bals, S.; Pileni, M. P.; Van Tendeloo, G. Chem. Mater. 2009, 21, 2335-2338
17. Yoon, T. S.; Oh, J. H.; Park, S. H.; Kim, V.; Jung, B. G.; Min, S. H.; Park, J.; Hyeon, T.; Kim, K. B. Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 1062-1068
18. Raj, C. R.; Okajima, T.; Ohsaka, T. J. Electroanal. Chem. 2003, 543, 127-133
19. Dabbousi, B. O.; Murray, C. B.; Rubner, M. F.; Bawendi, M. G. Chem. Mater. 1994, 6, 216-219
20. Chen, S. W. Langmuir 2001, 17, 2878-2884
21. Lee, D. K.; Kim, Y. H.; Kim, C. W.; Cha, H. G.; Kang, Y. S. J. Phys. Chem. B 2007, 111, 9288-9293
22. Santhanam, V.; Liu, J.; Agarwal, R.; Andres, R. P. Langmuir 2003, 19, 7881-7887
23. Bigioni, T. P.; Lin, X. M.; Nguyen, T. T.; Corwin, E. I.; Witten, T. A.; Jaeger, H. M. Nat. Mater. 2006, 5, 265-270
24. Mueggenburg, K. E.; Lin, X. M.; Goldsmith, R. H.; Jaeger, H. M. Nat. Mater. 2007, 6, 656-660
25. Jiang, Z.; Lin, X. M.; Sprung, M.; Narayanan, S.; Wang, J. Nano Lett. 2010, 10, 799-803
26. Martin, M. N.; Basham, J. I.; Chando, P.; Eah, S. K. Langmuir 2010, 26, 7410-7417
27. Decher, G.; Hong, J. D.; Schmitt, J. Thin Solid Films 1992, 831-835
28. Jiang, C. Y.; Markutsya, S.; Tsukruk, V. V. Langmuir 2004, 20, 882-890
29. Rehg, T. J.; Higgins, B. G. AIChE J. 1992, 38, 489-501
30. Hong, Y. K.; Kim, H.; Lee, G.; Kim, W.; Park, J. I.; Cheon, J.; Koo, J. Y. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 844-846
31. Liu, F. K.; Chang, Y. C.; Ko, F. H.; Chu, T. C.; Dai, B. T. Microelectron. Eng. 2003, 67-68, 702-709
32. Kim, S. G.; Hagura, N.; Iskandar, F.; Yabuki, A.; Okuyama, K. Thin Solid Films 2008, 516, 8721-8725
33. Hanrath, T.; Choi, J. J.; Smilgies, D. M. ACS Nano 2009, 3, 2975-2988
34. Wang, H. B.; Wang, H.; Yang, F. J.; Zhang, J.; Li, Q.; Zhou, M. J.; Jiang, Y. Surf. Coat. Technol. 2010, 204, 1509-1513
35. Heitsch, A. T.; Patel, R. N.; Goodfellow, B. W.; Smilgies, D. M.; Korgel, B. A. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 14427-14432
36. Jiang, P.; McFarland, M. J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 13778-13786
37. Ogi, T.; Modesto-Lopez, L. B.; Iskandar, F.; Okuyama, K. Colloids Surf., A 2007, 297, 71-78
38. Wee, L. H.; Tosheva, L.; Vasilev, C.; Doyle, A. M. Microporous Mesoporous Mater. 2007, 103, 296-301
39. Liu, X. F.; Sun, C. H.; Linn, N. C.; Jiang, B.; Jiang, P. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 14804-14811
40. Segalman, R. A.; Hexemer, A.; Hayward, R. C.; Kramer, E. J. Macromolecules 2003, 36, 3272-3288
41. Harrison, C.; Angelescu, D. E.; Trawick, M.; Cheng, Z. D.; Huse, D. A.; Chaikin, P. M.; Vega, D. A.; Sebastian, J. M.; Register, R. A.; Adamson, D. H. Europhys. Lett. 2004, 67, 800-806
42. Mátéfi-Tempfli, S.; Mátéfi-Tempfli, M.; Piraux, L. Thin Solid Films 2008, 516, 3735-3740
43. Hillebrand, R.; Müller, F.; Schwirn, K.; Lee, W.; Steinhart, M. ACS Nano 2008, 2, 913-920
44. Dullens, R. P. A.; Mourad, M. C. D.; Aarts, D.; Hoogenboom, J. P.; Kegel, W. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 028304
45. Knapek, C. A.; Samsonov, D.; Zhdanov, S.; Konopka, U.; Morfill, G. E. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 015004
46. Kim, B.; Carignano, M. A.; Tripp, S. L.; Wei, A. Langmuir 2004, 20, 9360-9365
47. Yun, S.-H.; Yoo, S. I.; Jung, J. C.; Zin, W.-C.; Sohn, B.-H. Chem. Mater. 2006, 18, 5646-5648
48. Chen, M.; Liu, J. P.; Sun, S. H. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8394-8395
49. Johnston-Peck, A. C.; Wang, J.; Tracy, J. B. ACS Nano 2009, 3, 1077-1084
50. Nelson, D. R. Defects and Geometry in Condensed Matter Physics; Cambridge University Press: Cambridge, 2002.
51. Vig, J. R. J. Vac. Sci. Technol., A 1985, 3, 1027-1034
52. Kasi, S. R.; Liehr, M. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 2095-2097
53. Ogbuji, L. U. T.; Jayne, D. T. J. Electrochem. Soc. 1993, 140, 759-766
54. Zazzera, L.; Evans, J. F. J. Vac. Sci. Technol., A 1993, 11, 934-939
55. Ito, T.; Namba, M.; Bühlmann, P.; Umezawa, Y. Langmuir 1997, 13, 4323-4332
56. Hirth, J. P.; Lothe, J. Theory of Dislocations, 2 nd ed.; John Wiley & Sons: New York, 1982.
57. Strandburg, K. J. Bond-Orientational Order in Condensed Matter Systems; Springer-Verlag: New York, 1992.
58. Dimitrov, A. S.; Nagayama, K. Langmuir 1996, 12, 1303-1311
59. Denkov, N.; Velev, O.; Kralchevski, P.; Ivanov, I.; Yoshimura, H.; Nagayama, K. Langmuir 1992, 8, 3183-3190
60. Rakers, S.; Chi, L. F.; Fuchs, H. Langmuir 1997, 13, 7121-7124
61. Zhao, Y.; Marshall, J. S. Phys. Fluids 2008, 20, 043302
62. Murray, C. B.; Kagan, C. R.; Bawendi, M. G. Annu. Rev. Mater. Res. 2000, 30, 545-610
63. Bishop, K. J. M.; Wilmer, C. E.; Soh, S.; Grzybowski, B. A. Small 2009, 5, 1600-1630
64. Shevchenko, E.; Talapin, D.; Kornowski, A.; Wiekhorst, F.; Kotzler, J.; Haase, M.; Rogach, A.; Weller, H. Adv. Mater. 2002, 14, 287-290
65. Jana, N. R. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 1536-1540
66. Sau, T. K.; Murphy, C. J. Langmuir 2005, 21, 2923-2929
67. Dullens, R. P. A.; de Villeneuve, V. W. A.; Mourad, M. C. D.; Petukhov, A. V.; Kegel, W. K. Eur. Phys. J.: Appl. Phys. 2008, 44, 21-28