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Volumn 246, Issue 3, 2009, Pages 482-485

Polarized Raman study of self-assembled Ge/Si dots under hydrostatic pressure

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EID: 70449365086     PISSN: 03701972     EISSN: 15213951     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.200880529     Document Type: Article
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References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.