-
4
-
-
21544470316
-
-
(c) Hu. S. Y.; Miller, M. S.; Young. D. B.; Yi. J. C.; Leonard, D.; Gossard, A. C.; Petroff, P. M.; Coldren, L. A.; Dagli. N. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2015.
-
(1993)
Appl. Phys. Lett
, vol.63
, pp. 2015
-
-
Hu, S.Y.1
Miller, M.S.2
Young, D.B.3
Yi, J.C.4
Leonard, D.5
Gossard, A.C.6
Petroff, P.M.7
Coldren, L.A.8
Dagli, N.9
-
5
-
-
0002614758
-
-
(a) Wu, Y. Y.; Fan, R.; Yang, P. D. Nano Lett. 2002, 2, 83.
-
(2002)
Nano Lett
, vol.2
, pp. 83
-
-
Wu, Y.Y.1
Fan, R.2
Yang, P.D.3
-
6
-
-
51749115472
-
-
(b) Clark, T. E.; Nimmatoori, P.; Lew, K. K.; Pan, L.; Redwing, J. M.; Dickey, E. C. Nano Lett. 2008, 8, 1246.
-
(2008)
Nano Lett
, vol.8
, pp. 1246
-
-
Clark, T.E.1
Nimmatoori, P.2
Lew, K.K.3
Pan, L.4
Redwing, J.M.5
Dickey, E.C.6
-
7
-
-
0037033988
-
-
Gudiksen, M. S.; Lauhon, L. J.; Wang, J. F.; Smith, D. C.; Lieber, C. M. Nature 2002, 415, 617.
-
(2002)
Nature
, vol.415
, pp. 617
-
-
Gudiksen, M.S.1
Lauhon, L.J.2
Wang, J.F.3
Smith, D.C.4
Lieber, C.M.5
-
8
-
-
0003072296
-
-
(a) Bjöirk, M. T.; Ohlsson. B. J.; Sass. T.; Persson, A. I.; Thelander. C.; Magnusson, M. H.; Deppert, K.; Wallenberg, L. R.; Samuelson, L. Nano Lett 2002, 2, 87.
-
(2002)
Nano Lett
, vol.2
, pp. 87
-
-
Bjöirk, M.T.1
Ohlsson, B.J.2
Sass, T.3
Persson, A.I.4
Thelander, C.5
Magnusson, M.H.6
Deppert, K.7
Wallenberg, L.R.8
Samuelson, L.9
-
9
-
-
79955991177
-
-
(b) Björk, M. T.; Ohlsson, B. J.; Sass, T.; Persson, A. I.; Thelander, C.; Magnusson, M. H.; Deppert, K.; Wallenberg, L. R.; Samuelson, L. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 1058.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett
, vol.80
, pp. 1058
-
-
Björk, M.T.1
Ohlsson, B.J.2
Sass, T.3
Persson, A.I.4
Thelander, C.5
Magnusson, M.H.6
Deppert, K.7
Wallenberg, L.R.8
Samuelson, L.9
-
10
-
-
9144240504
-
-
Jie, J. S.; Wang. G. Z.; Han, X. H.; Hou. J. G. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 17027.
-
(2004)
J. Phys. Chem. B
, vol.108
, pp. 17027
-
-
Jie, J.S.1
Wang, G.Z.2
Han, X.H.3
Hou, J.G.4
-
11
-
-
6344277360
-
-
Cheng, B. C.; Xiao, Y. H.; Wu, G. S.; Zhang, L. D. Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 913.
-
(2004)
Adv. Funct. Mater
, vol.14
, pp. 913
-
-
Cheng, B.C.1
Xiao, Y.H.2
Wu, G.S.3
Zhang, L.D.4
-
12
-
-
0242367470
-
-
Li, D. Y.; Wu. Y. Y.; Fan. R.; Yang, P. D.; Majumdar, A. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3186.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett
, vol.83
, pp. 3186
-
-
Li, D.Y.1
Wu, Y.Y.2
Fan, R.3
Yang, P.D.4
Majumdar, A.5
-
13
-
-
1842510753
-
-
Klein, A.; Schmidt, A.; Hammer, L.; Heinz, K. Europhys. Lett. 2004, 65, 830.
