Chiral specificity of doubly resonant sum-frequency generation in an anisotropic thin film

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 31, 2008, Pages 11813-11821

  Busson, Bertrand ^a   Tadjeddine, Abderrahmane ^a  

^a UNIVERSITÉ PARIS SUD   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION; KETONES; THICK FILMS; THIN FILM DEVICES; THIN FILMS;

DOUBLE RESONANCES; ELECTRONIC TRANSITIONS; IN-SITU; POLARIZED-ABSORPTION; SECOND-ORDER SUSCEPTIBILITIES; SELECTION RULES; SUM-FREQUENCY GENERATIONS; SUM-FREQUENCY-GENERATION; SUPRAMOLECULAR ASSEMBLIES; VIBRATION MODES;

ANISOTROPY;

EID: 49649110926     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp7114719     Document Type: Article

References (49)

1. Byers, J. D.; Yee, H. I.; Petralli-Mallow, T.; Hicks, J. M. Phys. Rev. B 1994, 49, 14643-14647.
2. Petralli-Mallow, T.; Wong, T. M.; Byers, J. D.; Yee, H. I.; Hicks, J. M. J. Phys. Chem, 1993, 97, 1383-1388.
3. Verbiest, T.; Kauranen, M.; Maki, J. J.; Teerenstra, M. N.; Schouten, A. J.; Nolte, R. J. M.; Persoons, A. J. Chem Phys. 1995, 103, 8296-8298.
4. Sioncke, S.; Verbiest, T.; Persoons, A. Mater. Sci. Eng., R 2003, 42, 115-155.
5. Simpson, G. J. Chem Phys. Chem. 2004, 5, 1301-1310.
6. Rentzepis, P. M.; Giordmaine, J. A.; Wecht, K. W. Phys. Rev. Lett. 1966, 16, 792-794.
7. Shkurinov, A. P.; Dubrovskii, A. V.; Koroteev, N. I. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1085-1088.
8. Belkin, M. A.; Kulakov, T. A.; Ernst K. H.; Yan, L.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 4474-4477.
9. Fischer, P.; Wiersma, D. S.; Righini, R.; Champagne, B.; Buckhingham, A. D. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 4253-4256.
10. Fischer, P.; Beckwitt, K.; Wise, F. W.; Albrecht, A. C. Chem Phys. Lett. 2002, 352, 463-468.
11. Fischer, P.; Hache, F. Chirality 2005, 17, 421-437.
12. Fischer, P.; Wise, F. W.; Albrecht, A. C. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 8232-8238.
13. Belkin, M. A.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 2003, 97, 213907.
14. Wang, J.; Chen, X.; Clarke, M. L.; Chen, Z. Proc. Natl. Acad Sci. USA 2005, 102, 4978-4983.
15. Oh-e, M.; Yokoyama, H.; Yorozuva, S.; Akagi, K.; Belkin, M. A.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 267402.
16. Verbiest, T.; Van Elshocht, S.; Kauranen, M.; Hellemans, L.; Snauwaert, J.; Nuckolls, C.; Katz, T. J.; Persoons, A. Science 1998, 282, 913-915.
17. Busson, B.; Kauranen, M.; Nuckolls, C.; Katz, T. J.; Persoons, A. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 79-82.
18. Nuckolls, C.; Katz, T. J.; Katz, G.; Collings, P. J.; Castellanos, L. J. Am. Chem Soc. 1999, 121, 79-88.
19. Nuckolls, C.; Katz, T. J.; Castellanos, L. J. Am Chem Soc. 1996, 118, 3767-3768.
20. Lovinger, A. J.; Nuckolls, C.; Katz, T. J. J. Am Chem Soc. 1998, 120, 264-268.
21. Nuckolls, C.; Katz, T. J.; Verbiest, T.; Van Elshocht, S.; Kuball, H. G.; Kiesewalter, S.; Lovinger, A. J.; Persoons, A. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 8656-8660.
22. Choi, H. S.; Kim, K. S. J. Phys. Chem B 2000, 104, 11006-11009.
23. Van Elshocht, S.; Verbiest, T.; de Schaetzen, G.; Hellemans, L.; Phillips, K. E. S.; Nuckolls, C.; Katz, T. J.; Persoons, A. Chem Phys. Lett. 2000, 133, 340-344.
24. Aspnes, D. E.; Harbison, J. P.; Studna, A. A.; Florez, L. T. Appl. Phys. Lett. 1988, 52, 957-959.
25. Weightman, P.; Martin, D. S.; Cole, R. J.; Farrell, T. Rep. Prog. Phys. 2005, 68, 1251-1341.
26. Humbert, C.; Busson, B.; Abid, J. P.; Six, C.; Girault, H. H.; Tadjeddine, A. Electrochim Acta 2005, 50, 3101-3110.
27. Worrell, C. A. J. Mater. Sci. 1986, 21, 781-787.
28. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D., Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cut, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
29. Halls, M. D.; Velkovski, J.; Schlegel, H. B. Theor. Chem. Acc. 2001, 105, 413-421.
30. Pecile, C.; Lunelli, B. J. Chem Phys. 1967, 46, 2109-2118.
31. Lehmann, K. K.; Smolarek, J.; Khalil, O. S.; Goodman, L. J. Phys. Chem 1979, 83, 1200-1205.
32. Han, S. W.; Ha, T. H.; Kim, C. H.; Kim, K. Langmuir 1998, 14, 6113-6120.
33. Boyd, R. W. Nonlinear optics; Academic Press: San Diego, CA, 2003.
34. Shen, Y. R. The principles of nonlinear optics; Wiley & Sons: New York, NY, 1984.
35. Lin, S. H.; Villaeys, A. A. Phys. Rev. A 1994, 50, 5134-5144.
36. Kauranen, M.; Van Elshocht, S.; Verbiest, T.; Persoons, A. J. Chem. Phys. 2000, 112, 1497-1502.
37. Giordmaine, J. A. Phys. Rev. 1965, 138, 1599-1606.
38. Maki, J. J.; Kauranen, M.; Persoons, A. Phys. Rev. B 1995, 51, 1425-1434.
39. Born, M.; Wolf, E. Principles of optics; Cambridge University Press: Cambridge, UK, 1999.
40. Heinz, T. F. In Nonlinear Surface Electromagnetic Phenomena; Ponath, H.-E.; Stegeman, G. I. Ed.; Elsevier Science Publishers: Amsterdam, NL, 1991; pp 353-416.
41. Zhuang, X.; Miranda, P. B.; Kim, D.; Shen, Y. R. Phys. Rev. B 1999, 59, 12632-12640.
42. Chabal, Y. Surf. Sci. Rep. 1988, 8, 211-357.
43. Moad, A. J.; Simpson, G. J. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 3548-3562.
44. Hayashi, M.; Lin, S. H.; Raschke, M. B.; Shen, Y. R. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 2271-2282.
45. Herzberg, G. Molecular spectra and molecular structure, volume 111; Krieger Publishing Company: Malabar, FL, 1991.
46. Schanne-Klein, M. C.; Mesnil, H.; Boulesteix, T.; Hache, F. Rec. Res. Devel. Chem. Phys. 2003, 4, 487-517.
47. Hache, F.; Mesnil, H.; Schanne-Klein, M. C. J. Chem. Phys. 2001, 115, 6707-6715.
48. Maki, J. J.; Persoons, A. J. Chem. Phys. 1996, 104, 9340-9348.
49. Sioncke, S.; Van Elshocht, S.; Verbiest, T.; Persoons, A.; Kauranen, M.; Phillips, K. E. S.; Katz, T. J. J. Chem. Phys. 2000, 113, 7578-7581.