Tailoring chemical hardness in WOx-ZrO2 system

Chemistry of Materials

Volumn 18, Issue 23, 2006, Pages 5446-5452

  Iribarren, A ^a   Rodriguez Gattorno G ^b   Ascencio, J A ^c   Medina, A ^d   Torres Garcia E ^c  

^a UNIVERSITY OF HAVANA   (Cuba)

^b DEPARTAMENTO DE FÍSICA APLICADA   (Mexico)

^c INSTITUTO MEXICANO DEL PETRÓLEO   (Mexico)

^d UNIVERSIDAD MICHOACANA DE SAN NICOLÁS DE HIDALGO   (Mexico)

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HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY; LIGHT ABSORPTION; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OPTICAL PROPERTIES; RAMAN SPECTROSCOPY; REFLECTION; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

CHEMICAL HARDNESS; DIFFUSE REFLECTANCE SPECTROSCOPY; IRREGULAR THIN COATING; NANOMETRIC SYSTEMS;

ZIRCONIUM COMPOUNDS;

EID: 33845247320     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm061251v     Document Type: Article

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