Flash nano-welding: Investigation and control of the photothermal response of ultrathin bismuth sulfide nanowire films

Advanced Materials

Volumn 22, Issue 39, 2010, Pages 4395-4400

  Thomson, Jordan W ^a   Lawson, Gregor ^b   O'Brien, Paul ^a   Klenkler, Richard ^c   Helander, Michael G ^a   Petrov, Srebri ^a   Lu, Zheng Hong ^a   Kherani, Nazir P ^a   Adronov, Alex ^b   Ozin, Geoffery A ^a  

^a UNIVERSITY OF TORONTO   (Canada)

^b MCMASTER UNIVERSITY   (Canada)

^c XEROX RESEARCH CENTRE OF CANADA   (Canada)

Author keywords

Carbon Nanotubes; Composite Materials; Nanowires; Semiconductors

Indexed keywords

BI-LAYER FILMS; BISMUTH SULFIDE NANOWIRES; CAMERA FLASHES; CONDUCTIVE SUBSTRATES; NANOWIRE FILMS; PHOTO-THERMAL RESPONSE; SEMICONDUCTORS; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBE MATS; ULTRA-THIN;

BISMUTH; COMPOSITE MATERIALS; NANOWIRES; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBES (SWCN); ULTRATHIN FILMS; WELDING;

CARBON NANOTUBES;

BISMUTH; BISMUTH SULFIDE; CARBON NANOTUBE; NANOWIRE; SULFIDE;

ARTICLE; CHEMISTRY; LIGHT; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; TEMPERATURE; VOLATILIZATION; WELDING;

BISMUTH; LIGHT; NANOTECHNOLOGY; NANOTUBES, CARBON; NANOWIRES; SULFIDES; TEMPERATURE; VOLATILIZATION; WELDING;

EID: 78349274075     PISSN: 09359648     EISSN: 15214095     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.201001349     Document Type: Article

References (42)

