Nanofabrication of double-gyroid thin films

Chemistry of Materials

Volumn 19, Issue 4, 2007, Pages 768-777

  Urade, Vikrant N ^a   Wei, Ta Chen ^a   Tate, Michael P ^a   Kowalski, Jonathan D ^a   Hillhouse, Hugh W ^a  

^a PURDUE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DOUBLE GYROID THIN FILMS; NANOPOROUS SILICA FILMS; UNIAXIAL CONTRACTION; WIRE THICKNESSES;

EVAPORATION; NANOSTRUCTURED MATERIALS; POROUS SILICON; SURFACE ACTIVE AGENTS; SYNTHESIS (CHEMICAL); TRANSPORT PROPERTIES;

THIN FILMS;

EID: 33947183858     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm062136n     Document Type: Article

References (62)

1. Park, M.; Harrison, C.; Chaikin, P. M.; Register. R. A.; Adamson, D. H. Science 1997, 276 (5317), 1401-1404.
2. Lopes, W. A.; Jaeger, H. M. Nature 2001, 414 (6865), 735-738.
3. Masuda, H.; Fukuda, K. Science 1995, 268 (5216), 1466-1468.
4. Thurn-Albrecht, T.; Steiner, R.; DeRouchey, J.; Stafford, C. M.; Huang, E.; Bal, M.; Tuominen, M.; Hawker, C. J.; Russell, T. Adv. Mater. 2000, 12 (11), 787-791.
5. Thurn-Albrecht, T.; Schotter, J.; Kastle, C. A.; Emley, N.; Shibauchi, T.; Krusin-Elbaum, L.; Guarini, K.; Black, C. T.; Tuominen, M. T.; Russell, T. P. Science 2000, 290 (5499), 2126-2129.
6. Beck, J. S.; Vartuli, J. C.; Roth, W. J.; Leonowicz, M. E.; Kresge, C. T.; Schmitt, K. D.; Chu, C. T. W.; Olson, D. H.; Sheppard, E. W.; McCullen, S. B.; Higgins, J. B.; Schlenker, J. L. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114 (27), 10834-10843.
7. Kresge, C. T.; Leonowicz, M. E.; Roth, W. J.; Vartuli, J. C.; Beck, J. S. Nature 1992, 359 (6397), 710-712.
8. Huo, Q. S.; Margolese, D. I.; Stucky, G. D. Chem. Mater. 1996, 8 (5), 1147-1160.
9. Zhao, D. Y.; Huo, Q. S.; Feng, J. L.; Chmelka, B. F.; Stucky, G. D. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120 (24), 6024-6036.
10. Miyata, H.; Suzuki, T.; Fukuoka, A.; Sawada, T.; Watanabe, M.; Noma, T.; Takada, K.; Mukaide, T.; Kuroda, K. Nat. Mater. 2004, 3 (9), 651-656.
11. Grosso, D.; Boissiere, C.; Smarsly, B.; Brezesinski, T.; Pinna, N.; Albouy, P. A.; Amenitsch, H.; Antonietti, M.; Sanchez, C. Nat. Mater. 2004, 3 (11), 787-792.
12. Angelome, P. C.; Aldabe-Bilmes, S.; Calvo, M. E.; Crepaldi, E. L.; Grosso, D.; Sanchez, C.; Soler-Illia, G. New J. Chem. 2005, 29 (1), 59-63.
13. 2 with crystalline pore walls using novel block copolymer templates. In Nanoporous Materials IV; Proceedings of the 4th International Symposium on Nanoporous Materials, Niagra Falls, ON, June 7-10, 2005; Sayari, A., Jaroniec, M., Eds.; Elsevier: Amsterdam, 2005; Vol. 156, pp 243-248.
14. Brezesinski, T.; Smarsly, B.; Iimura, K.; Grosso, D.; Boissiere, C.; Amenitsch, H.; Antonietti, M.; Sanchez, C. Small 2005, 1 (8-9), 889-898.
15. de Zarate, D. O.; Boissiere, C.; Grosso, D.; Albouy, P. A.; Amenitsch, H.; Amoros, P.; Sanchez, C. New J. Chem. 2005, 29 (1), 141-144.
