Surface sensitive study to determine the reactivity of soot with the focus on the European emission standards IV and VI

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 115, Issue 12, 2011, Pages 2568-2580

  Schuster, Manfred E ^a   Hävecker, Michael ^a   Arrigo, Rosa ^a   Blume, Raoul ^a   Knauer, Markus ^b   Ivleva, Natalia P ^b   Su, Dang Sheng ^a   Niessner, Reinhard ^b   Schlögl, Robert ^a  

^a FRITZ HABER INSTITUT DER MAX PLANCK GESELLSCHAFT   (Germany)

^b TECHNICAL UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DIESEL SOOT; EMISSION STANDARD; HYPOTHETICAL STRUCTURES; NEAR-EDGE X-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE SPECTROSCOPIES; O K-EDGES; OXYGEN FUNCTIONAL GROUPS; OXYGEN SURFACE; SOOT SAMPLES; SPECTROSCOPIC METHOD; STRUCTURAL DISORDERS; X RAY PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; XPS;

DIESEL ENGINES; EMISSION SPECTROSCOPY; FUNCTIONAL GROUPS; OXYGEN; SOOT; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

ABSORPTION SPECTROSCOPY;

ARTICLE; CHEMISTRY; EUROPE; EXHAUST GAS; LEGAL ASPECT; SOOT; SURFACE PROPERTY; TEMPERATURE; X RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EUROPE; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SOOT; SURFACE PROPERTIES; TEMPERATURE; VEHICLE EMISSIONS; X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY;

EID: 79953031491     PISSN: 10895639     EISSN: 15205215     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp1088417     Document Type: Article

References (70)

