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Volumn 109, Issue 1, 2008, Pages

Atomistic study on electronic properties of nanoscale SOI channels

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EID: 44649088932     PISSN: 17426588     EISSN: 17426596     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1088/1742-6596/109/1/012012     Document Type: Article
Times cited : (10)

References (7)
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    • Yamauchi J 2005 Proc. Int. Conf. Silicon Epitaxy Heterostruct. (ICSI-4, Awaji Island) p 23P1-45
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    • Yamauchi, J.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.