-
1
-
-
77956440397
-
-
U. S. Pat. 6, 472, 012
-
Nakada, T.; Motoyama, K.; Gunji, K.; Wakabayashi, M.; Furusho, H.; Fukuro, H. U. S. Pat. 6, 472, 012 (2002).
-
(2002)
-
-
Nakada, T.1
Motoyama, K.2
Gunji, K.3
Wakabayashi, M.4
Furusho, H.5
Fukuro, H.6
-
2
-
-
77956423517
-
-
U. S. Pat. 56, 046, 382
-
Nomura, H.; Sasaki, T. U. S. Pat. 56, 046, 382 (1997).
-
(1997)
-
-
Nomura, H.1
Sasaki, T.2
-
3
-
-
0040799916
-
-
Walheim, S.; Schaffer, E.; Mlynek, J.; Steiner, U. Science 1999, 283, 520.
-
(1999)
Science
, vol.283
, pp. 520
-
-
Walheim, S.1
Schaffer, E.2
Mlynek, J.3
Steiner, U.4
-
4
-
-
77956441596
-
-
U. S. Pat. 6, 605, 229
-
Steiner, U.; Walheim, S.; Schaffer, E.; Eggert, S.; Mlynek, J. U. S. Pat. 6, 605, 229 (2003).
-
(2003)
-
-
Steiner, U.1
Walheim, S.2
Schaffer, E.3
Eggert, S.4
Mlynek, J.5
-
6
-
-
77956434161
-
-
W. O. Pat. 01/29148
-
Seiberle, H.; Schadt, M.; Ibn-Elhaj, M.; Benecke, C.; Schmitt, K. W. O. Pat. 01/29148 (2001).
-
(2001)
-
-
Seiberle, H.1
Schadt, M.2
Ibn-Elhaj, M.3
Benecke, C.4
Schmitt, K.5
-
7
-
-
24044551691
-
-
Glaser, T.; Ihring, A.; Morgenroth, W.; Seifert, N.; Schroter, S.; Baier, V. Microsyst Technol 2005, 11, 86.
-
(2005)
Microsyst Technol.
, vol.11
, pp. 86
-
-
Glaser, T.1
Ihring, A.2
Morgenroth, W.3
Seifert, N.4
Schroter, S.5
Baier, V.6
-
10
-
-
0031549321
-
-
Uhlmann, D. R.; Suratwala, T.; Davidson, K.; Boulton, J. M.; Teowee, G. J Non-Cryst Solids 1997, 218, 92.
-
(1997)
J. Non-Cryst. Solids
, vol.218
, pp. 92
-
-
Uhlmann, D.R.1
Suratwala, T.2
Davidson, K.3
Boulton, J.M.4
Teowee, G.5
-
11
-
-
33750514578
-
-
Wu, Z.; Walish, J.; Note, A.; Zhai, L.; Cohen, R. E.; Rubner, M. F. Adv Mater 2006, 18, 2699.
-
(2006)
Adv. Mater.
, vol.18
, pp. 2699
-
-
Wu, Z.1
Walish, J.2
Note, A.3
Zhai, L.4
Cohen, R.E.5
Rubner, M.F.6
-
12
-
-
22944488858
-
-
Prevo, B. G.; Hwang, Y.; Velev, O. D. Chem Mater 2005, 17, 3642.
-
(2005)
Chem. Mater.
, vol.17
, pp. 3642
-
-
Prevo, B.G.1
Hwang, Y.2
Velev, O.D.3
-
16
-
-
33847670261
-
-
Jiang, H.; Yu, K.; Wang, Y. Opt Lett 2007, 32, 575.
-
(2007)
Opt. Lett.
, vol.32
, pp. 575
-
-
Jiang, H.1
Yu, K.2
Wang, Y.3
-
18
-
-
13444256392
-
-
Zhang, X. T.; Sato, O.; Taguchi, M.; Einaga, Y.; Murakami, T.; Fujishima, A. Chem Mater 2005, 17, 696.
-
(2005)
Chem. Mater.
, vol.17
, pp. 696
-
-
Zhang, X.T.1
Sato, O.2
Taguchi, M.3
Einaga, Y.4
Murakami, T.5
Fujishima, A.6
-
19
-
-
41849119110
-
-
Gemici, Z.; Shimomura, H.; Cohen, R. E.; Rubner, M. F. Langmuir 2008, 24, 2168.
-
(2008)
Langmuir
, vol.24
, pp. 2168
-
-
Gemici, Z.1
Shimomura, H.2
Cohen, R.E.3
Rubner, M.F.4
-
20
-
-
77956435619
-
-
http://www.sonycid.jp.
-
-
-
-
21
-
-
0031651453
-
-
Liang, J.; Toussaere, E.; Hierele, R.; Levenson, R.; Zyss, J.; Ochs, A. V.; Rousseau, A.; Boutevin, B. Opt Mater 1998, 9, 230.
-
(1998)
Opt. Mater.
, vol.9
, pp. 230
-
-
Liang, J.1
Toussaere, E.2
Hierele, R.3
Levenson, R.4
Zyss, J.5
Ochs, A.V.6
Rousseau, A.7
Boutevin, B.8
-
22
-
-
0033340881
-
-
Bosc, D.; Rousseau, A.; Morand, A.; Benech, P.; Tedjini, S. Opt Mater 1999, 13, 205.
-
(1999)
Opt. Mater.
, vol.13
, pp. 205
-
-
Bosc, D.1
Rousseau, A.2
Morand, A.3
Benech, P.4
Tedjini, S.5
-
24
-
-
34547681824
-
-
Zhou, B.; Shen, J.; Wu, Y.; Wu, G.; Ni, X. Mater Sci Eng C 2007, 27, 1291.
-
(2007)
Mater. Sci. Eng. C
, vol.27
, pp. 1291
-
-
Zhou, B.1
Shen, J.2
Wu, Y.3
Wu, G.4
Ni, X.5
-
25
-
-
0036236506
-
-
Kim, J. Y.; Han, Y. K.; Kim, E. R.; Suh, K. S. Curr Appl Phys 2002, 2, 123.
-
(2002)
Curr. Appl. Phys.
, vol.2
, pp. 123
-
-
Kim, J.Y.1
Han, Y.K.2
Kim, E.R.3
Suh, K.S.4
-
26
-
-
77956425904
-
-
U. S. Pat. 6, 773, 121
-
Miyatake, M.; Masuda, T.; Shigematsu, T.; Yoshioka, M. U. S. Pat. 6, 773, 121 (2004).
-
(2004)
-
-
Miyatake, M.1
Masuda, T.2
Shigematsu, T.3
Yoshioka, M.4
-
27
-
-
0003415938
-
-
Institute of Physics Pub.: Bristol and Philadelphia
-
Macleod, H. A. Thin Film Optical Filters; Institute of Physics Pub.: Bristol and Philadelphia, 2001; Vol. 3.
-
(2001)
Thin Film Optical Filters
, vol.3
-
-
Macleod, H.A.1
|