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Beyer, T.1
Hahn, P.2
Hartwig, S.3
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Scharring, S.5
Katzir, A.6
Steiner, H.7
Jakusch, M.8
Kraft, M.9
Mizaikoff, B.10
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0038460179
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Kraft, M.1
Jakusch, M.2
Karlowatz, M.3
Katzir, A.4
Mizaikoff, B.5
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14
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0038460178
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Steiner, H.; Jakusch, M.; Kraft, M.; Karlowatz, M.; Baumann, T.; Niessner, R.; Konz, W.; Brandenburg, A.; Michel, K.; Boussard-Pledel, C.; Bureau, B.; Lucas, J.; Reichlin, Y.; Katzir, A.; Fleischmann, N.; Staubmann, K.; Allabashi, R.; Bayona, J. M.; Mizaikoff, B. Appl. Spectrosc. 2003, 57, 607-613.
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Steiner, H.1
Jakusch, M.2
Kraft, M.3
Karlowatz, M.4
Baumann, T.5
Niessner, R.6
Konz, W.7
Brandenburg, A.8
Michel, K.9
Boussard-Pledel, C.10
Bureau, B.11
Lucas, J.12
Reichlin, Y.13
Katzir, A.14
Fleischmann, N.15
Staubmann, K.16
Allabashi, R.17
Bayona, J.M.18
Mizaikoff, B.19
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15
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Steiner, H.1
Staubmann, K.2
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Fleischmann, N.4
Katzir, A.5
Reichlin, Y.6
Mizaikoff, B.7
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Guo, S.1
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Nanto, H.1
Hamaguchi, Y.2
Sanada, S.3
Nobuyama, K.4
Matsumoto, T.5
Tanabe, K.6
Kurosawa, S.7
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0345150474
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Rapp, M.2
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Seyama, M.1
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0036809964
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Seyama, M.1
Iwasaki, Y.2
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Tate, A.4
Niwa, O.5
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7444232099
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Sugimoto, I.2
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Nanto, H.1
Kitade, Y.2
Sekikawa, Y.3
Takei, Y.4
Kubota, N.5
Kusano, E.6
Kinbara, A.7
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Zhang, Z.1
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Agraharam, S.1
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Kitajima, M.4
Chu, L.5
Chifen, A.N.6
Foerch, R.7
Berger, R.8
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