Apertureless scanning near-field fluorescence microscopy in liquids

Ultramicroscopy

Volumn 101, Issue 2-4, 2004, Pages 47-54

  Fragola, A ^a   Aigouy, L ^a   Mignotte, P Y ^a   Formanek, F ^a   De Wilde, Y ^a  

^a CNRS   (France)

Author keywords

019; 07.79; 07.79.F; Fluorescence; Near field optical microscopy; Scanning microscopy

Indexed keywords

DAMPING; DOPING (ADDITIVES); DYES; FLUORESCENCE; IMAGE ANALYSIS; LIQUIDS; OPTICAL MICROSCOPY; OSCILLATIONS; SURFACE TOPOGRAPHY;

DYE-DOPED POLYSTYRENE SPHERES; OPTICAL MEASUREMENTS; QUALITY FACTORS;

POLYSTYRENES;

FLUORESCEIN; NANOPARTICLE; PARAFFIN; POLYSTYRENE; WATER;

AIR; ARTICLE; CERAMICS; DEGRADATION; FLUORESCENCE MICROSCOPE; FLUORESCENCE MICROSCOPY; ILLUMINATION; IMAGE ANALYSIS; LIQUID; MATHEMATICAL ANALYSIS; OPTICS; OSCILLATION; PIEZOELECTRICITY; QUALITY CONTROL; SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPY; SENSITIVITY ANALYSIS; THICKNESS; TOPOGRAPHY; VISCOSITY;

MICROSCOPY, FLUORESCENCE; MICROSPHERES;

EID: 4644324458     PISSN: 03043991     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.ultramic.2004.04.002     Document Type: Article

References (49)