16. Kuemmel, M.; Grosso, D.; Boissiere, U.; Smarsly, B.; Brezesinski, T.; Albouy, P. A.; Amenitsch, H.; Sanchez, C. Angew. Chem., Int. Ed. 2005, 44 (29), 4589-4592.
17. Shi, K. Y.; Peng, L. M.; Chen, Q.; Wang, R. H.; Zhou, W. Z. Microporous Mesoporous Mater. 2005, 83 (1-3), 219-224.
18. Ogawa, M. Chem. Commun. 1996, 1149-1150.
19. Ogawa, M.; Ishikawa, H.; Kikuchi, T. J. Mater. Chem. 1998, 8 (8), 1783-1786.
20. Brinker, C. J.; Lu, Y. F.; Sellinger, A.; Fan, H. Y. Adv. Mater. 1999, 11 (7), 579.
21. Schoen, A. H. Infinite Periodic Minimal Surfaces without Self-Intersections; NASA Technical Note #D5541; NASA: Washington, D.C., 1970.
22. Garstecki, P.; Holyst, R. Macromolecules 2003, 36 (24), 9181-9190.
23. Luzzati, V.; Spegt, P. A. Nature 1967, 215 (5102), 701-704.
24. Luzzati, V.; Tardieu, A.; Gulik-Krzywicki, T.; Rivas, E.; Reiss-Husson, F. Nature 1968, 220 (5166), 485-488.
25. Hyde, S. T.; Andersson, S.; Ericsson, B.; Larsson, K. Z. Kristallogr. 1984, 168 (1-4), 213-219.
26. Hajduk, D. A.; Harper, P. E.; Gruner, S. M.; Honeker, C. C.; Kim, G.; Thomas, E. L.; Fetters, L. J. Macromolecules 1994, 27 (15), 4063-4075.
27. Bates, F. S.; Fredrickson, G. H. Phys. Today 1999, 52 (2), 32-38.
28. Dair, B. J.; Honeker, C. C.; Alward, D. B.; Avgeropoulos, A.; Hadjichristidis, N.; Fetters, L. J.; Capel, M.; Thomas, E. L. Macromolecules 1999, 32 (24), 8145-8152.
29. Hamley, I. W.; Fairclough, J. P. A.; Ryan, A. J.; Mai, S. M.; Booth, C. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1 (9), 2097-2101.
30. Sakurai, S.; Isobe, D.; Okamoto, S.; Yao, T.; Nomura, S. Phys. Rev. E 2001, 63 (6).
31. Finnefrock, A. C.; Ulrich, R.; Toombes, G. E. S.; Gruner, S. M.; Wiesner, U. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125 (43), 13084-13093.
32. Kim, T. W.; Kleitz, F.; Paul, B.; Ryoo, R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127 (20), 7601-7610.
33. Chan, V. Z. H.; Huffman, J.; Lee, V. Y.; Iatrou, H.; Avgeropoulos, A.; Hadjichristidis, N.; Miller, R. D.; Thomas, E. L. Science 1999, 286 (5445), 1716-1719.
34. Hayward, R. C.; Alberius, P. C. A.; Kramer, E. J.; Chmelka, B. F. Langmuir 2004, 20 (14), 5998-6004.
35. Cagnol, F.; Grosso, D.; Soler-Illia, G.; Crepaldi, E. L.; Babonneau, F.; Amenitsch, H.; Sanchez, C. J. Mater. Chem. 2003, 13 (1), 61-66.
36. Eggiman, B. W.; Tate, M. P.; Hillhouse, H. W. Chem. Mater. 2006, 18 (3), 723-730.
37. Tate, M. P.; Urade, V. N.; Kowalski, J. D.; Wei, T. C.; Hamilton, B. D.; Eggiman, B. W.; Hillhouse, H. W. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (20), 9882-9892.
38. Klotz, M.; Ayral, A.; Guizard, C.; Cot, L. J. Mater. Chem. 2000, 10 (3), 663-669.
39. Grosso, D.; Babonneau, F.; Albouy, P. A.; Amenitsch, H.; Balkenende, A. R.; Brunet-Bruneau, A.; Rivory, J. Chem. Mater. 2002, 14 (2), 931-939.
