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Volumn 38, Issue 4, 2006, Pages 672-675

Theoretical determination of the surface excitation parameter from X-ray photoelectron spectroscopy

Author keywords

Al; SEP; Si; Surface excitation; Surface plasmon; XPS

Indexed keywords

ALUMINUM; DIELECTRIC PROPERTIES; PARAMETER ESTIMATION; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SILICON; SPECTRUM ANALYSIS; SURFACE PLASMON RESONANCE; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 33646583868     PISSN: 01422421     EISSN: 10969918     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/sia.2173     Document Type: Conference Paper
Times cited : (8)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.