Investigations of the measurement of micro geometries with large tactile CMMs and application at a micro-CT artefact;Untersuchungen zur messung von mikrogeometrien mit groen taktilen KMGs und anwendung bei einem prüfkörper für mikro-CT-messsysteme

Technisches Messen

Volumn 75, Issue 3, 2008, Pages 187-198

  Neugebauer, Michael ^a   Hilpert, Uwe ^a   Bartscher, Markus ^a   Gerwien, Norbert ^a   Krystek, Michael ^a   Schwehn, Carsten ^b   Trenk, Michael ^b   Goebbels, Jürgen ^c   Weidemann, Gerd ^c  

^a PHYSIKALISCH TECHNISCHE BUNDESANSTALT   (Germany)

^b FEINMESS GmbHandCoKG

^c BAM FEDERAL INSTITUTE FOR MATERIALS RESEARCH AND TESTING   (Germany)

Author keywords

Coordinate measuring machines; Dimensional measurement; Micro geometry; X ray micro computerized tomography

Indexed keywords

CONTACTING FORCE; DIMENSIONAL MEASUREMENTS; FORM DEVIATION; MEASUREMENT UNCERTAINTY; MICRO CT; MICRO GEOMETRY; MICRO-COMPUTERIZED TOMOGRAPHY; MICROCOMPUTED TOMOGRAPHY;

COORDINATE MEASURING MACHINES; UNCERTAINTY ANALYSIS;

COMPUTERIZED TOMOGRAPHY;

EID: 53449083409     PISSN: 01718096     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1524/teme.2008.0826     Document Type: Article

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