Photoluminescence of surface InAs quantum dot stacking on multilayer buried quantum dots

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 24, 2006, Pages

  Liang, B L ^a   Wang, Zh M ^a   Mazur, Yu I ^a   Salamo, G J ^a  

^a UNIVERSITY OF ARKANSAS   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

HETEROJUNCTIONS; MEASUREMENT THEORY; MULTILAYERS; PHOTOLUMINESCENCE; SEMICONDUCTING INDIUM COMPOUNDS; SENSORS;

EXCITATION INTENSITY DEPENDENCES; MULTILAYER BURIED QUANTUM DOTS; SENSOR DEVICES;

SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS;

EID: 33845803210     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2408653     Document Type: Article

References (25)

1. D. Bimberg, M. Grundmann, and N. N. Ledentsov, Quantum Dot Heterostructures (Wiley, New York, 1998), p. 4.
2. M. Bayer, P. Hawrylak, K. Hinzer, S. Fafard, M. Korkusinski, Z. R. Wasilewski, O. Stern, and A. Forchel, Science 291, 451 (2001).
3. S. S. Li, J. B. Xia, J. L. Liu, F. H. Yang, Z. C. Niu, S. L. Feng, and H. Z. Zheng, J. Appl. Phys. 90, 6151 (2001).
4. N. T. Yeh, T. E. Nee, J. I. Chyi, T. M. Hsu, and C. C. Huang, Appl. Phys. Lett. 76, 1567 (2000).
5. F. Ferdos, S. M. Wang, Y. Q. Wei, A. Larsson, M. Sadeghi, and Q. X. Zhao, Appl. Phys. Lett. 81, 1195 (2002).
6. Y. Nabetani, T. Matsumoto, G. Sasikala, and I. Suemune, J. Appl. Phys. 98, 063502, (2005).
7. K. Adlkofer, E. F. Duijs, F. Findeis, M. Bichler, A. Zrenner, E. Sackmann, G. Abstreiter, and M. Tanaka, Phys. Chem. Chem. Phys. 4, 785 (2002).
8. H. Saito, K. Nishi, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 2742 (1998).
9. J. Z. Wang, Z. Yang, C. L. Yang, and Z. G. Wang, Appl. Phys. Lett. 77, 2837 (2000).
10. Z. F. Wei, S. J. Xu, R. F. Duan, Q. Li, J. Wang, Y. P. Zheng, and H. C. Liu, J. Appl. Phys. 98, 084305 (2005).
11. Z. L. Miao, Y. W. Zhang, S. J. Chua, Y. H. Chy, P. Chen, and S. Tripathy, Appl. Phys. Lett. 86, 031914 (2005).
12. C. Y. Zhang, H. C. Yeh, M. T. Kuroki, and T. H. Wang, Nat. Mater. 4, 826 (2005).
13. E. F. Duijs, F. Findeis, R. A. Deutschmann, M. Bichler, A. Zrenner, G. Abstreiter, K. Adlkofer, M. Tanaka, and E. Sackmann, Phys. Status Solidi B 224, 871 (2001).
14. W. Cai, D. W. Shin, K. Chen, O. Gheysens, Q. Z. Cao, S. X. Wang, S. S. Gambhir, and X. Y. Chen, Nano Lett. 6, 669 (2006).
15. B. L. Liang, Zh. M. Wang, Yu. I. Mazur, G. J. Salamo, E. A. Decuir, Jr., and M. O. Manasreh, Appl. Phys. Lett. 89, 043125 (2006).
16. P. Hove, B. Abbey, E. C. Le Ru, R. Murray, and T. S. Jones, Thin Solid Films 464-465, 225 (2004).
17. S. Kiravittaya, R. Songmuang, A. Rastelli, H. Heidemeyer, and O. G. Schmidt, Nanoscale Research Letters, 1, 1 (2006).
18. P. Bhattacharya, S. Ghosh, and A. D. Stiff-Roberts, Annu. Rev. Mater. Res. 34, 1 (2004).
19. R. Heitz, I. Mukhametzhanov, P. Chen, and A. Madhukar, Phys. Rev. B 58, R10151 (1998).
20. Yu. I. Mazur, Z. M. Wang, G. G. Tarasov, M. Xiao, G. J. Salamo, J. W. Tomm, V. Talalaev, and H. Kissel, Appl. Phys. Lett. 86, 063102 (2005).
21. V. Talalaev, J. Tomm, N. Zakharov, P. Werner, B. Novikov, and A. Tonkikh, Appl. Phys. Lett. 85, 284 (2004).
22. S. S. Li and J. B. Xia, Phys. Rev. B 55, 15434 (1997).
23. P. Howe, E. C. Le Ru, E. Clarke, B. Abbey, R. Murray, and T. S. Jones, J. Appl. Phys. 95, 2998 (2004).
24. I. Mukhametzhanov, R. Heitz, J. Zeng, P. Chen, and A. Madhukar, Appl. Phys. Lett. 73, 1841 (1998).
25. S. S. Li, J. B. Xia, Z. L. Yuan, and Z. Y. Xu, Phys. Rev. B 54, 11575 (1996).