Atomic vacancy engineering of graphitic surfaces: Controlling the generation and harnessing the migration of the single vacancy

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 23, 2009, Pages 10249-10255

  Paredes, J I ^a   Solis Fernandez P ^a   Martinez Alonso A ^a   Tascon J M D ^a  

^a INSTITUTO NACIONAL DEL CARBÓN   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC VACANCIES; ATOMIC-SCALE DEFECTS; EXPERIMENTAL MEASUREMENTS; GRAPHENE; GRAPHITE SURFACES; MIGRATION BARRIERS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY (STM); SELECTIVE GENERATION; SINGLE VACANCIES; THEORETICAL CALCULATIONS;

ATOMS; CARBON NANOTUBES; GRAPHITE; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

VACANCIES;

EID: 67649909009     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp901578c     Document Type: Article

References (38)

1. Telling, R. H.; Ewels, C. P.; El-Barbary, A. A.; Heggie, M. I. Nat. Mater. 2003, 2, 337-337.
2. Krasheninnikov, A. V.; Banhart, F. Nat. Mater. 2007, 6, 723-733.
3. Ajima, K.; Yudasaka, M.; Suenaga, K.; Kasuya, D.; Azami, T.; Iijima, S. Adv. Mater. 2004, 16, 397-401.
4. Robinson, J. A.; Snow, E. S.; Bǎdescu, S. C.; Reinecke, T. L.; Perkins, F. K. Nano Lett. 2006, 6, 1747-1751.
5. Suenaga, K.; Wakabayashi, H.; Koshino, M.; Sato, Y.; Urita, K.; Iijima, S. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 358-360.
6. Osváth, Z.; Vertéis, G.; Tapasztó, L.; Wéber, F.; Horváth, Z. E.; Gyulai, J.; Biró, L. P. Phys. Rev. B 2005, 72, 045429.
7. Tapasztó, L.; Dobrik, G.; Nemes-Incze, P.; Vertéis, G.; Lambin, Ph.; Biró, L. P. Phys. Rev. B 2008, 78, 233407.
8. Gómez-Navarro, C.; de Pablo, P. J.; Gómez-Herrero, J.; Biel, B.; Garcia-Vidal, F. J.; Rubio, A.; Flores, F. Nat. Mater. 2005, 4, 534-539.
9. Amorim, R. G.; Fazzio, A.; Antonelli, A.; Novaes, F. D.; da Silva, A. J. R. Nano. Lett. 2007, 7, 2459-2462.
10. Zhang, S.; Mielke, S. L.; Khare, R.; Troya, D.; Ruoff, R. S.; Schatz, G. C.; Belytschko, T. Phys. Rev. B 2005, 71, 115403.
11. Terrones, M.; Terrones, H.; Banhart, F.; Charlier, J. C.; Ajayan, P. M. Science 2000, 288, 1226-1229.
12. Kostov, M. K.; Santiso, E. E.; George, A. M.; Gubbins, K. E.; Buongiorno Nardelli, M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 136105.
13. Han, K.-H.; Spemann, D.; Esquinazi, P.; Höhne, R.; Riede, V.; Butz, T. Adv. Mater. 2003, 15, 1719-1722.
14. Lehtinen, P. O.; Foster, A. S.; Ma, Y.; Krasheninnikov, A. V.; Nieminen, R. M. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 187202.
15. Hashimoto, A.; Suenaga, K.; Gloter, A.; Urita, K.; Iijima, S. Nature 2004, 430, 870-873.
16. Yazyev, O. V.; Tavernelli, I.; Rothlisberger, U.; Helm, L. Phys. Rev. B 2007, 75, 115418.
17. Pregler, S. K.; Hayakawa, T.; Yasumatsu, H; Kondow, T.; Sinnott, S. B. Nucl. Instrum. Methods B 2007, 262, 240-248.
18. Banhart, F. Rep. Prog. Phys. 1999, 62, 1181-1221.
19. El-Barbary, A. A.; Telling, R. H.; Ewels, C. P.; Heggie, M. I.; Briddon, P. R. Phys. Rev. B 2003, 68, 144107.
20. Lee, G.-D.; Wang, C. Z.; Yoon, E.; Hwang, N.-M.; Kim, D.-Y.; Ho, K. M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 205501.
21. Krasheninnikov, A. V.; Lehtinen, P. O.; Foster, A. S.; Nieminen, R. M. Chem. Phys. Lett. 2006, 418, 132-136.
22. Chang, H.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 5588-5596.
23. Nicholson, K. T.; Minton, T. K.; Sibener, S. J. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 8476-8480.
24. Tracz, A.; Wegner, G.; Rabe, J. P. Langmuir 2003, 19, 6807-6812.
25. Paredes, J. I.; Martínez-Alonso, A.; Tascón, J. M. D. Langmuir 2002, 18, 4314-4323.
26. Paredes, J. I.; Martínez-Alonso, A.; Tascón, J. M. D. Langmuir 2007, 23, 8932-8943.
27. Hahn, J. R.; Kang, H. Phys. Rev. B 1999, 60, 6007-6017.
28. Kibsgaard, J.; Lauritsen, J. V.; Lægsgaard, E.; Clausen, B. S.; Topsøe, H.; Besenbacher, F. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 13950-13958.
29. Krasheninnikov, A. V.; Elesin, V. F. Surf. Sci. 2000, 454-456, 519-524.
30. Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K.; Sirviö, M.; Salonen, E.; Keinonen, J. Phys. Rev. B 2001, 63, 245405.
31. Palermo, V.; Liscio, A.; Palma, M.; Surin, M.; Lazzaroni, R.; Samorí, P. Chem. Commun. 2007, 3326-3337.
32. Hahn, J. R.; Kang, H.; Song, S.; Jeon, I. C. Phys Rev. B 1996, 53, R1725-R1728.
33. Figueiredo, J. L.; Pereira, M. F. R.; Freitas, M. M. A.; Orfao, J. J. M. Carbon 1999, 37, 1379-1389.
34. Elias, D. C.; Nair, R. R.; Mohiuddin, T. M. G.; Morozov, S. V.; Blake, P.; Halsall, M. P.; Ferrari, A. C.; Boukhvalov, D. W.; Katsnelson, M. I.; Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Science 2009, 323, 610-613.
35. Allouche, A.; Ferro, Y. Carbon 2006, 44, 3320-3327.
36. Kotakoski, J.; Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K. Phys. Rev. B 2006, 74, 245420.
37. Magonov, S. N.; Whangbo, M.-H. Surface Analysis with STM and AFM; VCH: Weinheim, 1996; Chapter 8.
38. Sugimoto, Y.; Jelinek, P.; Pou, P.; Abe, M.; Morita, S.; Perez, R.; Custance, O. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 106104.