Defect induced low temperature ferromagnetism in Zn1-xCo xO films

Journal of Applied Physics

Volumn 101, Issue 7, 2007, Pages

  Biegger, E ^a   Fonin, M ^a   Rudiger U ^a   Janssen N ^a   Beyer, M ^a   Thomay, T ^a   Bratschitsch, R ^a   Dedkov, Yu S ^b  

^a UNIVERSITY OF KONSTANZ   (Germany)

^b DRESDEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COBALT; ELECTRONIC STRUCTURE; EPITAXIAL GROWTH; MAGNETIC PROPERTIES; MAGNETRON SPUTTERING; OPTICAL PROPERTIES; SEMICONDUCTOR DOPING; THIN FILMS; ZINC OXIDE;

FERROMAGNETIC SIGNAL; LOW TEMPERATURE FERROMAGNETISM;

FERROMAGNETISM;

EID: 34247185288     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2713935     Document Type: Article

References (45)

1. H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
2. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
3. T. Dietl, H. Ohno, and F. Matsukura, Phys. Rev. B 63, 195205 (2001).
4. J. M. D. Coey, M. Venkatesan, and C. B. Fitzgerald, Nat. Mater. 4, 173 (2005).
5. K. Ueda, H. Tabata, and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 79, 988 (2001).
6. C. Song, K. W. Geng, F. Zeng, X. B. Wang, Y. X. Shen, and F. Pan, Phys. Rev. B 73, 024405 (2006).
7. M. Venkatesan, C. B. Fitzgerald, J. G. Lunney, and J. M. D. Coey, Phys. Rev. Lett. 93, 177206 (2004).
8. T. Fukumura, Z. Jin, M. Kawasaki, T. Shono, T. Hasegawa, S. Koshihara, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 958 (2001).
9. W. Jung, S.-J. An, G.-C. Yi, C. U. Jung, S.-I. Lee, and S. Cho, Appl. Phys. Lett. 80, 4561 (2002).
10. B. Martínez, F. Sandiumenge, L. Balcells, J. Arbiol, F. Sibieude, and C. Monty, Phys. Rev. B 72, 165202 (2005).
11. S. Yin et al., Phys. Rev. B 73, 224408 (2006).
12. G. Lawes, A. Risbud, A. P. Ramirez, and R. Seshadri, Phys. Rev. B 71, 045201 (2005).
13. J. H. Kim, H. Kim, D. Kim, Y. E. Ihm, and W. K. Choo, J. Appl. Phys. 92, 6066 (2002).
14. S. C. Wi et al., Appl. Phys. Lett. 84, 4233 (2004).
15. K. Sato and H. Katayama-Yoshida, Phys. Status Solidi B 229, 673 (2002).
16. H. Weng, X. Yang, J. Dong, H. Mizuseki, M. Kawasaki, and Y. Kawazoe, Phys. Rev. B 69, 125219 (2004).
17. J. E. Jaffe, T. C. Droubay, and S. A. Chambers, J. Appl. Phys. 97, 073908 (2005).
18. K. R. Kittilstved, W. K. Liu, and D. R. Gamelin, Nat. Mater. 5, 291 (2006).
19. K. R. Kittilstved, D. A. Schwaitz, A. C. Tuan, S. M. Heald, S. A. Chambers, and D. R. Gamelin, Phys. Rev. Lett. 97, 037203 (2006).
20. N. H. Hong, J. Sakai, N. T. Huong, N. Poirot, and A. Ruyter, Phys. Rev. B 72, 045336 (2005).
21. H. S. Hsu et al., Appl. Phys. Lett. 88, 242507 (2006).
22. H. Ohno, H. Munekata, T. Penney, S. von Molnár, and L. L. Chang, Phys. Rev. Lett. 68, 2664 (1992).
23. A. Kaminski and S. Das Sarma, Phys. Rev. Lett. 88, 247202 (2002).
24. P. A. Wolff, R. N. Bhatt, and A. C. Durst, J. Appl. Phys. 79, 5196 (1996).
25. J. H. Park, M. G. Kim, H. M. Jang, S. Ryu, and Y. M. Kim, Appl. Phys. Lett. 84, 1338 (2004).
26. D. C. Reynolds, D. C. Look, B. Jogai, and T. C. Collins, Appl. Phys. Lett. 79, 3794 (2001).
27. D. C. Reynolds, D. C. Look, B. Jogai, C. W. Litton, T. C. Collins, W. Harsch, and G. Cantwell, Phys. Rev. B 57, 12151 (1998).
28. S. A. Studenikin and M. Cocivera, J. Appl. Phys. 91, 5060 (2002).
29. P. S. Xu, Y. M. Sun, C. S. Shi, G. F. Q. Xu, and H. B. Pan, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 199, 286 (2003).
30. H. S. Kang, J. S. Kang, J. W. Kim, and S. Y. Lee, J. Appl. Phys. 95, 1246 (2004).
31. K. Vanheusden, C. H. Seager, W. L. Warren, D. R. Tallant, and J. A. Voigt, Appl. Phys. Lett. 68, 403 (1996).
32. P. Koidl, Phys. Rev. B 15, 2493 (1977).
33. A. Dinia, G. Schmerber, C. Mény, V. Pierron-Bohnes, and E. Beaurepaire, J. Appl. Phys. 97, 123908 (2005).
34. D. Mao-Lu and Z. Min-Guang, J. Phys. C 21, 1561 (1988).
35. Optical Processes of Semiconductors, edited by J. I. Pankove (Prentice-Hall, Engelwood Cliffs, NJ, 1971).
36. K. J. Kim and Y. R. Park, Appl. Phys. Lett. 81, 1420 (2002).
37. K. Samanta, P. Bhattacharya, and R. S. Katiyar, Appl. Phys. Lett. 87, 101903 (2005).
38. M. Kobayashi et al., Phys. Rev. B 72, 201201(R) (2005).
39. J. Okabayashi et al., J. Appl. Phys. 95, 3573 (2004).
40. P. Gopal and N. A. Spaldin, Phys. Rev. B 74, 094418 (2006).
41. C. McGuinness, C. B. Stagarescu, P. J. Ryan, J. E. Downes, D. Fu, K. E. Smith, and R. G. Egdell, Phys. Rev. B 68, 165104 (2003).
42. S. Krishnamurthy et al., J. Appl. Phys. 99, 08M111 (2006).
43. J. W. Chiou et al., Appl. Phys. Lett. 89, 043121 (2006).
44. J. W. Chiou et al., Appl. Phys. Lett. 85, 3220 (2004).
45. J.-H. Guo, L. Vayssieres, C. Persson, R. Ahuja, B. Johansson, and J. Nordgren, J. Phys.: Condens. Matter 14, 6969 (2002).