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Volumn 88, Issue 23, 2006, Pages

Mapping thermal conductivity using bimetallic atomic force microscopy probes

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SILICON CANTILEVER; TOPOGRAPHIC DISTORTION;

EID: 33745021837     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2210973     Document Type: Article
Times cited : (8)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.