Inner-tube chirality determination for double-walled carbon nanotubes by scanning tunneling microscopy

Nano Letters

Volumn 7, Issue 5, 2007, Pages 1232-1239

  Giusca, Cristina E ^a   Tison, Yann ^a   Stolojan, Vlad ^a   Borowiak Palen, Ewa ^a,b   Silva, S Ravi P ^a  

^a UNIVERSITY OF SURREY   (United Kingdom)

^b WEST POMERANIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Poland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHIRALITY; ELECTRONIC STRUCTURE; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SPECTROSCOPIC ANALYSIS;

TUNNELING SPECTRA; VAN HOVE SINGULARITIES;

CARBON NANOTUBES;

EID: 34249698246     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl070072p     Document Type: Article

References (41)

1. Bachtold, C.; Strunk, J. P.; Salvetat, J. M; Bonard, J. M.; Forro, L.; Nussbaumer, T.; Schonenberger, C. Nature 1999, 397, 673.
2. Collins, P. G.; Hersam, M.; Arnold, M.; Martel, R.; Avouris, Ph. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 3128.
3. Urbina, A.; Echeverria, L; Perez-Garrido, A.; Diaz-Sanchez, A.; Abellan, J. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 106603.
4. Cummings, J.; Zettl, A. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 086801.
5. Yoon, Y.-G.; Delaney, P.; Louie, S. G. Phys. Rev. B 2002, 66, 073407.
6. Li, F.; Chou, S. G.; Ren, W.; Gardecki, J. A.; Swan, A. K.; Unlu, M. S.; Goldberg, B. B.; Cheng, H.-M.; Dresselhaus, M. S. J. Mater. Res. 2003, 18, 1251.
7. Ren, W.; Li, F.; Tan, P.; Cheng, H.-M. Phys. Rev. B 2006, 73, 115430.
8. Zuo, J. M.; Vartanyants, I.; Gao, M.; Zhang, R.; Nagahara, L. A. Science 2003, 300, 1419.
9. Kodak, M.; Suenaga, K.; Hirahara, K.; Saito, Y.; Nakahira, T.; Iijima, S. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 155501-1.
10. Frank, S.; Poncharal, P.; Wang, Z. L.; de Heer, W. A. Science 1998, 280, 1744.
11. Stroscio, J. A.; Feenstra, R. M.; Fein, A. P. Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 2579.
12. Hegner, M.; Wagner, P.; Semenza, G. Surf. Sci. 1993, 291, 39.
13. Hassanien, A.; Mrzel, A.; Tokumoto, M.; Tomanek, D. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 4210.
14. Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Avouris, P. Carbon Nanotubes: Synthesis, Structure, Properties, and Applications; Springer: Berlin, 2001.
15. Wildöer, J. W. G.; Venema, L. C.; Rinzler, A. G.; Smalley, R. E.; Dekker, C. Nature 1998, 391, 59.
16. Odom, T. W.; Huang, J. L.; Kim, P.; Lieber, C. M. Nature 1998. 391, 62.
17. Venema, L. C.; Meunier, V.; Lambin, Ph.; Dekker, C. Phys. Rev. B 2000, 61, 2991.
18. Meunier, V.; Lambin, Ph. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 5588.
19. Odom, T. W.; Huang, J. L.; Kim, P.; Ouyang, M.; Lieber, C. M. J. Mater. Res. 1998, 13, 2380.
20. Kim, P.; Odom, T. W.; Huang, J. L.; Lieber, C. M. Carbon 2000, 38, 1741.
21. Dresselhaus, M. S., Dresselhaus, G., Eklund, P. C. Science of Fullerenes and Nanotubes; Academic Press: San Diego, CA, 1996.
22. Akai, Y.; Saito, S. Physica E 2005, 29, 555.
23. Odom, T. W.; Huang, J.-L.; Kim, P.; Lieber, C. M. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 2794.
24. Maarouf, A. A.; Kane, C.; Mele, E. J. Phys. Rev. B 2000, 61, 11156.
25. Delaney, P.; Choi, H. J.; Ihm, J.; Louie, S. G.; Cohen, M. L. Nature 1998, 391, 466.
26. Ouyang, M.; Huang, J. L.; Cheung, C. L.; Lieber, C. M. Science 2001, 292, 702.
27. Hertel, T.; Walkup, R. E.; Avouris, P. Phys. Rev. B 1998, 58, 13870.
28. Tersoff, J.; Ruoff, R. S. Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 676.
29. Lu, J.-Q.; Wu, J.; Duan, W.; Liu, F.; Zhu, B.-F.; Gu, B.-L. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 156601.
30. Park, C.-J.; Kim, Y.-H.; Chang, K. J. Phys. Rev. B 1999, 60, 10656.
31. Clauss, W.; Bergeron, D. J.; Johnson, A. T. Phys. Rev. B 1998, 58, R4266.
32. Miyake, T.; Saito, S. Phys. Rev. B 2003, 68, 155424.
33. Miyake, T.; Saito, S. Phys. Rev. B 2005, 72, 073404.
34. Wiesendanger, R. Scanning Probe Microscopy: Methods and Applications; Cambridge University Press: New York, 1994.
35. Saito, R.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S. J. Appl. Phys. 1993, 73, 494.
36. Hirahara, K.; Kociak, M.; Bandow, S.; Nakahira, T.; Itoh, K.; Saito, Y.; Iijima, S. Phys. Rev. B 2006, 73, 195420-1.
37. Márk, G. I.; Biró, L. P.; Gyulai, J. Phys. Rev. B 1998, 58, 12645.
38. Kim, P.; Odom, T. W.; Huang, J.-L.; Lieber, C. M. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1225.
39. Everson, M. P.; Jacklevic, R. C.; Shen, W. J. Vac. Sci. Technol., A 1990, 8, 3662.
40. Hornbaker, D. J.; Kahng, S.-J.; Misra, S.; Smith, B. W.; Johnson, A. T.; Mele, E. J.; Luzzi, D. E.; Yazdani, A. Science 2002, 828, 295.
41. Miyamoto, Y.; Saito, S.: Tomànek, D. Phys. Rev. B 2001, 65, 041402 (R).