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Volumn 55, Issue 2, 2007, Pages 635-646

Nanoscratching of nylon 66-based ternary nanocomposites

Author keywords

AFM; Exfoliation; Nanocomposite; Nanoscratch; Nylon

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; DEFORMATION; MICROSTRUCTURE; NANOSTRUCTURED MATERIALS; TERNARY SYSTEMS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 33845401782     PISSN: 13596454     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.actamat.2006.08.056     Document Type: Article
Times cited : (43)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.