-
1
-
-
54249111872
-
-
H. Kageyama, H. Akimoto, N. Kasai, N. Tokuda, K. Kajiyama, N. Nakamura, and T. Sato: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 37 (2006) 1455.
-
H. Kageyama, H. Akimoto, N. Kasai, N. Tokuda, K. Kajiyama, N. Nakamura, and T. Sato: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 37 (2006) 1455.
-
-
-
-
2
-
-
54249132107
-
-
T. Hasumi, S. Takasugi, K. Kanoh, and Y. Kobayashi: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 37 (2006) 1547.
-
T. Hasumi, S. Takasugi, K. Kanoh, and Y. Kobayashi: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 37 (2006) 1547.
-
-
-
-
3
-
-
54249145134
-
-
T. Chuman, S. Ohta, S. Miyaguchi, H. Satoh, T. Tanabe, Y. Okuda, and M. Tsuchida: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 35 (2004) 45.
-
T. Chuman, S. Ohta, S. Miyaguchi, H. Satoh, T. Tanabe, Y. Okuda, and M. Tsuchida: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 35 (2004) 45.
-
-
-
-
5
-
-
32844465194
-
-
W. Wang, J. Shi, S. Guo, H. Zhang, M. Liu, B. Quan, and D.-G. Ma: Semicond. Sci. Technol. 21 (2006) 295.
-
(2006)
Semicond. Sci. Technol
, vol.21
, pp. 295
-
-
Wang, W.1
Shi, J.2
Guo, S.3
Zhang, H.4
Liu, M.5
Quan, B.6
Ma, D.-G.7
-
6
-
-
34547550135
-
-
M. C. Suh, J. H. Jeong, T. Ahn, J.-S. Park, S. Y. Kim, Y.-J. Kim, T. J. Kim, H. J. Lee, S. M. Lee, Y. W. Park, Y.-G. Mo, H.-K. Chung, B. W. Koo, S.-Y. Kim, and S. Y. Lee: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 37 (2006) 116.
-
M. C. Suh, J. H. Jeong, T. Ahn, J.-S. Park, S. Y. Kim, Y.-J. Kim, T. J. Kim, H. J. Lee, S. M. Lee, Y. W. Park, Y.-G. Mo, H.-K. Chung, B. W. Koo, S.-Y. Kim, and S. Y. Lee: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 37 (2006) 116.
-
-
-
-
7
-
-
33644525617
-
-
L. Zhou, A. Wanga, S.-C. Wu, J. Sun, S. Park, and T. N. Jackson: Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 083502.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
, pp. 083502
-
-
Zhou, L.1
Wanga, A.2
Wu, S.-C.3
Sun, J.4
Park, S.5
Jackson, T.N.6
-
9
-
-
33847758248
-
-
D. R. Mines, V. W. Ballarotto, E. D. Williams, Y. Shao, and S. A. Solin: J. Appl. Phys. 101 (2007) 024503.
-
(2007)
J. Appl. Phys
, vol.101
, pp. 024503
-
-
Mines, D.R.1
Ballarotto, V.W.2
Williams, E.D.3
Shao, Y.4
Solin, S.A.5
-
15
-
-
4043052594
-
-
A. Hepp, H. Heil, W. Weise, M. Ahles, R. Schmechel, and H. Seggern: Phys. Rev. Lett. 91 (2003) 157406.
-
(2003)
Phys. Rev. Lett
, vol.91
, pp. 157406
-
-
Hepp, A.1
Heil, H.2
Weise, W.3
Ahles, M.4
Schmechel, R.5
Seggern, H.6
-
16
-
-
33644680332
-
-
T. Oyamada, H. Sasabe, Y. Oku, N. Shimoji, and C. Adachi: Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 093514.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
