-
2
-
-
0001530012
-
-
doi:10.1063/1.121928
-
F.E. Kruis, K. Nielsch, H. Fissan, B. Rellinghaus, E.F. Wasserman, Appl. Phys. Lett. 73, 547 (1998). doi:10.1063/1.121928.
-
(1998)
Appl. Phys. Lett.
, vol.73
, pp. 547
-
-
Kruis, F.E.1
Nielsch, K.2
Fissan, H.3
Rellinghaus, B.4
Wasserman, E.F.5
-
3
-
-
33751228420
-
-
doi:10.1016/j.electacta.2006.01.081
-
G. Gorokh, A. Mozalev, D. Solovei, V. Khatko, E. Llobet, X. Correig, Electrochim. Acta 52, 1771 (2006). doi:10.1016/j.electacta.2006.01.081.
-
(2006)
Electrochim. Acta
, vol.52
, pp. 1771
-
-
Gorokh, G.1
Mozalev, A.2
Solovei, D.3
Khatko, V.4
Llobet, E.5
Correig, X.6
-
4
-
-
12444281724
-
-
doi:10.1016/j.jelechem.2004.08.023
-
J. Wang, N.V. Myung, M. Yun, H.G. Monbouquette, J. Electroanal. Chem. 575, 139 (2005). doi:10.1016/j.jelechem.2004.08.023.
-
(2005)
J. Electroanal. Chem.
, vol.575
, pp. 139
-
-
Wang, J.1
Myung, N.V.2
Yun, M.3
Monbouquette, H.G.4
-
6
-
-
0000684647
-
-
doi:10.1063/1.120128
-
H. Masuda, H. Yamada, M. Satoh, H. Asoh, M. Nakao, T. Tamamura, Appl. Phys. Lett. 71, 2770 (1997). doi:10.1063/1.120128.
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.71
, pp. 2770
-
-
Masuda, H.1
Yamada, H.2
Satoh, M.3
Asoh, H.4
Nakao, M.5
Tamamura, T.6
-
7
-
-
4444289857
-
-
doi:10.1126/science.268.5216.1466
-
H. Masuda, K. Fukuda, Science 268, 1466 (1995). doi:10.1126/science.268.5216.1466.
-
(1995)
Science
, vol.268
, pp. 1466
-
-
Masuda, H.1
Fukuda, K.2
-
8
-
-
0030271091
-
-
doi:10.1109/16.536810
-
D. Routkevitch, A.A. Tager, J. Haruyama, D. Almawlawi, M. Moskovits, J.M. Xu, IEEE Trans. Electron Dev. 147, 1646 (1996). doi:10.1109/16.536810.
-
(1996)
IEEE Trans. Electron Dev.
, vol.147
, pp. 1646
-
-
Routkevitch, D.1
Tager, A.A.2
Haruyama, J.3
Almawlawi, D.4
Moskovits, M.5
Xu, J.M.6
-
10
-
-
33847615172
-
-
doi:10.1016/j.apsusc.2006.12.080
-
R. Inguanta, M. Butera, C. Sunseri, S. Piazza, Appl. Surf. Sci. 253, 5447 (2007). doi:10.1016/j.apsusc.2006.12.080.
-
(2007)
Appl. Surf. Sci.
, vol.253
, pp. 5447
-
-
Inguanta, R.1
Butera, M.2
Sunseri, C.3
Piazza, S.4
-
12
-
-
33845406924
-
-
doi:10.1063/1.2387868
-
Z. Fan, D. Dutta, C.J. Chien, H.Y. Chen, E.C. Brown, P.C. Chang, J.G. Lu, Appl. Phys. Lett. 89, 213110-213111 (2006). doi:10.1063/1.2387868.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 213110-213111
-
-
Fan, Z.1
Dutta, D.2
Chien, C.J.3
Chen, H.Y.4
Brown, E.C.5
Chang, P.C.6
Lu, J.G.7
-
13
-
-
37549002030
-
-
doi:10.1021/cg0605178
-
Q. Wang, X. Sun, S. Luo, L. Sun, X. Wu, M. Cao, C. Hu, Cryst. Growth Des. 7, 2665 (2007). doi:10.1021/cg0605178.
-
(2007)
Cryst. Growth Des.
, vol.7
, pp. 2665
-
-
Wang, Q.1
Sun, X.2
Luo, S.3
Sun, L.4
Wu, X.5
Cao, M.6
Hu, C.7
-
14
-
-
0034838576
-
-
doi:10.1021/cm0007297
-
X.Y. Zhang, L.D. Zhang, W. Chen, G.W. Meng, M.J. Zheng, L.X. Zhao, Chem. Mater. 13, 2511 (2001). doi:10.1021/cm0007297.
