-
2
-
-
0000965498
-
-
US Pat. 4, 694,109, 1987 (to Eastman Kodak)
-
T. J. Devon G. W. Phillips T. A. Puckette J. L. Stavinoha J. J. Vanderbilt US Pat. 4, 694,109, 1987 (to Eastman Kodak) Chem. Abstr. 1988 108 7890
-
(1988)
Chem. Abstr.
, vol.108
, pp. 7890
-
-
Devon, T.J.1
Phillips, G.W.2
Puckette, T.A.3
Stavinoha, J.L.4
Vanderbilt, J.J.5
-
5
-
-
0033517803
-
-
A. J. Sandee L. A. van der Veen J. N. H. Reek P. C. J. Kamer M. Lutz A. L. Spek P. W. N. M. van Leeuwen Angew. Chem., Int. Ed. 1999 38 3231
-
(1999)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.38
, pp. 3231
-
-
Sandee, A.J.1
Van Der Veen, L.A.2
Reek, J.N.H.3
Kamer, P.C.J.4
Lutz, M.5
Spek, A.L.6
Van Leeuwen, P.W.N.M.7
-
6
-
-
9744258054
-
-
A. Pintado-Alba H. De la Riva M. Nieuwhuyzen D. Bautista P. R. Raithby H. A. Sparkes S. J. Teat J. M. Lopez-de-Luzuriaga M. C. Lagunas Dalton Trans. 2004 3459
-
(2004)
Dalton Trans.
, pp. 3459
-
-
Pintado-Alba, A.1
De La Riva, H.2
Nieuwhuyzen, M.3
Bautista, D.4
Raithby, P.R.5
Sparkes, H.A.6
Teat, S.J.7
Lopez-De-Luzuriaga, J.M.8
Lagunas, M.C.9
-
10
-
-
0037451440
-
-
Z. Freixa M. S. Beentjes G. D. Batema C. B. Dieleman G. P. F. van Strijdonck J. N. H. Reek P. C. J. Kamer J. Fraanje K. Goubitz P. W. N. M. van Leeuwen Angew. Chem., Int. Ed. 2003 42 1284
-
(2003)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.42
, pp. 1284
-
-
Freixa, Z.1
Beentjes, M.S.2
Batema, G.D.3
Dieleman, C.B.4
Van Strijdonck, G.P.F.5
Reek, J.N.H.6
Kamer, P.C.J.7
Fraanje, J.8
Goubitz, K.9
Van Leeuwen, P.W.N.M.10
-
12
-
-
19944429731
-
-
R. C. Smith C. R. Bodner M. J. Earl N. C. Sears N. E. Hill L. M. Bishop N. Sizemore D. T. Hehemann J. J. Bohn J. D. Protasievich J. Organomet. Chem. 2005 690 477
-
(2005)
J. Organomet. Chem.
, vol.690
, pp. 477
-
-
Smith, R.C.1
Bodner, C.R.2
Earl, M.J.3
Sears, N.C.4
Hill, N.E.5
Bishop, L.M.6
Sizemore, N.7
Hehemann, D.T.8
Bohn, J.J.9
Protasievich, J.D.10
-
22
-
-
0038613013
-
-
P. W. N. M. Van Leeuwen M. A. Zuideveld B. H. G. Swennenhuis Z. Freixa K. Goubitz J. Fraanje M. Lutz A. L. Spek J. Am. Chem. Soc. 2003 125 5523
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 5523
-
-
Van Leeuwen, P.W.N.M.1
Zuideveld, M.A.2
Swennenhuis, B.H.G.3
Freixa, Z.4
Goubitz, K.5
Fraanje, J.6
Lutz, M.7
Spek, A.L.8
-
23
-
-
0004150157
-
-
Bruker AXS, Inc., Madison, WI
-
G. M. Sheldrick, SHELXTL Crystallographic System Ver. 5.10, Bruker AXS, Inc., Madison, WI, 1998
-
(1998)
SHELXTL Crystallographic System Ver. 5.10
-
-
Sheldrick, G.M.1
-
26
-
-
10644254613
-
-
Planaria Software LLC, Seattle, WA.
-
ArgusLab 4.0. Mark A. Thompson. Planaria Software LLC, Seattle, WA. http://www.arguslab.com
-
ArgusLab 4.0. Mark A. Thompson.
-
-
-
27
-
-
15744375697
-
-
Gaussian, Inc., Wallingford CT
-
Gaussian 03, Revision C.02, M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, J. A. Montgomery, Jr., T. Vreven, K. N. Kudin, J. C. Burant, J. M. Millam, S. S. Iyengar, J. Tomasi, V. Barone, B. Mennucci, M. Cossi, G. Scalmani, N. Rega, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, M. Klene, X. Li, J. E. Knox, H. P. Hratchian, J. B. Cross, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, P. Y. Ayala, K. Morokuma, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, V. G. Zakrzewski, S. Dapprich, A. D. Daniels, M. C. Strain, O. Farkas, D. K. Malick, A. D. Rabuck, K. Raghavachari, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, Q. Cui, A. G. Baboul, S. Clifford, J. Cioslowski, B. B. Stefanov, G. Liu, A. Liashenko, P. Piskorz, I. Komaromi, R. L. Martin, D. J. Fox, T. Keith, M. A. Al-Laham, C. Y. Peng, A. Nanayakkara, M. Challacombe, P. M. W. Gill, B. Johnson, W. Chen, M. W. Wong, C. Gonzalez and J. A. Pople, Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2004
-
(2004)
Gaussian 03, Revision C.02
-
-
Frisch, M.J.1
Trucks, G.W.2
Schlegel, H.B.3
Scuseria, G.E.4
Robb, M.A.5
Cheeseman, J.R.6
Montgomery Jr., J.A.7
Vreven, T.8
Kudin, K.N.9
Burant, J.C.10
Millam, J.M.11
Iyengar, S.S.12
Tomasi, J.13
Barone, V.14
Mennucci, B.15
Cossi, M.16
Scalmani, G.17
Rega, N.18
Petersson, G.A.19
Nakatsuji, H.20
Hada, M.21
Ehara, M.22
Toyota, K.23
Fukuda, R.24
Hasegawa, J.25
Ishida, M.26
Nakajima, T.27
Honda, Y.28
Kitao, O.29
Nakai, H.30
Klene, M.31
Li, X.32
Knox, J.E.33
Hratchian, H.P.34
Cross, J.B.35
Adamo, C.36
Jaramillo, J.37
Gomperts, R.38
Stratmann, R.E.39
Yazyev, O.40
Austin, A.J.41
Cammi, R.42
Pomelli, C.43
Ochterski, J.W.44
Ayala, P.Y.45
Morokuma, K.46
Voth, G.A.47
Salvador, P.48
Dannenberg, J.J.49
Zakrzewski, V.G.50
Dapprich, S.51
Daniels, A.D.52
Strain, M.C.53
Farkas, O.54
Malick, D.K.55
Rabuck, A.D.56
Raghavachari, K.57
Foresman, J.B.58
Ortiz, J.V.59
Cui, Q.60
Baboul, A.G.61
Clifford, S.62
Cioslowski, J.63
Stefanov, B.B.64
Liu, G.65
Liashenko, A.66
Piskorz, P.67
Komaromi, I.68
Martin, R.L.69
Fox, D.J.70
Keith, T.71
Al-Laham, M.A.72
Peng, C.Y.73
Nanayakkara, A.74
Challacombe, M.75
Gill, P.M.W.76
Johnson, B.77
Chen, W.78
Wong, M.W.79
Gonzalez, C.80
Pople, J.A.81
more..
|