Periodic arrays of Cu-Phthalocyanine chains on Au(110)

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 29, 2008, Pages 10794-10802

  Floreano, Luca ^a   Cossaro, Albano ^a   Gotter, Roberto ^a   Verdini, Alberto ^a   Bavdek, Gregor ^a,b   Evangelista, Fabrizio ^a,c   Ruocco, Alessandro ^a,c   Morgante, Alberto ^a,d   Cvetko, Dean ^a,b  

^a LABORATORIO TASC   (Italy)

^b UNIVERSITY OF LJUBLJANA   (Slovenia)

^c ROMA TRE UNIVERSITY   (Italy)

^d UNIVERSITY OF TRIESTE   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION; ABSORPTION SPECTROSCOPY; COPPER ALLOYS; DIFFRACTION; ELECTRON DIFFRACTION; ELECTRON ENERGY LEVELS; ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY; GOLD; HELIUM; HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY; INERT GASES; LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; MOLECULAR ORIENTATION; REPAIR; RESTORATION; SUBSTRATES; ULTRATHIN FILMS; X RAY DIFFRACTION;

[110] DIRECTION; AU(110); CU-PHTHALOCYANINE; DEPOSITION STAGES; EDGE-TO-EDGE; HELIUM ATOM SCATTERING; HIGHER-ORDER; LONG RANGE ORDERS; MISSING ROW; OUT-OF PLANE; PERIODIC ARRAYS; POLARIZATION ABSORPTION; REAL TIME; SATURATION COVERAGE; SUB MONOLAYERS; SUBSTRATE STRUCTURES; SYSTEM EVOLUTION;

COPPER;

EID: 49149112143     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp711140e     Document Type: Article

References (54)

