Non-uniqueness of parameters extracted from resonant second-order nonlinear optical spectroscopies

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 52, 2009, Pages 21895-21902

  Busson, Bertrand ^a   Tadjeddine, Abderrahmane ^a  

^a UNIVERSITÉ PARIS SUD   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRITICAL ANALYSIS; ELECTRONIC ORIGIN; EXPERIMENTAL CURVES; EXPERIMENTAL DATA; NONUNIQUENESS; SECOND-ORDER NONLINEAR OPTICAL;

SURFACE CHEMISTRY;

EID: 73849119955     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp908240d     Document Type: Article

References (53)

1. Richmond, G. L. Chem. Rev. 2002, 102, 2693-2724.
2. Dreesen, L.; Humbert, C.; Sartenaer, Y.; Caudano, Y.; Volcke, C.; Mani, A. A.; Peremans, A.; Thiry, P. A. Langmuir 2004, 20, 7201-7207.
3. Kweskin, S. J.; Rioux, R. M.; Habas, S. E.; Komvopoulos, K.; Yang, P.; Somorjai, G. A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 15920-15925.
4. Bordenyuk, A. N.; Weeraman, C.; Yatawara, A.; Jayathilake, H. D.; Stiopkin, I.; Liu, Y.; Benderskii, A. V. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 8925-8933.
5. Traverse, A.; Humbert, C.; Six, C.; Gayral, A.; Busson, B. Eur. Phys. Lett. 2008, 83, 64004.
6. Pluchery, O.; Humbert, C.; Valamanesh, M.; Lacaze, E.; Busson, B. Phys. Chem. Chem. Phys. 2009, 11, 7729-7737.
7. Miranda, P. B.; Shen, Y. R. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 3292-3307.
8. Busson, B.; Tadjeddine, A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 11813-11821.
9. Peremans, A.; Caudano, Y.; Thiry, P. A.; Dumas, P.; Zheng, W. Q.; Le Rille, A.; Tadjeddine, A. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 2999-3002.
10. Dellwig, T.; Rupprechter, G.; Unterhalt, H.; Freund, H. J. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 776-779.
11. Vidal, F.; Tadjeddine, A. Rep. Prog. Phys. 2005, 68, 1095-1127.
12. Fu, Y.; Wang, H.; Shi, R.; Cheng, J. X. Bioyhys. J. 2007, 92, 3251-3259.
13. Flörsheimer, M.; Brillert, C.; Fuchs, H. Langmuir 1999, 15, 5437-5439.
14. Kuhnke, K.; Hoffmann, D. M. P.; Wu, X. C.; Bittner, A. M.; Kern, K. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3830-3832.
15. Raschke, M. B.; Hayashi, M.; Lin, S. H.; Shen, Y. R. Chem. Phys. Lett. 2002, 359, 367-372.
16. Humbert, C.; Busson, B.; Six, C.; Gayral, A.; Gruselle, M.; Villain, F.; Tadjeddine, A. J. Electroanal. Chem. 2008, 621, 314-321.
17. Humbert, B.; Grausem, J.; Burneau, A.; Spajer, M.; Tadjeddine, A. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 135-137.
18. Schaller, R. D.; Johnson, J. C.; Wilson, K. R.; Lee, L. F.; Haber, L. H.; Saykally, R. J. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 5143-5154.
19. Bloembergen, N. Nonlinear Optics; World Scientific Publishing: Singapore, 1996.
20. Boyd, R. W. Nonlinear optics; Academic Press: San Diego, CA, 2003.
21. Lin, S. H.; Hayashi, M.; Islampour, R.; Yu, J.; Yang, D. Y.; Wu, Y. C. Physica B 1996, 222, 191-208.
22. Lin, S. H.; Villaeys, A. A. Phys. Rev. A 1994, 50, 5134-5144.
23. Hayashi, M.; Lin, S. H.; Raschke, M. B.; Shen, Y. R. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 2271-2282.