1. Sydbom, A.; Blomberg, A.; Parnia, S.; Stenfors, N.; Sandström, T.; Dahlén, S.-E. Eur. Respir. J. 2001, 17, 733
2. Su, D. S.; Serafino, A.; Muller, J. O.; Jentoft, R. E.; Schlögl, R.; Fiorito, S. Environ. Sci. Technol. 2008, 42, 1761
3. Su, D. S.; Jentoft, R. E.; Müller, J.-O.; Rothe, D.; Jacob, E.; Simpson, C. D.; Tomovic, Z.; Müllen, K.; Messerer, A.; Pöschl, U.; Niessner, R.; Schlögl, R. Catal. Today 2004, 90, 127
4. Schlögl, R. Handbook of Heterogeneous Catalysis; Wiley: New York, 1997; Vol 1, 2.3.15, p 357
5. Müller, J.; Su, D. S.; Jentoft, R. E.; Wild, U.; Schlögl, R. Environ. Sci. Technol. 2006, 40, 1231-1236
6. Müller, J.-O.; Su, D. S.; Wild, U.; Schlögl, R. Phys. Chem. Chem. Phys. 2007, 9, 4018
7. Palotás, Á. B.; Rainey, L. C.; Feldermann, C. J.; Sarofim, A. F.; Vander Sande, J. B. Microsc. Res. Tech. 1996, 33, 266
8. Vander Wal, R. L.; Tomasek, A. J. Combust. Flame 2003, 134, 1
9. Boehman, A. L.; Song, J.; Alam, M. Energy Fuels 2005, 19, 1857
10. Braun, A.; Huggins, F. E.; Shah, N.; Chen, Y.; Wirick, S.; Mun, S. B.; Jacobsen, C.; Huffman, G. P. Carbon 2005, 43, 117
11. Palotás, Á. B.; Rainey, L. C.; Feldermann, C. J.; Sarofim, A. F.; Vander Sande, J. B. Microsc. Res. Tech. 1996, 33, 266
12. Vander Wal, R. L; Tomasek, A. J. Combust. Flame 2003, 134, 1
13. Vander Wal, R. L; Yezerets, A.; Currier, N. W.; Kim, D. H.; Wang, C. M. Carbon 2007, 45, 70
14. Knauer, M.; Schuster, M. E.; Su, D. S.; Schlögl, R.; Niessner, R.; Ivleva, N. P. J. Phys. Chem. A 2009, 113, 13871-13880
15. Ivleva, N. P.; Messerer, A.; Yang, X.; Niessner, R.; Pöschl, U. Environ. Sci. Technol. 2007, 41, 3702
16. Knauer, M.; Carrara, M.; Rothe, D.; Niessner, R.; Ivleva, N. P. Aerosol Sci. Technol. 2009, 43, 1
17. Katrinak, K. A.; Rez, P.; Buseck, P. R. Environ. Sci. Technol. 1992, 26, 1967
18. Browning, N. D.; Wallis, D. J.; Nellist, P. D.; Pennycook, S. J. Micron 1997, 28, 333
19. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer Series in Surface Science; Springer Verlag: Berlin, 1996; p 25.
20. Rightor, E. G.; Hitchcock, A. P.; Ade, H.; Leapman, R. D.; Urquhart, S. G.; Smith, A. P.; Mitchell, G.; Fischer, D.; Shin, H. J.; Warwick, T. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 1950
21. Braun, A. J. Environ. Monitor. 2005, 7, 1059-1065
22. Braun., A.; Kubativa, A.; Wirick, S.; Mun, S. B. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2009, 170, 42
23. M. Hävecker; Senf, F.; Schmidt, J.-S.; A. Knop-Gericke; Eberhardt, W.; R. Schlögl, to be submitted to Nucl. Instr. Methods
24. Vass, E. M.; Hävecker, M.; Zafeiratos, S.; Teschner, D.; Knop-Gericke, A.; Schlögl, R. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 1
25. Yeh, J. J.; Lindau, I. Atomic Data Nucl. Tables 1985, 32, 1
26. Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1972, 5, 4709
27. CasaXPS software.
28. Wertheim, G. K.; Citrin, P. H. Photoemission in Solids I; Springer Verlag: Berlin, 1979; p 197.
29. Briggs, D.; Seah, M. P. Practical Surface Analysis; Wiley: Chichester, 1990.
30. Ma, Y.; Chen, C. T.; Meigs, G.; Randall, K.; Sette, F. Phys. Rev. A 1991, 44, 1848
31. Hitchcock, A. P.; Brion, C. E. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1980, 18, 1
32. Prince, K. C.; Ulrych, I.; Peloi, M.; Ressel, B.; Cháb, V.; Crotti, C.; Comicioli, C. Phys. Rev. B 2000, 62, 6866
33. Baer, Y. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1981, 24, 95
34. van Attekum, P. M. T. M.; Wertheim, G. K. Phys. Rev. Lett. 1979, 43, 1896
35. Schlögl, R.; Boehm, H. P. Carbon 1983, 21, 345
36. Wild, U.; Pfänder, N.; Schlögl, R. Fresenius J. Anal. Chem. 1997, 357, 420
37. Sherwood, P. M. A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1996, 81, 319
