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Silveira, E.T.1
Umpierre, A.P.2
Rossi, L.M.3
Machado, G.4
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Soares, G.V.6
Baumvol, I.L.R.7
Teixeira, S.R.8
Fichtner, P.F.P.9
Dupont, J.10
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Gelesky, M.A.1
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Machado, G.3
Correia, R.R.B.4
Magno, W.C.5
Morais, J.6
Ebeling, G.7
Dupont, J.8
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16
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14944367494
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Cassol, C.C.1
Umpierre, A.P.2
Machado, G.3
Wolke, S.I.4
Dupont, J.5
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0038298336
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, vol.110
, pp. 13011
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Scheeren, C.W.1
Machado, G.2
Teixeira, S.R.3
Morais, J.4
Domingos, J.B.5
Dupont, J.6
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22
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15944398257
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Consorti, C.S.1
Suarez, P.A.Z.2
de Souza, R.F.3
Burrow, R.A.4
Farrar, D.H.5
Lough, A.J.6
Loh, W.7
da Silva, L.H.M.8
Dupont, J.9
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9644257441
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Gozzo, F.C.1
Santos, L.S.2
Augusti, R.3
Consorti, C.S.4
Dupont, J.5
Eberlin, M.N.6
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33751009669
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Neto, B.A.D.1
Santos, L.S.2
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Fonseca, G.S.1
Machado, G.2
Teixeira, S.R.3
Fecher, G.H.4
Morais, J.5
Alves, M.C.M.6
Dupont, J.7
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28
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34247159239
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JCPDS-ICDD 2000-International Centre for Diffraction Data, 12 Campus Boulevard, Newtown Square, PA, USA, 2000.
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