-
(2004)
Europhys. Lett
, vol.65
, pp. 830
-
-
Klein, A.1
Schmidt, A.2
Hammer, L.3
Heinz, K.4
-
14
-
-
0037065031
-
-
Solanki. R.; Huo. J.; Freeouf, J. L.; Miner, B. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3864.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett
, vol.81
, pp. 3864
-
-
Solanki, R.1
Huo, J.2
Freeouf, J.L.3
Miner, B.4
-
15
-
-
27644545944
-
-
Xue. F. H.; Fei. G. T.; Wu. B.; Cui. P.; Zhang, L. D. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 15348.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 15348
-
-
Xue, F.H.1
Fei, G.T.2
Wu, B.3
Cui, P.4
Zhang, L.D.5
-
16
-
-
22344435537
-
-
Na, C. W.; Bae, S. Y.; Park, J. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 12785.
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 12785
-
-
Na, C.W.1
Bae, S.Y.2
Park, J.3
-
17
-
-
24644463174
-
-
Gao. P. X.; Dmg. Y.; Mai, W. J.; Hughes. W. L.; Lao, C. S.; Wang. Z. L. Science 2005, 309, 1700.
-
(2005)
Science
, vol.309
, pp. 1700
-
-
Gao, P.X.1
Dmg, Y.2
Mai, W.J.3
Hughes, W.L.4
Lao, C.S.5
Wang, Z.L.6
-
18
-
-
33748297688
-
-
Hao, Y. F.; Meng, G. W.; Wang, Z. L.; Ye, C. H.; Zhang, L. Nano Lett 2006, 6, 1650.
-
(2006)
Nano Lett
, vol.6
, pp. 1650
-
-
Hao, Y.F.1
Meng, G.W.2
Wang, Z.L.3
Ye, C.H.4
Zhang, L.5
-
19
-
-
46749147676
-
-
(a) Dou, X. C.; Li, G. H.; Lei, H. C. Nano Lett 2008, 8, 1286.
-
(2008)
Nano Lett
, vol.8
, pp. 1286
-
-
Dou, X.C.1
Li, G.H.2
Lei, H.C.3
-
20
-
-
34249816485
-
-
(b) Wang, W.; Lu, X. L.; Zhang, T.; Zhang, G. Q.; Jiang, W. J.; Li, X. G. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 6702.
-
(2007)
J. Am. Chem. Soc
, vol.129
, pp. 6702
-
-
Wang, W.1
Lu, X.L.2
Zhang, T.3
Zhang, G.Q.4
Jiang, W.J.5
Li, X.G.6
-
21
-
-
0030964289
-
-
Li. C. F.; Bando. Y.; Nakamura, M.; Kimizuka, N. J. Electron Microsc. 1997, 46, 119.
-
(1997)
J. Electron Microsc
, vol.46
, pp. 119
-
-
Li, C.F.1
Bando, Y.2
Nakamura, M.3
Kimizuka, N.4
-
22
-
-
0001017008
-
-
Li, C. F.; Bando, Y.; Nakamura, M.; Onoda, M.; Kimizuka, N. J. Solid State Chem. 1998, 139, 347.
-
(1998)
J. Solid State Chem
, vol.139
, pp. 347
-
-
Li, C.F.1
Bando, Y.2
Nakamura, M.3
Onoda, M.4
Kimizuka, N.5
-
23
-
-
0001686073
-
-
Yan. Y.; Pennycook, S. J.; Dai. J.; Chang. R. P. H.; Wang. A.; Marks, T. J. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2585.
-
(1998)
Appl. Phys. Lett
, vol.73
, pp. 2585
-
-
Yan, Y.1
Pennycook, S.J.2
Dai, J.3
Chang, R.P.H.4
Wang, A.5
Marks, T.J.6
-
24
-
-
0001039649
-
-
Li, C. F.; Bando, Y.; Nakamura, M.; Kurashima, K.; Kimizuka, N. Acta Crystallogr. 1999, B55, 355.
-
(1999)
Acta Crystallogr
, vol.B55
, pp. 355
-
-
Li, C.F.1
Bando, Y.2
Nakamura, M.3
Kurashima, K.4
Kimizuka, N.5
-
25
-
-
0034103996
-
-
Li. C.; Bando, Y.; Nakamura, M.; Kimizuka, N. Micron 2000, 31, 543.
