Field emission current saturation of aligned carbon nanotube-Effect of density and aspect ratio

Journal of Applied Physics

Volumn 100, Issue 2, 2006, Pages

  Patra, S K ^a   Rao, G Mohan ^a  

^a INDIAN INSTITUTE OF SCIENCE   (India)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ASPECT RATIO; DENSITY (OPTICAL); LIGHT EMISSION; THIN FILMS;

EMISSION CURRENTS; FIELD EMISSION (FE); FOWLER-NORDHEIM (F-N) PLOT; WORK FUNCTION;

CARBON NANOTUBES;

EID: 33746905152     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2219082     Document Type: Article

References (35)

1. W. A. de Heer, A. Châtelain, and D. Ugaite, Science 270, 1179 (1995).
2. J.-M. Bonard, J.-P. Salvetat, T. Stöckli, W. A. de Heer, L. Forró, and A.Châtelain, Appl. Phys. Lett. 73, 918 (1998).
3. Y. Saito, K. Hamaguchi, R. Mizushima, S. Uemura, T. Nagasako, J. Yotani, and T. Shimojo, Appl. Surf. Sci. 146, 305 (1999).
4. M. Mauger, V. T. Binh, A. Levesque, and D. Guillot, Appl. Phys. Lett. 85,305 (2004).
5. A. Buldum and J. P. Lu, Phys. Rev. Lett. 91, 236801 (2003).
6. L. A. Chernozatonskii, Y. V. Gulyaev, Z. J. Kosakovskaja, N. I. Sinitsyn,G. V. Torgashov, Y. F. Zakharchenko, E. A. Fedorov, and V. P. Val'chuk,Chem. Phys. Lett. 233, 63 (1995).
7. R. H. Fowler and L. W. Nordheim, Proc. R. Soc. London, Ser. A 119, 173 (1928).
8. G. Zhang, X. Jiang, and E. Wang, Appl. Phys. Lett. 84, 2646 (2004).
9. J.-M. Bonard, T. Stöckli, O. Noury, and A. Châtelain, Appl. Phys. Lett. 78, 2775 (2001).
10. Y. Saito and S. Uemura, Carbon 38, 169 (2000).
11. J. Peng, Z. Li, C. He, S. Deng, N. Xu, X. Zheng, and G. Chen, Phys. Rev. B 72, 235106 (2005).
12. C. Kim, B. Kim. S. M. Lee, C. Jo, and Y. H. Lee, Phys. Rev. B 65, 165418 (2002).
13. J. Cumings, A. Zettl, M. R. McCartney, and J. C. H. Spence, Phys. Rev. Lett. 88, 056804 (2002).
14. D. J. Carroll, P. Redlich, P. M. Ajayan, J. C. Charlier, X. Blase, A. D. Vita, and R. Car, Phys. Rev. Lett. 78, 2811 (1997).
15. S. Han and J. Ihm, Phys. Rev. B 66, 241402(R) (2002).
16. H. Tanaka, S. Akita, L. Pan, and Y. Nakayama, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 43, L427 (2004).
17. M. J. Fransen, T. L. v. Rooy, and P. Kruit, Appl. Surf. Sci. 146, 312 (1999).
18. G. Zhou, J. Wu, W. Duan, and B. Gu, Phys. Rev. B 70, 035405 (2004).
19. S. Gupta, Y. Y. Wang, J. M. Garguilo, and R. J. Nemanich, Appl. Phys. Lett. 86, 063109 (2005).
20. C. M. Tan, J. Jia, and W. Yu, Appl. Phys. Lett. 86, 263104 (2005).
21. N. I. Sinitsyn et al, Appl. Surf. Sci. 111, 145 (1997).
22. J.-T. Lue, S.-Y. Chen, C.-L. Chen, and M.-C. Lin, J. Non-Cryst. Solids 265, 230 (2000).
23. M. Sveningsson, R. E. Morjan, O. Nerushev, and E. E. B. Campbell, Carbon 42, 1165(2004).
24. T. Kuzumaki, Y. Takamura, H. Ichinose, and Y. Horiike, Appl. Phys. Lett. 78, 3699 (2001).
25. S. T. Purcell, P. Vincent, C. Journet, and V. T. Binh, Phys. Rev. Lett. 88, 105502 (2002).
26. J.-M. Bonard, H. Kind, T. Stöckli, and L.-O. Nilsson, Solid-State Electron. 45, 893 (2001).
27. L. Nilsson et al., Appl. Phys. Lett. 76, 2071 (2000).
28. S. K. Patra and G. M. Rao, Appl. Phys. A 80, 1113 (2005).
29. C. M. Hsu, C. H. Lin, H. L. Chang, and C. T. Kuo, Thin Solid Films 420, 225 (2002).
30. M. Chhowalla et al., J. Appl. Phys. 90, 5308 (2001).
31. K. A. Dean and B. R. Chalamala, Appl. Phys. Lett. 75, 3017 (1999).
32. H. Tanaka, S. Akita, L. Pan, and Y. Nakayama, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 43, 864 (2004).
33. T. Fujieda et al., Appl. Phys. Lett. 85, 5739 (2004).
34. F. H. Read and N. J. Bowring, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 519, 305 (2004).
35. M. Chhowalla, C. Ducati, N. L. Rupesinghe, K. B. K. Teo, and G. A. J. Amaratunga, Appl. Phys. Lett. 79, 2079 (2001).