24. Huang, J. Y.; Shen, Y. R. Phys. Rev. A 1994, 49, 3973-3981.
25. Le Rille, A.; Tadjeddine, A. J. Electroanal. Chem. 1999, 467, 238-248.
26. Lambert, A. G.; Davies, P. B.; Neivandt, D. J. Appl. Spec. Rev. 2005, 40, 103-145.
27. Tadjeddine, A.; Le Rille, A.; Pluchery, O.; Vidal, F.; Zheng, W. Q.; Peremans, A. Phys. Stat. Sol. A 1999, 175, 89-107.
28. Zhuang, X.; Miranda, P. B.; Kim, D.; Shen, Y. R. Phys. Rev. B 1999, 59, 12632-12640.
29. Hirose, C.; Akamatsu, N.; Domen, K. Appl. Spectrosc. 1992, 46, 1051-1072.
30. Han, S. H.; Ji, N.; Belkin, M. A.; Shen, Y. R. Phys. Rev. B 2002, 66, 165415.
31. Guyot-Sionnest, P.; Shen, Y. R. Phys. Rev. B 1987, 35, 4420-4426.
32. Tourillon, G.; Dreesen, L.; Volcke, C.; Sartenaer, Y.; Thiry, P. A.; Peremans, A. Nanotechnology 2007, 18, 415301.
33. Himmelhaus, M.; Eisert, F.; Buck, M.; Grunze, M. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 576-584.
34. Humbert, C.; Busson, B.; Abid, J. P.; Six, C.; Girault, H. H.; Tadjeddine, A. Electrochim. Acta 2005, 50, 3101-3110, We correct here the misprint in eq 1, which should appear as (Equation Presented)
35. Alieva, E. V.; Kuzik, L. A.; Yakovlev, V. A.; Knippels, G.; van der Meer, A. F. G.; Mattei, G. Chem. Phys. Lett. 1999, 302, 528-532.
36. Eliel, E. R.; van der Ham, E. W. M.; Vrehen, Q. H. F. Appl. Phys. B: Laser Opt. 1999, 68, 349-353.
37. Williams, C. T.; Yang, Y.; Bain, C. D. Langmuir 2000, 16, 2343-2350.
38. Yeganeh, M. S.; Dougal, S. M.; Silbernagel, B. G. Langmuir 2006, 22, 637-641.
39. Bratlie, K. M.; Komvopoulos, K.; Somorjai, G. A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 11865-11868.
40. Neipert, C.; Space, B.; Roney, A. B. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 8749-8756.
41. Vidal, F.; Busson, B.; Tadjeddine, A. Electrochim. Acta 2004, 49, 3637-3641.
42. Lambert, A. G.; Neivandt, D. J.; Briggs, A. M.; Usadi, E. W.; Davies, P. B. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 5461-5469.
43. Lambert, A. G.; Neivandt, D. J.; Briggs, A. M.; Usadi, E. W.; Davies, P. B. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 10693-10700.
44. Braun, R.; Casson, B. D.; Bain, C. D.; van der Ham, E. W. M.; Vrehen, Q. H. F.; Eliel, E. R.; Briggs, A. M.; Davies, P. B. J. Chem. Phys. 1999, 110, 4634-4640.
45. Bratlie, K. M.; Montano, M. O.; Flores, L. D.; Paajanen, M.; Somorjai, G. A. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 12810-12816.
46. Bourguignon, B.; Zheng, W. Q.; Carrez, S.; Ouvrard, A.; Fournier, F.; Dubost, H. Phys. Rev. B 2009, 79, 125433.
47. Sovago, M.; Vartiainen, E.; Bonn, M. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 6100-6106.
48. Sgura, I.; Bozzini, B. Int. J. Non-Linear Mech. 2005, 40, 557-570.
49. van der Ham, E. W. M. Ph.D. Thesis, Rijksuniversiteit: Leiden, Netherlands, 1998.
50. Ji, N.; Ostroverkhov, V.; Chen, C. Y.; Shen, Y. R. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 10056-10057.
51. Wang, J.; Clarke, M. L.; Chen, Z. Anal. Chem. 2004, 76, 2159-2167.
52. Ahlfors, L. V. Complex Analysis; McGraw-Hill: New York, 1979.
53. Blaschke, W. Ber. Verh. Sächs. Akad. Wiss. Leipz., Math.-Phys. Kl. 1915, 67, 194-200.