-
(2001)
Chem. Mater.
, vol.13
, pp. 2511
-
-
Zhang, X.Y.1
Zhang, L.D.2
Chen, W.3
Meng, G.W.4
Zheng, M.J.5
Zhao, L.X.6
-
15
-
-
0037051242
-
-
doi:10.1016/S0040-6090(01)01769-2
-
Y.C. Sui, B.L. Cui, L. Martínez, R. Pérez, D.J. Sellmyer, Thin Solid Films 406, 64 (2002). doi:10.1016/S0040-6090(01)01769-2.
-
(2002)
Thin Solid Films
, vol.406
, pp. 64
-
-
Sui, Y.C.1
Cui, B.L.2
Martínez, L.3
Pérez, R.4
Sellmyer, D.J.5
-
16
-
-
0037581942
-
-
doi:10.1002/(SICI)1521-4095(200004)12:8<582::AID-ADMA582>3.0.CO;2-3
-
K. Nielsch, F. Müller, A. Li, U. Gösele, Adv. Mater. 12, 582 (2000). doi:10.1002/(SICI)1521-4095(200004)12:8<582::AID-ADMA582>3.0.CO;2-3.
-
(2000)
Adv. Mater.
, vol.12
, pp. 582
-
-
Nielsch, K.1
Müller, F.2
Li, A.3
Gösele, U.4
-
17
-
-
0040968531
-
-
doi:10.1063/1.1345857
-
A. Kazadi, J. Rivas, G. Zaragoza, M.A. López-Quintela, M.C. Blanco, J. Appl. Phys. 89, 3393 (2001). doi:10.1063/1.1345857.
-
(2001)
J. Appl. Phys.
, vol.89
, pp. 3393
-
-
Kazadi, A.1
Rivas, J.2
Zaragoza, G.3
López-Quintela, M.A.4
Blanco, M.C.5
-
18
-
-
65849334517
-
-
A. Santos, L. Vojkuvka, J. Pallarés, J. Ferré-Borrull, L.F. Marsal (2009) J. Electroanal. Chem. (accepted). doi: 10.1016/j.jelechem.2009.04.008
-
A. Santos, L. Vojkuvka, J. Pallarés, J. Ferré-Borrull, L.F. Marsal (2009) J. Electroanal. Chem. (accepted). doi: 10.1016/j.jelechem.2009.04.008.
-
-
-
-
19
-
-
33748262432
-
-
doi:10.1038/nmat1717
-
W. Lee, R. Ji, U. Gösele, K. Nielsch, Nat. Mater. 5, 741 (2006). doi:10.1038/nmat1717.
-
(2006)
Nat. Mater.
, vol.5
, pp. 741
-
-
Lee, W.1
Ji, R.2
Gösele, U.3
Nielsch, K.4
-
20
-
-
53749106124
-
-
doi:10.1016/j.spmi.2007.10.005
-
L. Vojkuvka, L.F. Marsal, J. Ferré-Borrull, P. Formentin, J. Pallarés, Superlattices Microstruct. 44, 577 (2008). doi:10.1016/j.spmi.2007.10.005.
-
(2008)
Superlattices Microstruct.
, vol.44
, pp. 577
-
-
Vojkuvka, L.1
Marsal, L.F.2
Ferré-Borrull, J.3
Formentin, P.4
Pallarés, J.5
-
21
-
-
0027907813
-
-
doi:10.1126/science.261.5126.1316
-
T.M. Whitney, J.S. Jiang, P.C. Searson, C.L. Chien, Science 261, 1316 (1993). doi:10.1126/science.261.5126.1316.
-
(1993)
Science
, vol.261
, pp. 1316
-
-
Whitney, T.M.1
Jiang, J.S.2
Searson, P.C.3
Chien, C.L.4
-
22
-
-
0031190378
-
-
doi:10.1021/jp963938g
-
C. Shönenberger, B.M.I. van der Zande, L.G. Fokkink, M. Henny, C. Schmid, M. Krüger, A. Bachtold, R. Huber, H. Birk, U. Staufer, J. Phys. Chem. B 101, 5497 (1997). doi:10.1021/jp963938g.
-
(1997)
J. Phys. Chem. B
, vol.101
, pp. 5497
-
-
Shönenberger, C.1
van der Zande, B.M.I.2
Fokkink, L.G.3
Henny, M.4
Schmid, C.5
Krüger, M.6
Bachtold, A.7
Huber, R.8
Birk, H.9
Staufer, U.10
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