38. McFeely, F. R.; Kowalczyk, S. P.; Ley, L.; Cavell, R. G.; Pollak, R. A.; Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1974, 9, 5268
39. Desimoni, E.; Casella, G. I.; Morone, A.; Salvi, A. M. Surf. Interface Anal. 1990, 15, 627
40. Desimoni, E.; Casella, G. I.; Salvi, A. M. Carbon 1992, 30, 521
41. Arrigo, R.; Hävecker, M.; Wrabetz, S.; Blume, R.; Lerch, M.; McGregor, J.; Parrott, E. P.; Zeitler, J. A.; Gladden, L. F.; Knop-Gericke, A.; Schlögl, R.; Su, D. S. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132 (28) 9616-30
42. Arrigo, R; Ph.D. Thesis, TU Berlin, 2009
43. Lahaye, J.; Nanse, G.; Fioux, P.; Bagreev, A.; Broshnik, A.; Strelko, V. Appl. Sur. Sci. 1999, 147, 153
44. Pels, J. R.; Kapteijn, F.; Moulijn, J. A.; Zhu, Q.; Thomas, K. M. Carbon 1995, 33, 1641
45. Seah, M. P.; Dench, W. A. Surf. Interface Anal. 1979, 1, 2-11
46. Bluhm, H.; Havecker, M.; Knop-Gericke, A.; Kleimenov, E.; Schlögl, R.; Teschner, D.; Bukhtiyarov, V. I.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 14340-14347
47. Zangwill, A. Physics at Surfaces; Cambridge University Press: New York, 1988.
48. Chiou, J. W.; Yueh, C. L.; Jan, J. C.; Tsai, H. M.; Pong, W. F.; Hong, I. H.; Klauser, R.; Tsai., M.-H. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4189
49. Waidmann, S.; Knupfer, M.; Fink, J.; Kleinsorge, B.; Robertson, J. J. Appl. Phys. 2001, 89, 3783
50. Brandes, J. A; Cody, G. D.; Rumble, D.; Haberstroh, P.; Wirick, S.; Gelinas, Y. Carbon 2008, 46, 1424
51. Urquhart, S. G.; Hitchcock, A. P.; Priester, R. D.; Rightor, E. J. J. Polym. Sci. Part B 1995, 33, 1603
52. Kuznetsova, A.; Popova, I.; Yates, J. T., Jr.; Bronikowski, M. J.; Huffman, C. B.; Liu, J.; Smalley, R. E.; Hwu, H. H.; Chen, J. G. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 10699-10704
53. Lenardi, C.; Pisenri, P.; Briois, V.; Bottani, C. E.; Li Bassi, A.; Milani, P. J. Appl. Phys. 1999, 85, 7159
54. Urquhart, S. G.; Ade, H. J Phys Chem B 2002, 106, 8531
55. Terminello, L. J.; Shuh, D. K.; Himpsel, F. J.; Lapiano-Smith, D. A.; Stöhr, J.; Bethune, D. S.; Meijer, G. Chem. Phys. Lett. 1991, 182, 491
56. Bressler, P. R.; Lübbe, M.; Zahn, D. R. T.; Braun, W. J. Vac. Sci. Technol. A 1997, 15, 2085
57. Kikuma, J.; Yoneyama, K.; Nomura, M.; Konishi, T.; Hashimoto, T.; Mitsumoto, R.; Ohuchi, Y.; Seki, K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88-91, 919
58. Fischer, D. A.; Wentzcovitch, R. M.; Carr, R. G.; Continenza, A.; Freeman, A. J. Phys Rev B 1991, 44, 1427
59. Entani, S.; Ikeda, S.; Kiguchi, M.; Saiki, K.; Yoshikawa, G.; Nakai, I.; Kondoh, H.; Ohta, T. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 153126
60. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608
61. Atamny, F.; Blöcker, J.; Henschke, B.; Schlögl, R.; Schedel-Niedrig, T.; Keil, M.; Bradshaw, A. M. J. Phys. Chem. 1992, 96, 4522
62. Chen, P.; Wu, X.; Sun, X.; Lin, J.; Ji, W.; Tan, K. L. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 2548
63. Proctor, A.; Sherwood, P. M. A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1982, 27, 39
64. Proctor, A.; Sherwood, P. M. A. Anal. Chem. 1982, 54, 13
65. Felicíssimo, V. C.; Cesar, A.; Luo, Y.; Gel'mukhanov, F.; Ågren, H. J. Phys. Chem. A 2005, 109 (33) 7385
66. Plashkevych, O.; Carravetta, V.; Vahtras, O.; Ågren, H. Chem. Phys. 1998, 232, 49
67. Clark, D. T.; Thomas, H. R. J. Polym. Sci. 1976, 14, 1671
68. Clark, D. T.; Peeling, J.; Cooling, L. Biochim. Biophys. Acta 1976, 453, 533
69. Schedel-Niedrig, T.; Weiss, W.; Schlögl, R. Phys. Rev. B 1995, 52, 17449
70. Dong, G. L.; Hüttinger, K. J. Carbon 2002, 40 (14) 2515-2528