40. Grosso, D.; Cagnol, F.; Soler-Illia, G.; Crepaldi, E. L.; Amenitsch, H.; Brunet-Bruneau, A.; Bourgeois, A.; Sanchez, C. Adv. Funct. Mater. 2004, 14 (4), 309-322.
41. Wohlgemuth, M.; Yufa, N.; Hoffman, J.; Thomas, L. E. Macromolecules 2001, 34, 6083-6089.
42. Sakamoto, Y.; Kim, T. W.; Ryoo, R.; Terasaki, O. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43 (39), 5231-5234.
43. Song, C. J.; Villemure, G. Microporous Mesoporous Mater. 2001, 44, 679-689.
44. Liu, N. G.; Dunphy, D. R.; Atanassov, P.; Bunge, S. D.; Chen, Z.; Lopez, G. P.; Boyle, T. J.; Brinker, C. J. Nano Lett. 2004, 4 (4), 551-554.
45. Etienne, M.; Walcarius, A. Electrochem. Commun. 2005, 7(12), 1449-1456.
46. Rohlfing, D. F.; Rathousky, J.; Rohlfing, Y.; Bartels, O.; Wark, M. Langmuir 2005, 21 (24), 11320-11329.
47. Amatore, C.; Saveant, J. M; Tessier, D. J. Electroanal. Chem. 1983, 147 (1-2), 39-51.
48. Sabatani, E.; Cohenboulakia, J.; Bruening, M.; Rubinstein, I. Langmuir 1993, 9(11), 2974-2981.
49. Janek, R. P.; Fawcett, W. R.; Ulman, A. Langmuir 1998, 14 (11), 3011-3018.
50. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods: Fundamentals and Applications; Wiley: New York, 2001.
51. Macdonald, J. R.; Barsoukov, E. Impedance Spectroscopy: Theory, Experiment, and Applications; Wiley-Interscience: Hoboken, NJ, 2005.
52. Tate, M. P.; Eggiman, B. W.; Kowalski, J. D.; Hillhouse, H. W. Langmuir 2005, 21 (22), 10112-10118.
53. Sakamoto, Y.; Kaneda, M.; Terasaki, O.; Zhao, D. Y.; Kim, J. M.; Stucky, G.; Shim, H. J.; Ryoo, R. Nature 2000, 408 (6811), 449-453.
54. Kleitz, F.; Liu, D. N.; Anilkumar, G. M.; Park, I. S.; Solovyov, L. A.; Shmakov, A. N.; Ryoo, R. J. Phys. Chem. B 2003, 107 (51), 14296-14300.
55. Wang, D. H.; Zhou, W. L.; McCaughy, B. F.; Hampsey, J. E.; Ji, X. L.; Jiang, Y. B.; Xu, H. F.; Tang, J. K.; Schmehl, R. H.; O'Connor, C.; Brinker, C. J.; Lu, Y. F. Adv. Mater. 2003, 15 (2), 130-133.
56. Wang, D. H.; Luo, H. M.; Kou, R.; Gil, M. P.; Xiao, S. G.; Golub, V. O.; Yang, Z. Z.; Brinker, C. J.; Lu, Y. F. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43 (45), 6169-6173.
57. Gu, J. L.; Shi, J. L.; Chen, H. R.; Xiong, L. M.; Shen, W. H.; Ruan, M. L. Chem. Lett. 2004, 33 (7), 828-829.
58. Luo, H. M.; Wang, D. H.; He, J. B.; Lu, Y. F. J. Phys. Chem. B 2005, 109 (5), 1919-1922.
59. Wang, D. H.; Kou, R.; Gil, M. P.; Jakobson, H. P.; Tang, J.; Yu, D. H.; Lu, Y. F. J. Nanosci. Nanotechnol 2005, 5 (11), 1904-1909.
60. Kaneda, M.; Tsubakiyama, T.; Carlsson, A.; Sakamoto, Y.; Ohsuna, T.; Terasaki, O.; Joo, S. H.; Ryoo, R. J. Phys. Chem. B 2002, 106 (6), 1256-1266.
61. Imperor-Clerc, M.; Davidson, P.; Davidson, A. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122 (48), 11925-11933.
62. Ryoo, R.; Ko, C. H.; Kruk, M.; Antochshuk, V.; Jaroniec, M. J. Phys. Chem. B 2000, 104 (48), 11465-11471.