1. B. O. Dabbousi, J. RodriguezViejo, F. V. Mikulec, J. R. Heine, H. Mattoussi, R. Ober, K. F. Jensen, M. G. Bawendi, J. Phys. Chem. B 1997, 101, 9463.
2. R. J. Ellingson, M. C. Beard, J. C. Johnson, P. R. Yu, O. I. Micic, A. J. Nozik, A. Shabaev, A. L. Efros, Nano Lett. 2005, 5, 865.
3. B. Dubertret, P. Skourides, D. J. Norris, V. Noireaux, A. H. Brivanlou, A. Libchaber, Science 2002, 298, 1759.
4. I. Gur, N. A. Fromer, M. L. Geier, A. P. Alivisatos, Science 2005, 310, 462.
5. G. Konstantatos, I. Howard, A. Fischer, S. Hoogland, J. Clifford, E. Klem, L. Levina, E. H. Sargent, Nature 2006, 442, 180.
6. J. M. Caruge, J. E. Halpert, V. Wood, V. Bulovic, M. G. Bawendi, Nat Photonics 2008, 2, 247.
7. J. Britt, C. Ferekides, Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 2851.
8. D. B. Mitzi, Adv. Mater. 2009, 21, 3141.
9. M. V. Kovalenko, M. Scheele, D. V. Talapin, Science 2009, 324, 1417.
10. D. Li, Y. N. Xia, Nat Mater 2004, 3, 753.
11. P. M. Ajayan, M. Terrones, A. de la Guardia, V. Huc, N. Grobert, B. Q. Wei, H. Lezec, G. Ramanath, T. W. Ebbesen, Science 2002, 296, 705.
12. N. Braidy, G. A. Botton, A. Adronov, Nano Lett. 2002, 2, 1277.
13. J. Y. Chen, B. Wiley, Z. Y. Li, D. Campbell, F. Saeki, H. Cang, L. Au, J. Lee, X. D. Li, Y. N. Xia, Adv. Mater. 2005, 17, 2255.
14. N. Wang, B. D. Yao, Y. F. Chan, X. Y. Zhang, Nano Lett. 2003, 3, 475.
15. J. X. Huang, R. B. Kaner, Nat Mater 2004, 3, 783.
16. L. J. Cote, R. Cruz-Silva, J. X. Huang, J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 11027.
17. L. Cademartiri, R. Malakooti, P. G. OíBrien, A. Migliori, S. Petrov, N. P. Kherani, G. A. Ozin, Angew Chem Int Ed 2008, 47, 3814.
18. Y. Maeda, S. Kimura, Y. Hirashima, M. Kanda, Y. F. Lian, T. Wakahara, T. Akasaka, T. Hasegawa, H. Tokumoto, T. Shimizu, H. Kataura, Y. Miyauchi, S. Maruyama, K. Kobayashi, S. Nagase, J. Phys. Chem. B 2004, 108, 18395.
19. N. Choi, M. Kimura, H. Kataura, S. Suzuki, Y. Achiba, W. Mizutani, H. Tokumoto, Jpn J Appl Phys 1 2002, 41, 6264.
20. Y. Sun, S. R. Wilson, D. I. Schuster, J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5348.
21. Z. C. Wu, Z. H. Chen, X. Du, J. M. Logan, J. Sippel, M. Nikolou, K. Kamaras, J. R. Reynolds, D. B. Tanner, A. F. Hebard, A. G. Rinzler, Science 2004, 305, 1273.
22. G. Eda, G. Fanchini, M. Chhowalla, Nat Nanotechnol 2008, 3, 270.
23. S. Berber, Y. K. Kwon, D. Tomanek, Phys Rev Lett 2000, 84, 4613.
24. K. Sun, M. A. Stroscio, M. Dutta, J. Appl. Phys. 2009, 105, 074316.
25. H. Huang, C. H. Liu, Y. Wu, S. S. Fan, Adv. Mater. 2005, 17, 1652.
26. K. Kordas, G. Toth, P. Moilanen, M. Kumpumaki, J. Vahakangas, A. Uusimaki, R. Vajtai, P. M. Ajayan, Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 123105.
27. J. Hone, M. Whitney, A. Zettl, Synthetic Met. 1999, 103, 2498.
28. J. Hone, M. Whitney, C. Piskoti, A. Zettl, Phys. Rev. B 1999, 59, R2514.
29. A. E. Aliev, G. K. Hemani, E. M. Silverman, R. H. Baughman, Materials Research Society Symposium Proceedings 2009, 1142, 1142.
30. X. H. Yan, Y. Xiao, Z. M. Li, J. Appl. Phys. 2006, 99, 124305.
31. B. Kang, Y. D. Dai, S. Q. Chang, D. Chen, Carbon 2008, 46, 978.
32. D. H. Lien, H. F. Kuo, W. K. Hsu, Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 093113.
33. S. H. Tseng, N. H. Tai, W. K. Hsu, L. J. Chen, J. H. Wang, C. C. Chiu, C. Y. Lee, L. J. Chou, K. C. Leou, Carbon 2007, 45, 958.
34. J. W. Thomson, L. Cademartiri, M. MacDonald, P. S. G., Calestani, P. Zhang, G. A. Ozin, J. Am. Chem. Soc. 2010, (submitted).
35. V. Georgakilas, K. Kordatos, M. Prato, D. M. Guldi, M. Holzinger, A. Hirsch, J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 760.
36. J. Cabana, R. Martel, J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 2244.
37. R. Graupner, J Raman Spectrosc 2007, 38, 673.
38. K. Trentelman, J Raman Spectrosc 2009, 40, 585.
39. P. Nikolaev, M. J. Bronikowski, R. K. Bradley, F. Rohmund, D. T. Colbert, K. A. Smith, R. E. Smalley, Chem Phys Lett 1999, 313, 91.
40. General profile and structure analysis softwars for powder diffraction data, Userís Manual, Karlsruhe, Germany, 2003.
41. K. Lukaszewicz, J. Stepien-Damm, A. Pietraszko, A. Kajokas, J. Grigas, Pol J Chem 1999, 73, 541.
42. A. Ikeda, K. Nobusawa, T. Hamano, J. Kikuchi, Org Lett 2006, 8, 5489.