Local observation of ferroelectric Bi3.25la 0.75Ti3O12 thin films by atomic force microscopy

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 49, Issue SUPPL. 2, 2006, Pages

  Kim, T Y ^a   Lee, J H ^a   Oh, Y J ^a   Choi, M R ^a   Yoon, H R ^a   Jo, W ^a   Nam, H J ^b  

^a Ewha Womans University   (South Korea)

^b LG Electronics Inc   (South Korea)

Author keywords

(Bi,La)4Ti3O12; Annealing temperature; Atomic force microscopy; Domain; Ferroelectric; Sol gel

Indexed keywords

EID: 33846336486     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper

References (12)

1. B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee and W. Jo, Nature (London) 401, 682 (2002).
2. J.-G. Yoon, D. J. Kim, Y. W. So, J. Jo, T. W. Noh, T. K. Song, K. H. Noh, S.-S. Lee, S.-H. Oh, S.-K. Hong and Y.-J. Park, J. Korean Phys. Soc. 46, 19 (2005).
3. E. Ko, J. Pak, K. Nam and G. Park, J. Korean Phys. Soc. 46, 269 (2005).
4. H.-J. Chang, K.-M. Suh, J.-H. Park, S.-C. Gong, S.-I. Shim, Y.-T. Kim, C.-S. Son and M. Ishida, J. Korean Phys. Soc. 45, 886 (2004).
5. W. Jo, D. C. Kim and J. W. Hong, Appl. Phys. Lett. 76, 390 (2000).
6. J. W. Hong, W. Jo, D. C. Kim, S. M. Cho, H. J. Nam, H. M. Lee and J. U. Bu, Appl. Phys. Lett. 75, 3183 (1999).
7. B. Yang, N. J. Park, B. I. Seo, Y. H. Oh, S. K. Kim, S. K. Hong, S. S. Lee and Y. J. Park, Appl. Phys. Lett. 87, 062902 (2005).
8. J. W. Hong, S. I. Park and Z. G. Khim, Rev. Sci. Instrum. 70, 1735 (1999).
9. A. Gruverman, A. Kholkin, A. Kingon and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett. 78, 2751 (2001).
10. J. Lee, R. Ramesh, V. G. Keramidas, W. L. Warren, G. E. Pike and J. T. Evans, Jr., Appl. Phys. Lett. 66, 1337 (1995).
11. B. H. Park, S. J. Hyun, C. R. Moon, B. D. Choe, J. Lee, C. Y. Kim, W. Jo and T. W. Noh, J. Appl. Phys. 84, 4428 (1998).
12. W. L. Warren, D. Dimos, G. E. Pike, B. A. Tuttle, M. V. Raymond, R. Ramesh and J. T. Evans, Jr., Appl. Phys. Lett. 67, 866 (1995).