, pp. 093514
-
-
Oyamada, T.1
Sasabe, H.2
Oku, Y.3
Shimoji, N.4
Adachi, C.5
-
17
-
-
31144452265
-
-
F. Cicoira, C. Santato, M. Melucci, L. Favaretto, M. Gazzano, M. Muccini, and G. Barbarella: Adv. Mater. 18 (2006) 169.
-
(2006)
Adv. Mater
, vol.18
, pp. 169
-
-
Cicoira, F.1
Santato, C.2
Melucci, M.3
Favaretto, L.4
Gazzano, M.5
Muccini, M.6
Barbarella, G.7
-
18
-
-
33745121872
-
-
F. Dinelli, R. Capelli, M. A. Loi, M. Murgia, M. Muccini, A. Facchetti, and T. J. Marks: Adv. Mater. 18 (2006) 1416.
-
(2006)
Adv. Mater
, vol.18
, pp. 1416
-
-
Dinelli, F.1
Capelli, R.2
Loi, M.A.3
Murgia, M.4
Muccini, M.5
Facchetti, A.6
Marks, T.J.7
-
22
-
-
33748492586
-
-
K. Nakamura, T. Hata, A. Yoshizawa. K. Obata, H. Endo, and K. Kudo: Appl. Phys. Lett. 89 (2006) 103525.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.89
, pp. 103525
-
-
Nakamura, K.1
Hata, T.2
Yoshizawa, A.3
Obata, K.4
Endo, H.5
Kudo, K.6
-
25
-
-
8444229713
-
-
T. W. Kelley, P. F. Baude, C. Gerlach, D. E. Ender, D. Muyres, M. A. Haase, D. E. Vogel, and S. D. Theiss: Chem. Mater. 16 (2004) 4413.
-
(2004)
Chem. Mater
, vol.16
, pp. 4413
-
-
Kelley, T.W.1
Baude, P.F.2
Gerlach, C.3
Ender, D.E.4
Muyres, D.5
Haase, M.A.6
Vogel, D.E.7
Theiss, S.D.8
-
26
-
-
0042782752
-
-
Y. Qiu, Y. Hu, G. Dong, L. Wang, J. Xie, and Y. Ma: Appl. Phys. Lett. 83 (2003) 1644.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett
, vol.83
, pp. 1644
-
-
Qiu, Y.1
Hu, Y.2
Dong, G.3
Wang, L.4
Xie, J.5
Ma, Y.6
-
27
-
-
4544302296
-
-
R. Ye, M. Baba. K. Suzuki, Y. Ohishi, and K. Mori: Thin Solid Films 464 (2004) 437.
-
(2004)
Thin Solid Films
, vol.464
, pp. 437
-
-
Ye, R.1
Baba, M.2
Suzuki, K.3
Ohishi, Y.4
Mori, K.5
-
29
-
-
79956026614
-
-
M. S. Weaver, L. A. Michalski, K. Rajan, M. A. Rothman, J. A. Silvernail, J. J. Brown, P. E. Burrows, G. L. Graff, M. E. Gross, P. M. Martin, M. Hall, E. Mast, C. Bonham, W. Bennett, and M. Zumhoff: Appl. Phys. Lett. 81 (2002) 2929.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett
, vol.81
, pp. 2929
-
-
Weaver, M.S.1
Michalski, L.A.2
Rajan, K.3
Rothman, M.A.4
Silvernail, J.A.5
Brown, J.J.6
Burrows, P.E.7
Graff, G.L.8
Gross, M.E.9
Martin, P.M.10
Hall, M.11
Mast, E.12
Bonham, C.13
Bennett, W.14
Zumhoff, M.15
-
30
-
-
54249129794
-
-
A. Yoshida, S. Fujimura, T. Miyake, T. Yoshizawa, H. Ochi, A. Sugimoto, H. Kubota, T. Miyadera, S. Ishizuka, M. Tsuchida, and H. Nakada: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 34 (2003) 856.
-
A. Yoshida, S. Fujimura, T. Miyake, T. Yoshizawa, H. Ochi, A. Sugimoto, H. Kubota, T. Miyadera, S. Ishizuka, M. Tsuchida, and H. Nakada: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 34 (2003) 856.
-
-
-
-
31
-
-
0032622132
-
-
M. A. Baldo, S. Lamansky, P. E. Burrows, M. E. Thompson, and S. R. Forrest: Appl. Phys. Lett. 75 (1999) 4.
-
(1999)
Appl. Phys. Lett
, vol.75
, pp. 4
-
-
Baldo, M.A.1
Lamansky, S.2
Burrows, P.E.3
Thompson, M.E.4
Forrest, S.R.5
|