1. Glöckler, K.; Seidel, C.; Soukopp, A.; Sokolowski, M.; Umbach, E.; Böhringer, M.; Berndt, R.; Schneider, W.-D. Surf. Sci. 1998, 405, 1.
2. Söhnchen, S.; Hänel, K.; Witte, G.; Wöll, C. Chem. Mater. 2005, 17, 5297.
3. Witte, G.; Hänel, K.; Busse, C.; Birkner, A.; Wöll, Ch. Chem. Mater. 2007, 19, 4228.
4. Henze, S. K. M.; Bauer, O.; Lee, T.-L.; Sokolowski, M.; Tautz, F. S. Surf. Sci. 2007, 601, 1566.
5. Gao, L.; Deng, Z. T.; Ji, W.; Lin, X.; Cheng, Z. H.; He, X. B.; Shi, D. X.; Gao, H.-J. Phys. Rev. B 2006, 73, 075424.
6. Rocco, M. L. M.; Frank, K.-H.; Yannoulis, P.; Koch, E.-E. J. Chem. Phys. 1990, 90, 6859.
7. Fritz, T.; Hara, M.; Knoll, W.; Sasabe, H. Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1994, 253, 269.
8. Lackinger, M.; Hietschold, M. Surf. Sci. 2002, 520, L619.
9. Park, K. T.; Miller, A.; Klier, K.; Opila, R. L.; Rowe, J. E. Surf. Sci. 2003, 529, L285.
10. Ellis, T. S.; Park, K. T.; Hulbert, S. L.; Ulrich, M. D.; Rowe, J. E. J. Appl. Phys. 2004, 95, 982.
11. Stadler, C.; Hansen, S.; Pollinger, F.; Kumpf, C.; Umbach, E.; Lee, T.-L.; Zegenhagen, J. Phys. Rev. B 2006, 74, 035404.
12. Dholakia, G. R.; Meyyappan, M.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Nano Lett. 2006, 6, 2447.
13. Fenter, P.; Burrows, P. E.; Eisenberger, P.; Forrest, S. R. J. Cryst. Growth 1995, 152, 65.
14. Fenter, P.; Schreiber, F.; Zhou, L.; Eisenberger, P.; Forrest, S. R. Phys. Rev. B 1997, 56, 3046.
15. Krause, B.; Dürr, A. C.; Ritley, K.; Schreiber, F.; Dosch, H.; Smilgies, D. Phys. Rev. B 2002, 66, 235404.
16. Yim, S.; Heutz, S.; Jones, T. S. Phys. Rev. B 2003, 67, 165308.
17. Chen, W.; Huang, H.; Chen, S.; Gao, X. Y.; Wee, A. T. S. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 5036.
18. Alvarado, S. F.; Rossi, L.; Müller, P.; Riess, W. Synth. Met. 2001, 122, 73.
19. Shtein, M.; Mapei, J.; Benziger, J. B.; Forrest, S. R. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 268.
20. Engel, E.; Koschorreck, M.; Leo, K.; Hoffmann, M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 157403.
21. Ruocco, A.; Evangelista, F.; Gotter, R.; Attili, A.; Stefani, G. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 2016.
22. Peisert, H.; Knupfer, M.; Schwieger, T.; Auerhammer, J. M.; Golden, M. S.; Fink, J. J. Appl. Phys. 2002, 91, 4872.
23. Cossaro, A.; Cvetko, D.; Bavdek, G.; Floreano, L.; Gotter, R.; Morgante, A.; Evangelista, F.; Ruocco, A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 14671.
24. Chizhov, I.; Scoles, G.; Kahn, A. Langmuir 2000, 16, 4358.
25. Evangelista, F.; Ruocco, A.; Corradini, V.; Donzello, M. P.; Mariani, C.; Betti, M. G. Surf. Sci. 2003, 531, 123.
26. Evangelista, F.; Carravetta, V.; Stefani, G.; Jansik, B.; Alagia, M.; Stranges, S.; Ruocco, A. J. Chem. Phys. 2007, 126, 124709.
27. Cvetko, D.; Lausi, A.; Morgante, M.; Tommasini, F.; Prince, K. C.; Sastry, M. Meas. Sci. Technol. 1992, 3, 997.
28. Cvetko, D; Lausi, A.; Morgante, M.; Tommasini, F. Surf. Sci. 1992, 269/270, 68.
29. From the database of the Center for X-Ray Optics of the Lawrence Berkeley Laboratory: http://www-cxro.lbl.gov.
30. Zangwill, A. Physics at surfaces; Cambridge University Press: Cambridge, U.K., 1988.
31. Cvetko, D.; De Renzi, V.; Floreano, L.; Lausi, A.; Morgante, A.; Peloi, M.; Tommasini, F.; Kirsten, E.; Rieder, K. H. Phys. Rev. B 1995, 51, 11055.
32. Floreano, L.; Naletto, G.; Cvetko, D.; Gotter, R.; Malvezzi, M.; Marassi, L.; Morgante, A.; Santaniello, A.; Verdini, A.; Tommasini, F.; Tondello, G Rev. Sci. Instrum. 1999, 70, 3855.
33. Ndongmouo, U. T.; Hontinfinde, F.; Ferrando, R. Phys. Rev. B 2005, 72, 115412.
34. den Nijs, M. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 907.
35. Au(110)∼3.2π, thus being very sensitive to the proliferation of monatomic steps.
36. Cvetko, D.; Lausi, A.; Morgante, A.; Tommasini, F.; Prince, K. C. Surf. Sci. 1992, 269/270, 68.
37. Floreano, L.; Cossaro, A.; Cvetko, D.; Morgante, A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 4908.
38. Buongiorno Nardelli, M.; Cvetko, D.; De Renzi, V.; Floreano, L.; Gotter, R.; Morgante, A.; Peloi, M.; Tommasini, F.; Danieli, R.; Rossini, S.; Taliani, C.; Zamboni, R. Phys. Rev. B 1996, 53, 1095.
39. Buongiorno Nardelli, M.; Cvetko, D.; De Renzi, V.; Floreano, L.; Gotter, R.; Morgante, A.; Peloi, M.; Tommasini, F.; Danieli, R.; Rossini, S.; Taliani, C.; Zamboni, R. Synth. Met. 1996, 76, 173.
40. Prato, S.; Floreano, L.; Cvetko, D.; De Renzi, V.; Morgante, A.; Modesti, S.; Biscarini, F.; Zamboni, R.; Taliani, C. J. Phys. Chem. B 1999, 105, 7788.
41. Peisert, H.; Schwieger, T.; Auerhammer, J. M.; Knupfer, M.; Golden, M. S.; Fink, J.; Bressler, P. R.; Mast, M. J. Appl. Phys. 2001, 90, 466.
42. Åhlund, J.; Nilson, K.; Schiessling, J.; Kjeldgaard, L.; Berner, S.; Mârtensson, N.; Puglia, C.; Brena, B.; Nyberg, M.; Luo, Y. J. Chem. Phys. 2006, 125, 034709.
43. Kera, S.; Casu, M. B.; Bauchspieβ, K. R.; Batchelor, D.; Schmidt, Th.; Umbach, E. Surf. Sci. 2006, 600, 1077.
44. Mainka, C.; Bagus, P. S.; Schertel, A.; Strunkus, T.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Surf. Sci. Lett. 1995, 547, L1055.
45. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer-Verlag: Berlin, 1992; paragraph 9.4.2.
46. Dufour, G.; Poncey, C.; Rochet, F.; Roulte, H.; Iacobucci, S.; Sacchi, M.; Yubero, F.; Motta, N.; Piancastelli, M. N.; Sgarlata, A.; De Crescenzi, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995, 76, 219.
47. Carniato, S.; Luo, Y.; Ågren, H. Phys. Rev. B 2001, 63, 085105.
48. Vlieg, E. J. Appl. Crystallogr. 2000, 33, 401. The software is freely distributed at http://www.esrf.fr/computing/scientific/.
49. Lukas, S.; Witte, G.; Wöll, Ch. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 028301.
50. Bernasconi, M.; Tosatti, E. Surf. Sci. Rep. 1993, 17, 363.
51. Böhringer, M.; Berndt, R.; Schneider, W.-D. Phys. Rev. B 1997, 55, 1384.
52. Barth, J. V.; Schuster, R.; Wintterlin, J.; Behm, R. J.; Ertl, G. Phys. Rev. B 1995, 51, 44402.
53. Montalenti, F.; Ferrando, R. Phys. Rev. B 1999, 59, 5881.
54. Ferrando, R. Private communication.