1. Ash E.A., Nicholls G. Nature. 237:1972;510
2. Pohl D.W., Denk W., Lanz M. Appl. Phys. Lett. 44:1984;651
3. Betzig E., Isaacson M., Lewis A. Appl. Phys. Lett. 51:1987;2088
4. Courjon D., Sarrayeddine K., Spajer M. Opt. Commun. 71:1989;23
5. Reddick R.C., Warmack R.J., Ferrell L.T. Phys. Rev. B. 39:1989;767
6. Betzig E., Trautman J.K., Harris T.D., Wiener J.S., Kostelak R.L. Science. 251:1991;1468
7. Korchev Y.E., Raval M., Lab M.J., Gorelick J., Edwards C.R.W., Rayment T., Klenerman D. Biophys. J. 78:2000;2675
8. Gheber L.A., Hwang J., Edidin M. Appl. Opt. 37(16):1998;3574
9. Moyer P.J., Kammer S.B. Appl. Phys. Lett. 68:1996;3380
10. Mertesdorf M., Schonhoff M., Lohr F., Kirstein S. Surf. Interface Anal. 25:1997;755
11. Brunner R., Hering O., Marti O., Hollricher O. Appl. Phys. Lett. 71:1997;3628
12. Lei F.H., Shang G.Y., Troyon M., Spajer M., Morjani H., Angiboust J.F., Manfait M. Appl. Phys. Lett. 79:2001;2489
13. Muramatsu H., Chiba N., Homma K., Nakajima K., Ataka T., Ohta S., Kusumi A., Fujihira M. Appl. Phys. Lett. 66(24):1995;3245
14. Talley C.E., Annie Lee M., Dunn R.C. Appl. Phys. Lett. 72:1998;2954
15. Mannelquist A., Iwamoto H., Szabo G., Shao Z. Appl. Phys. Lett. 78:2001;2076
16. Zenhausern F., Boyle M.P., Wickramasinghe H.K. Appl. Phys. Lett. 65:1994;1623
17. Inouye Y., Kawata S. Opt. Lett. 19:1994;159
18. Bachelot R., Gleyzes P., Boccara A.C. Opt. Lett. 20:1995;1924
19. Knoll B., Keilmann F. Nature. 399:1999;134
20. Hansma P.K., Cleveland J.P., Radmacher M., Walters D.A., Hillner P.E., Bezanilla M., Fritz M., Vie D., Hansma H.G., Prater C.B., Massie J., Fukunaga L., Gurley J., Elings V. Appl. Phys. Lett. 64:1994;1738
21. Putman C.A.J., Van der Werf K.O., de Grooth B.G., Van Hulst N.F., Greve J. Appl. Phys. Lett. 64:1994;2454
22. Lantz M.A., O'Shea S.J., Welland M.E. Appl. Phys. Lett. 65:1994;409
23. Schäffer T.E., Cleveland J.P., Ohnesorge F., Walters D.A., Hansma P.K. J. Appl. Phys. 80:1996;3622
24. Chen G.Y., warmack R.J., Thundat T., Allison D.P., Huang A. Rev. Sci. Instrum. 65(8):1994;2532
25. Kirstein S., Mertesdorf M., Schonhoff M. J. Appl. Phys. 84(4):1998;1782
26. Betzig E., Chichester R.J. Science. 262:1993;1422
27. Bian R.X., Dunn R.C., Sunney Xie X., Lung P.T. Phys. Rev. Lett. 75(26):1995;4772
28. Tarrach G., Bopp M.A., Zeisel D., Meixner A.J. Rev. Sci. Instrum. 66(6):1995;3569
29. Merritt G., Monson E., Betzig E., Kopelman R. Rev. Sci. Instrum. 69(7):1998;2685
30. Lewis M.K., Wolanin P., Gafni A., Steel D.G. Opt. Lett. 23(14):1998;1111
31. Eckert R., Freyland J.M., Gersen H., Heinzelmann H., Schürmann G., Noell W., Staufer U., de Rooij N.F. Appl. Phys. Lett. 77(23):2000;3695
32. van Hulst N.F., Veerman J.A., García-Parajó M.F., Kuipers L. J. Chem. Phys. 112(18):2000;7799
33. Hwang J., Tamm L.K., Böhm C., Ramalingam T.S., Betzig E., Edidin M. Science. 270:1995;610
34. Stevenseon R., Granström M., Richards D. Appl. Phys. Lett. 75(11):1999;1574
35. Hwang J., Goldner L.S., Karim A., Gettinger C. Appl. Opt. 40(22):2001;3737
36. Chavez-Pirson A., Temmyo J., Kamada H., Gotoh H., Ando H. Appl. Phys. Lett. 72(26):1998;3494
37. Matsuda K., Saiki T., Saito H., Nishi K. Appl. Phys. Lett. 76(1):2000;73
38. Keller T.H., Rayment T., Klenerman D., Stephenson R.J. Rev. Sci. Instrum. 68(3):1997;1448
39. Sanchez E.J., Novotny L., Sunney Xie X. Phys. Rev. Lett. 82:1999;4014
40. Azoulay J., Debarre A., Richard A., Tchenio P. J. Microsc. 194:1999;486
41. Kramer A., Trabesinger W., Hecht B., Wild U.P. Appl. Phys. Lett. 80(9):2002;1652
42. Hamann H.F., Gallagher A., Nesbitt D.J. Appl. Phys. Lett. 76(14):2000;1953
43. Yang T.J., Lessard G.A., Quake S.R. Appl. Phys. Lett. 76(3):2000;378
44. Fragola A., Aigouy L., Boccara A.C. Appl. Opt. 42(34):2003;6880
45. Adam P.M., Benrezzak S., Bigeon J.L., Royer P., Guy S., Jacquier B., Moretti P., Montereali R.M., Piccinini M., Menchini F., Somma F., Seassal C., Rigneault H. Opt. Express. 9(7):2001;353
46. Fragola A., Aigouy L., De Wilde Y., Mortier M. J. Microsc. 210(Part 3):2003;198
47. Martin O.J.F., Girard C. Appl. Phys. Lett. 70(6):1997;705
48. Cory H., Boccara A.C., Rivoal J.C., Lahrech A. Microwave Opt. Tech. Lett. 18(2):1998;120
49. Porto J.A., Carminati R., Greffet J.J. J. Appl. Phys. 88:2000;4845