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Volumn , Issue , 2003, Pages 12-13

On the scaling limits of low-frequency noise in SiGe HBTs

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HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTORS; PHASE NOISE; SEMICONDUCTOR DEVICES; SILICON ALLOYS; SPURIOUS SIGNAL NOISE;

EID: 4043090768     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ISDRS.2003.1271972     Document Type: Conference Paper
Times cited : (3)

References (6)
  • 1
    • 0037560912 scopus 로고    scopus 로고
    • Z. Jin et al.IEEE TED. 50, p. 676, 2003.
    • (2003) IEEE TED , vol.50
    • Jin, Z.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.