-
(2000)
Micron
, vol.31
, pp. 543
-
-
Li, C.1
Bando, Y.2
Nakamura, M.3
Kimizuka, N.4
-
26
-
-
0037157420
-
-
Nomura. K.; Ohta, H.; Ueda. K.; Orita, M.; Hirano, M.; Hosono, H. Thin Solid Films 2002, 411, 147.
-
(2002)
Thin Solid Films
, vol.411
, pp. 147
-
-
Nomura, K.1
Ohta, H.2
Ueda, K.3
Orita, M.4
Hirano, M.5
Hosono, H.6
-
27
-
-
0038362743
-
-
Nomura, K.; Ohta, H.; Ueda, K.; Kamiya, T.; Hirano, M.; Hosono, H. Science 2003, 300, 1269.
-
(2003)
Science
, vol.300
, pp. 1269
-
-
Nomura, K.1
Ohta, H.2
Ueda, K.3
Kamiya, T.4
Hirano, M.5
Hosono, H.6
-
28
-
-
1642400485
-
-
Jie. J. S.; Wang. G. Z.; Han, X. H.; Yu, Q. X.; Liao. Y.; Li. G. P.; Hou. J. G. Chem. Phys. Lett. 2004, 387, 466.
-
(2004)
Chem. Phys. Lett
, vol.387
, pp. 466
-
-
Jie, J.S.1
Wang, G.Z.2
Han, X.H.3
Yu, Q.X.4
Liao, Y.5
Li, G.P.6
Hou, J.G.7
-
29
-
-
19444368215
-
-
Fang. X. S.; Ye, C. H.; Zhang, L. D.; Li. Y.; Xiao. Z. D. Chem. Lett. 2005, 34, 436.
-
(2005)
Chem. Lett
, vol.34
, pp. 436
-
-
Fang, X.S.1
Ye, C.H.2
Zhang, L.D.3
Li, Y.4
Xiao, Z.D.5
-
30
-
-
20844434015
-
-
Xu, C. X.; Sun, X. W.; Dong. Z. L.; Yu, M. B.; Xiong. Y. Z.; Chen, J. S. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 173110.
-
(2005)
Appl. Phys. Lett
, vol.86
, pp. 173110
-
-
Xu, C.X.1
Sun, X.W.2
Dong, Z.L.3
Yu, M.B.4
Xiong, Y.Z.5
Chen, J.S.6
-
31
-
-
33744514671
-
-
Fan, H. J.; Fuhrmann, B.; Scholz, R.; Himcinschi, C.; Berger, A.; Leipner, H.; Dadgar, A.; Krost. A.; Christiansen, S.; Gosele, U.; Zacharias, M. Nanotech. 2006, 17, S231.
-
(2006)
Nanotech
, vol.17
-
-
Fan, H.J.1
Fuhrmann, B.2
Scholz, R.3
Himcinschi, C.4
Berger, A.5
Leipner, H.6
Dadgar, A.7
Krost, A.8
Christiansen, S.9
Gosele, U.10
Zacharias, M.11
-
32
-
-
33646789509
-
-
Bhatti, H. S.; Kumar, D.; Gupta, A.; Sharma, R.; Singh, K.; Sharma, P. J. Opt. Adv. Mater. 2006, 8, 860.
-
(2006)
J. Opt. Adv. Mater
, vol.8
, pp. 860
-
-
Bhatti, H.S.1
Kumar, D.2
Gupta, A.3
Sharma, R.4
Singh, K.5
Sharma, P.6
-
33
-
-
0003598030
-
-
Robert. E, Ed, Krieger Publishing Company; Huntington, NY
-
Hirsch, P.; Howie, A.; Nicholson, R. B.; Pashley, D. W.; Whelan, M. J. Electron Microscopy of Thin Crystals; Robert. E., Ed.; Krieger Publishing Company; Huntington, NY, 1977.
-
(1977)
Electron Microscopy of Thin Crystals
-
-
Hirsch, P.1
Howie, A.2
Nicholson, R.B.3
Pashley, D.W.4
Whelan, M.J.5
|